资源描述：
《中国电子科技集团公司第十八研究所》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在教育资源-天天文库。
1、IEC61215介绍中国电子科技集团公司第十八研究所一、外观检查1.检验方法:目测2.检验环境:室内,照度不低予1000LX3.检验程序：对每一个组件仔细检查下列情况：1）开裂、弯曲、不规则或损伤的外表面；2）破碎的单体电池3）有裂纹的单体电池4）互联线或接头有毛病；5）电池互相接触或与边框相接触；6）密封材料失效；7）在组件的边框和电池之间形成连续通道的气泡或脱层；8）塑料材料表面有沾污物；9）引线端失效带电部件外露；10）可能影响组件性能的其他任何情况。4.技术要求:有下列之一者判为不合格,其他判合格1)
2、开裂、弯曲、不规整或损伤的外表面；2）某个电池的一条裂纹,其延伸可能导致组件减少该电池面积10%以上；3）在组件的边缘和任何一部分电路之间形成连续的气泡或脱层道通；丧失机械完整性,导致组件的安装和/或工作受影响。二、标准测试条件下电性能1.检验装置：在自然阳光下测量：太阳电池I-V特性测试装置模拟阳光测量,脉冲太阳模拟器2.技术要求标准条件：电池温度25℃±2℃;辐照度1000W•m-2光谱分布AM1.53.程序太阳电池I-V特性测试装置1)调整太阳跟踪器跟踪阳光2)将太阳电池组件放在跟踪器支架上,连好与可变
3、负载的接线3)打开太阳电池可变负载测试仪开关,根据组件情况,确定组件电流,组件电压,标准电池的量程,揿下按钮4)打开计算机,完成安装程序5)双击solar桌面,出现被测件登记表,填写后,按确定6)出现太阳电池I-V特性测试框图按工作模式中稳态测试,出现稳态测试工作台,按开始测试7)按可变负载测试仪复位后触发,出现测试曲线8)按设置档中曲线修正,可完成修正功能9)结束测试,存盘.三、绝缘试验1.检验装置：有限流装置的直流绝缘测试仪2.检验方法：在周围环境温度、相对湿度不超过75%的条件下，进行以下检验：1）将组
4、件引出线短路后接到直流绝缘测试仪的正极2）将组件暴露的金属部分接到直流绝缘测试仪的负极3）以不大于500v·s-1的速增加绝缘测试仪的电压,直到等于1000V加上两倍的系统最大电压,维持此电压1min,如果系统的最大电压不超过50V时，应以不大于500v·s-1的速增加直流绝缘测试仪的电压,直到等于500V,维持此电压1min；4）在不拆卸组件连接线的情况下，降低电压到零，将绝缘测试仪的正负极短路5min;5）拆去绝缘测试仪正负极的短路；6）按照步骤1）和2）的方式连线，对组件加一不小于500V的直流电压，测
5、量绝缘电阻。3.技术要求1）组件在检验步骤3）中,无绝缘击穿(小于50μA),或表面无破裂现象2）绝缘电阻不小于50ΜΩ。四、热班耐久试验1实验装置;1）辐射源1稳态太阳模拟器或自然阳光,辐照度不低于700W*m-2,不均匀度不超过±2%,瞬间稳定度在±5%以内。2）辐射源2，C类或更好的稳态太阳模拟器或自然阳光,辐照度为1000W*m-2±10%。3）组件I—V曲线测试仪4）对实验单片太阳电池被遮光的情况,光增强量为5%的一组不透明盖板.5）如果需要,加一个适用的温度探测器。2.实验方法所有实验应在环境温度
6、为25℃±5℃风速小于2m*S-1时进行,在组件实验前,应安装制造厂推荐的热斑保护装置.2.1对串联连接方式的组件的实验方法.2.1.1将不遮光的组件在不低于700W*m-2的辐射源1下照射,测试其I--V特性和最大功率时的电流值IMP。2.1.2使组件短路,用下列方法选择一片电池:1)组件在稳定的辐照度不小于700W*m-2的辐射源照射下,用适当的温度探测器测定最热的电池;2)在步骤2.1.1规定的辐照度下，依次完全挡住每一个电池，选择其中一个当它被挡住时，短路电流减小最大，在这一过程中,辐照度变化不超过±
7、5%.2.1.2将温度传感器接到温度监测仪，将组件的两个引线端接到连续性测试仪，将组件的一个引线端和框架连接到绝缘监测仪。2.1.3同样在步骤2.1.1所规定的辐照度(±3%内)下,完全挡住选定的电池,检查组件的ISC是否比步骤2.1.1所测定的IMP小。如果这种情况不发生,人们不能确定是否会在一个电池内产生最大消耗功率。此时继续完全挡住所选电池.省略步骤2.1.4。2.1.4逐渐减少对所选择电池的遮光面积,直到组件的ISC最接近IMP，此时在该电池内消耗的功率最大。2.1.5用辐射源2照射组件,记录Isc值
8、,保持组件在消耗功率最大的状态，必要时重新调整遮光,使Isc维持在特定值。2.1.6一小时后挡住组件不受辐射,并验证Isc不超过IMP的10%.2.1.730min后,恢复辐照度到1000W*m-2.2.1.8重复2.1.52.1.6.2.1.7五次2.2对串联并联连接方式的组件的试验方法。2.2.1将遮光的组件在不低于700W*m-2的辐照源1下照射，测试其特性，假定所有串联组件产生的电流相同，用
