电桥测量介损的原理

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1、电桥测量介损的原理----简述AI-6000介质损耗测量仪的原理和用法济南泛华佳业微电子技术有限公司一、变频测量的等效性1、介质的两种模型及与频率的关系含有介损的电容器都可以模拟成RC串联和并联两种理想模型进行分析:并联模型:认为损耗是与电容并连的电阻产生的。这种情况RC两端电压相等:有功功率,无功功率,因此其中ω=2πf,f为电源频率。可见,如果真正用一个纯电阻和一个纯电容模拟介损的话,它与频率成反比。当R=∞时,没有有功功率,介损为0。这种方法常用于试验室模拟10%以上的大介损,或用于制做标准介损器。串联模型:认为损耗是与电容串连的电阻产生的。这种情况电路的电流相等:有功

2、功率,无功功率,因此可见,如果用真正用一个纯电阻和一个纯电容模拟介损的话,它与频率成正比。当R=0时,没有有功功率,介损为0。这种方法常用于试验室模拟10%以下的介损,或用于制做标准介损器。实际试品:a、固定频率下测量 实际试品在一个固定频率下,即可以用串连模型也可以用并联模型表示。例如50Hz下,下面两个电路对外呈现的特性完全一样:不同的电桥测量这两个试品,其介损都是31.4%,但西林电桥(2801或QS1)测量的电容量是10000pF,电流比较仪电桥(如QS30)测量的电容量是9101.7pF。这是因为2801电桥认为试品损耗是串连模型,QS30认为试品是并联模型。通常认

3、为并联模型更接近实际情况,这是因为有功电流穿过电极之间的绝缘层,更象是损耗电阻并联在电极之间,而电极本身电阻为零,没有损耗。 实际上当介损在10%以下时,这种电容量的差别是很小的。 从事现场试验的专家都有这样的经验:使用传统仪器,如QS1,在干扰严重的现场环境下测量介损,采用移相、倒相方法反复测量,仍无法使电桥平衡。 随着电压等级提高,干扰越来越严重。这种情况下变频测量是一个很好的、甚至是唯一的选择。变频测量的抗干扰能力比移相、倒相法提高一个数量级以上。这好比两个电台在同一个频率上,很难将另一个信号抑制掉,但如果两个电台的频率不同,则很容易区分。变频测量变频测量受到的唯一怀疑

4、是频率的等效性。按串联或者并联模型,介损是随频率变化的。例如50Hz下1%的介损,采用55Hz测量。串联模型的测量结果变成1.1%(正比),并联模型测量结果变成0.91%(反比)。虽然这样的误差可能满足现场测量的要求,但误差还是偏大。为了解决这个问题,我们首先提出了双变频测量原理:在50Hz对称位置45Hz和55Hz各测量一次,然后将测量数据平均,使误差大大减小。理论分析结果如下表所示:直接平均法:当然如果试品介损不随频率变化,则这几种平均方法都没有误差。以上分析表明,采用双变频测量,即发挥了变频测量的高抗干扰能力,理论上的最大相对误差也小于1%,可以满足现场测量需要。实际测

5、量显示,变频测量的数据十分稳定,重复性特别好。试验室校验也显示了很好的精度指标。目前变频测量的原理已经得到普遍认可。2005年4月21日,我们在济南500kV变电站强干扰下测量断口电容(2400pF)和灭弧室(15pF),AI-6000读数十分稳定,而2816电桥只作出了电容量,因抗干扰不行,没有测到介损数据。估计原因是移相抗干扰能力不行,而AI-6000则采用变频抗干扰,其优势十分明显。二、AI-6000介损仪的原理及性能1、仪器工作原理简介AI-6000电桥都是通过电流来取信号,根据电流的幅度大小和相位变化,通过计算得出试品的电容量Cx和介损tgδ。I1=V1/R1I2=

6、V2/R2通过傅立叶变换到频域,求出I1与I2的相位差δ,tgδ即为介损。AI-6000电桥原理如左下图同时,I=ω*C*V,所以Cx*I1=Cn*I2.Cx=I2*Cn/I1电流电压矢量图仪器结构仪器结构框图测量电路:傅立叶变换、复数运算等全部计算和量程切换、变频电源控制等。控制面板:打印机、键盘、显示和通讯中转。变频电源:采用SPWM开关电路产生大功率正弦波稳压输出。升压变压器:将变频电源输出升压到测量电压,最大无功输出2kVA/1分钟。标准电容器:内Cn,测量基准。Cn电流检测:用于检测内/外标准电容器电流,10μA~5A。输入电阻<2Ω。Cx正接线电流检测:只用于正接

7、线测量,10μA~5A。输入电阻<2Ω。Cx反接线电流检测:只用于反接线测量,10μA~5A。输入电阻<2Ω。反接线数字隔离通讯:采用精密MPPM数字调制解调器,将反接线电流信号送到低压侧。隔离电压20kV。工作原理:启动测量后高压设定值送到变频电源,变频电源用PID算法将输出缓速调整到设定值,测量电路将实测高压送到变频电源,微调低压,实现准确高压输出。根据正/反接线和内/外标准电容的设置,测量电路根据试验电流自动选择输入并切换量程,测量电路采用傅立叶变换滤掉干扰,分离出信号基波,对标准电流和试品电流进

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