光电设备通用测试系统的研究与设计

光电设备通用测试系统的研究与设计

ID:36725279

大小:1.70 MB

页数:66页

时间:2019-05-14

光电设备通用测试系统的研究与设计_第1页
光电设备通用测试系统的研究与设计_第2页
光电设备通用测试系统的研究与设计_第3页
光电设备通用测试系统的研究与设计_第4页
光电设备通用测试系统的研究与设计_第5页
资源描述:

《光电设备通用测试系统的研究与设计》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在学术论文-天天文库

1、摘要近几年,光电设备被广泛地应用于各个领域。随着各种远程、机动性强、精度高的搜救设备及侦察设备不断的出现,测量、校正和评估这类设备性能和效果是非常必要的。而传统的测试装置大都基于特殊测试任务配备和特殊测试设备的方法,这样测试设备随着设备性能日益复杂,设备日益增多导致测试系统维护和升级难度加大,严重影响测试保障工作的顺利进行。这种测试设备越来越不能满足当前需要,于是引入通用测试思想,建立通用测试系统。通用测试(UniversalTest)技术的核心思想是利用计算机的强大资源使本来需要硬件实现的技术软件化,以便最大限度地降低系统成本,增强系统功能与灵

2、活性,从而实现通用性。将先进的通用性体系结构和虚拟仪器技术引入到测试系统的设计中,研究具有通用性系统结构、模块化仪器、即插即用等特点的基于PCI/ISA总线的通用测试系统,具有理论和实际价值。首先分析了国内外自动测试系统研究现状,针对测试系统的系统升级和功能扩展受到集中式体系结构限制的问题,设计和实现了基于PCI/ISA总线的通用性测试系统。分析了通用性的设计,在此基础上对基于PCI/ISA的光电设备通用测试系统进行了需求分析,完成了测试系统的方案设计。根据系统的实际需求选择了PCI和ISA总线,组建了基于这两种总线的通用测试平台,利用开发环境V

3、C++6.0设计开发了基于PCI/ISA总线的通用测试系统软件,并对根据功能划分的不同模块的开发分别进行了阐述。深入研究了光电设备通用测试系统具体实现过程中所运用的关键技术和软、硬件综合集成技术。本文在对基于PCI/ISA总线的光电设备通用测试系统分析设计的基础上,结合所研究的关键技术,开发了这套测试系统。系统集图像采集、数据采集、数据处理、系统校准等功能于一体,提供了一个性能优异测试的平台,具有较强的实用价值和推广应用价值。关键词:光电设备;通用测试系统;自动测试系统;虚拟仪器;数据采集IAbstractPhotoelectricequipme

4、ntsareappliedtokindoffields.Askindofsearchingequipmentsandscoutsofthelong-distance,strongflexibilityandhighprecisionarepresented,itisnecessarytotest,proofreadandappraisethem.Howevertraditionaltestingequipmentsarebasedonespecialtestingtasksandmethods.Soitisdifficulttoupgradeas

5、theairbornephotoelectricequipmentsaremoreandmorecomplex,whichbadlyinfluencethetasksgoonwheels.Sothesetestingequipmentsarehardtosatisfy,andweuseuniversaltestideatoconstructtheuniversaltestingsystem.ThecoreideaofUniversalTesttechnologywasmakinguseofthepowerfulcomputerresourcest

6、oconverthardwaretechniquetosoftwaretechniqueinordertofurthestreducethecostofsystemandimprovesystemfunctionsandsystemflexibilitytoachieveuniversaltest.ThereforetheuniversalarchitectureandVirtualInstrumenttechnologyareintroducedintothedesignofthetestingsystems,ithastheoryandpra

7、cticevaluethatstudytheuniversaltestingsystemwithuniversalarchitecture,modularizedinstrumentsandplugandplaycharacteristics.ThepaperanalysestheAutoTestingSystem(ATE)intheworldfirstly,forproblemsthattheupdateoftestingsystemsandtheexpansionoffunctionsweremuchlimitedbycentralizeda

8、rchitecture;thepaperaccomplishesthedesignoftheuniversaltestingsystem

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文

此文档下载收益归作者所有

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文
温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,天天文库负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。