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时间:2019-05-16
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1、常用的抗扰度试验标准上海三基电子工业有限公司钱振宇(上海200063)摘要:详细地介绍了几种抗扰度试验的目的、方法、严酷度等级及要求。关键词:标准抗扰度试验StandardofJammingImmunityTestinCommonUseAbstract:Aims,mehtods,harshesslevelsandreguirementsofafewjammingimmunitytestsarepresented.Keywords:Standard,Jammingimmunitytest中图法分类号:TN97文献标识码:A文章编号:021922713(2000)09243520
2、8我国电磁兼容认证工作已经起动,第一批实施电磁兼容的产品类别及所含内容也已基本确定,它们是声音和电视广播接收机及有关设备,信息技术设备,家用和类似用途电动、电热器具,电动工具及类似电器、电源、照明电器、车辆机动船和火花点火发动机的驱动装置、金融及贸易结算电子设备、安防电子产品、声音和电视信号的电缆分配系统设备与部件,低压电器。尽管产品不同,引用的产品族测试标准也不同,但其中抗扰度的试验内容基本相同,它们是静电放电、射频辐射电磁场、脉冲群、浪涌、射频场引起的传导干扰和电压跌落等6项。为了帮助读者对这些标准的理解,作者试图从试验目的、仪器特性要求、基本配置情况、标准试验方法和对标
3、准的评述等方面入手,用比较简洁的文字介绍这些试验,以加深对标准的理解。1IEC61000-4-2(GB/T17626.2)静电放电抗干扰试验1.1静电放电的起因静电放电的起因有多种,但IEC61000-4-2(GB/T17626.2)主要描述在低湿度情况下,通过摩擦等因素,使人体积累了静电。当带有静电的人与设备接触时,就可能产生静电放电。1.2试验目的试验单个设备或系统的抗静电干扰的能力。它模拟:(1)操作人员或物体在接触设备时的放电。(2)人或物体对邻近物体的放电。静电放电可能产生的如下后果:(1)直接通过能量交换引起半导体器件的损坏。(2)放电所引起的电场与磁场变化,造成
4、设备的误动作。1.3静电放电的模拟图1和图2分别给出了静电放电发生器的基本线路和放电电流的波形。图1静电放电发生器图2静电放电的电流波形图1中高压真空继电器是目前唯一的能够产生重复与高速的放电波形的器件(放电开关)。图2是标准放电电流波形,图中Im表示电流峰值,上升时间tr=(0.7~1)ns。放电线路中的储能电容CS代表人体电容,现公认150pF比较合适。放电电阻Rd为330Ω,用以代表手握钥匙或其他金属工具的人体电阻。现已证明,用这种放电状态来体现人体放电的模型是足够严酷的。图3信号发生器的输出电压波形(a)未调制的射频信号UPP=2.8VUrms=1.0V(b)调制的射
5、频信号UPP=5.18VUrms=1.12V1.4放电方式直接放电(直接对设备的放电):接触放电为首选形式;只有在不能用接触放电的地方(如表面涂有绝缘层,计算机键盘缝隙等情况)才改用气隙放电。1.5试验方法有型式试验(在实验室进行)及安装现场试验两种,标准规定以前者为主。试验中一般以1次/秒的速率进行放电,以便让设备对试验未来得及响应。另外正式试验前要用20次/秒的放电速率,对被试设备表面很快扫视一遍,目的是找出设备对静电放电敏感的部位。试验电压要由低到高逐渐增加到规定值。1.6试验的严酷度等级该试验的严酷度等级见表1。表1严酷度等级等级接触放电(kV)气隙放电(kV)1级2
6、级3级4级246824815等级的选择取决于环境等因素,但对具体的产品来说,往往已在相应的产品或产品族标准中加以规定。1.7对试验的评述标准中接触放电之所以可以用比较低的试验电压来进行试验,是因为接触放电有着极其陡峭的上升时间,其谐波成分更丰富,对设备的考核也更严格。2IEC61000-4-3(GB/T17626.3)射频辐射电磁场的抗扰度试验2.1造成射频辐射的起因射频辐射电磁场对设备的干扰往往是由设备操作、维修和安全检查人员在使用移动电话时所产生的,其他如无线电台、电视发射台、移动无线电发射机和各种工业电磁辐射源(以上属有意发射),以及电焊机、晶闸管整流器、荧光灯工作时产
7、生的寄生辐射(以上属无意发射),也都会产生射频辐射干扰。2.2试验目的建立一个共同的标准来评价电气和电子设备的抗射频辐射电磁场干扰的能力。2.3试验的严酷度等级该试验的严酷度等级见表2。表2严酷度等级等级试验场强/V·m-1123X1310待定其中:1级为低辐射环境,如离电台、电视台1km以上,附近只有小功率移动电话在使用。2级为中等辐射环境,如在不近于1m处使用小功率移动电话,为典型的商业环境。3级为较严酷的辐射环境,如在1m左右的地方使用移动电话,或附近有大功率发射机在工作,为典型的工业环境。移动电
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