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《现代材料分析测试技术第10章扫描探针显微镜》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、扫描探针显微镜ScanningProbeMicroscopy,SPM孔毅2010年5月6日扫描探针显微镜•SPM:探测表面性质仪器的一个大家族•扫描隧道显微镜(STM)•原子力显微镜(AFM)•揭示表面形貌,也可以测量许多表面的其它性质Establishedtypesofscanningprobemicroscopy•AFM,atomicforcemicroscopy•BEEM,ballisticelectronemissionmicroscopy•EFM,electrostaticforcemicroscope•ESTMelectrochemicalscann
2、ingtunnelingmicroscope•FMM,forcemodulationmicroscopy•KPFM,kelvinprobeforcemicroscopy•MFM,magneticforcemicroscopy•MRFM,magneticresonanceforcemicroscopy•NSOM,near-fieldscanningopticalmicroscopy(orSNOM,scanningnear-fieldopticalmicroscopy)•PFM,PiezoForceMicroscopy•PSTM,photonscanningtunn
3、elingmicroscopy•PTMS,photothermalmicrospectroscopy/microscopy•SAP,scanningatomprobe[1]•SECM,scanningelectrochemicalmicroscopy•SCM,scanningcapacitancemicroscopy•SGM,scanninggatemicroscopy•SICM,scanningion-conductancemicroscopy•SPSMspinpolarizedscanningtunnelingmicroscopy•SThM,scanning
4、thermalmicroscopy[1]•STM,scanningtunnelingmicroscopy•SVM,scanningvoltagemicroscopy•SHPM,scanningHallprobemicroscopy.AFMandSTMarethemostcommonlyusedfollowedbyMFMandSNOM/NSOM扫描隧道显微镜(STM)ScanningTunnelingMicroscope19831983年,年,IBMIBM公司苏黎世实验室的两位科公司苏黎世实验室的两位科学家学家GerdGerdBinnigBinnig和和Heinr
5、ichRohrerHeinrichRohrer发明了发明了扫描隧道显微镜(扫描隧道显微镜(STMSTM))1986年诺贝尔物理学奖•TheRoyalSwedishAcademyofScienceshasdecidedtoawardthe1986NobelPrizeinPhysicsbyonehalftoProfessor.ErnstRuska,Fritz-Haber-InstitutderMax-Planck-Gesellschaft,Berlin,FederalRepublicofGermany,forhisfundamentalworkinelectrono
6、ptics,andforthedesignofthefirstelectronmicroscopeandtheotherhalf,jointlytoDrGerdBinnig(39岁)andDrHeinrichRohrer(53岁),IBMResearchLaboratory,Zurich,Switzerland,fortheirdesignofthescanningtunnellingmicroscope基本原理隧道效应透射系数T•隧道效应是由于粒子的波动性而引起的,只有在一定的条件下,隧道效应才会显著。经计算,透射系数T为:•由上式可见,T与势垒宽度a,能量差
7、(V0-E)以及粒子的质量m有着很敏感的关系。随着势垒厚(宽)度a的增加,T将指数衰减,因此在一般的宏观实验中,很难观察到粒子隧穿势垒的现象。隧道电流隧道结电流密度(对两平行金属)2e⎛k0⎞J=⋅⎜⎟⋅V⋅exp(−2ks)2T0h⎝4πs⎠s:有效隧道距离V:所加电压Tk:k=h2mφooφ:有效势垒高度φ=1/2(φ+φ)eV12对于真空是几个电子伏对氧化物小于1电子伏隧道电流•由隧道电流公式可知,隧道电流强度对针尖和样品之间的距离有着指数依赖关系,当距离减小0.1nm,隧道电流即增加约一个数量级。因此,根据隧道电流的变化,我们可以得到样品表面微小的高低起
8、伏变化的信息,如果同时对