2、熔融温度对器件应力分布的影响极为突出#熔融温度变化%k可导致最大应力变化"$I#同截面的应力差值改变#$I#温度梯度变化"I可以导致锥区截面的应力差值改变@$I%并发现在目前的流变工艺条件下#光纤耦合器易产生耦合区析晶$锥区微裂纹等流变缺陷#目前的流变制造技术与设备难以实现器件的微观结构与折射率均匀分布%该研究为光纤耦合器流变制造工艺与设备的改进$优化提供了基础%关!键!词!光纤器件!熔融拉锥!粘弹流变力学中图分类号!JG!>#!!文献标识码!KR"/)&$/.5#"&#$0$1"&"##$&0)",)"’5’%$/.5C.&D(./0D,"3,’%,"
3、##’((D#"-0.3",/’D35",UGRK_);XT-#]RK8d);,-#NG&8MdT1!C*==)@)*!+)082$’02=2$,A=)0&-’02=A$@’$))-’$@#C)$&-2=?*(&84$’5)-%’&6#C82$@%82
4、(,:6)+O1.#[)(O[O)*O#(O1-TF10)*,6,-,6Y;+)+T-.10-2-;T-)Z20F(1F’10,(T01Z)16.[,+01,6)B1.7JO101+T6(++O2[(O,(0O12624)*,6’,0,F1(10++T*O,+.0,[)-4+’11.,-.ZT+1.(1F’10,(T01O,C1,(01F1-.2T+)-Z6T1-*12-+(01++.)+(0):T()2-,-.’10Z20F,-*12Z2’()*,6Z):10*2T’610#1+’1*),66Y(O1)-Z6T1-*12ZZT+1.(1F’10,(T0
5、17JO1*O,-412ZZT+1.(1F’10,(T01:Y%k*,-61,.(2(O1*O,-412ZF,g)FTF+(01++:Y"$I,-.+(01++.)ZZ101-*1:Y#$I)-(O1+,F1*02+++1*()2-7JO1*O,-412Z(1F’10,(T0140,.)1-(:Y"I*,-01+T6()-(O1*O,-412Z+(01++.)ZZ101-*1:Y@$I7R-.10(O1’01+1-(*2-.)()2-2Z0O12624)*,6(1*O-2624Y#(O12’()*,6Z):10*2T;’610)+’02-1(241-10
6、,()-40O12624)*,6.1Z1*(++T*O,+*0Y+(,66)B,()2-+,-.F)*02*0,*c7_()+.)ZZ)*T6((201,6)B1T-)Z20F.)+(0):T()2-2ZF)*02+(0T*(T01,-.01Z0,*()C1)-.1g[)(O(O1’01+1-(0O12624)*,6F,-T;!!收稿日期!#$$<;!!;!#"修订日期!#$$%;$!;#$7!!基金项目!国家重点自然科学基金资助项目!827%$#"%$<$"第!期!!!帅词俊(等!熔锥型光纤耦合器流变成形的工艺敏感性研究
7、24Y,-.1PT)’F1-(78"*9’,-#!Z):10*2T’610"ZT+1.:)*2-)*,6(,’10"C)+*216,+()*0O12624Y&T’+火焰温度等工艺参数%这里以拉锥速:!引!言度为例(实验测试其对器件性能的影响%其他工艺条件不变(改变拉锥流变速度(获!!光纤耦合器是一种光分路与合路的光得不同流变速度下耦合器的损耗&_^’如图#!$无源器件%其制作工艺过程为!将两根!所示&图中每个点都是#$次实验数据的除去涂覆层的单模&或多模’光纤以一定的统计平均值’%方式靠拢(在高温下加热熔融(同时向两侧拉伸(最终产生一段双向圆锥结构(入射
8、的光信号在这个双锥体结构的耦合区发生功率再分配(一部分光从)直通臂*继续传输(#
