LC光纤跳线可靠性试验报告模版

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1、LC/PC单模光纤跳线可靠性实验报告试验依据标准IEC61300/GR326试验执行者审核批准版本:A.02009-Sep目录1样品11.1跳线11.2适配器11.3外观图示12试验项目与结果讨论22.1端面检测22.2端面几何形状3D检测32.2.1检测条件32.2.2端面几何形状3D检测结果42.3插入损耗测试(IEC61300-3-4方法B)42.3.1测试方法52.3.2插入损耗测试结果52.4回波损耗(IEC61300-3-6)72.4.1测试示意图72.5机械振动试验(IEC61300-2-1/GR-326)82.5.1机械振动测试示意图82

2、.5.2试验结果92.6插拔耐久性(IEC61300-2-2/GR326)102.6.1测试图102.6.2试验结果102.7光缆直拉试验(GR-326)122.7.1试验方法122.7.2试验结果122.8耦合机构抗拉强度(IEC61300-2-6)132.8.1试验方法132.8.2试验结果142.9机械冲击(IEC61300-2-12)152.9.1试验方法152.9.2试验结果162.10扭转试验(IEC61300-2-5)162.10.1试验方法162.10.2试验结果172.11侧向静负载（侧拉）(IEC61300-2-42)182.11.1

3、试验方法182.11.2试验结果192.12光器件应力缓释抗弯性能实验(IEC61300-2-44)202.12.1试验方法202.12.2试验结果212.13温度循环(IEC61300-2-22)222.13.1试验方法222.13.2试验结果222.14综合高温高湿试验(IEC61300-2-21)282.14.1试验方法282.14.2试验结果283评价与结论32LC/PC单模光纤跳线可靠性实验报告1样品1.1跳线样品两个尾端分别包含两个接头。光纤类型：SMF-28e插芯类型：UPC陶瓷插芯接头类型：LC/PC胶类型：Epotek-353ND1.2

4、适配器适配器类型:LC/PC图1LC/PC型适配器1.3外观图示图2LC/PC连接器Page32of35LC/PC单模光纤跳线可靠性实验报告2试验项目与结果讨论本报告的系列试验是为检查光纤连接器组装性能并且模拟其在使用过程中所受到的应力而制订的。这些试验项目以IEC61300系列检验和试验程序为基础，同时兼顾了GR-326-CORE要求的部分试验项目。表1列出了详细的检验和试验项目及其测试条件和要求。表1试验方法与试验要求序号项目试验依据试验条件技术要求1端面检测IEC61300-3-1光学显微镜见本报告表42端面几何形状（3D）检测IEC61754-4

5、干涉仪曲率半径:7~25mm顶偏:典型≤50um；Max≤70um光纤高度:+100~-100nm;3插入损耗IEC61300-3-4方法B波长:1310nm&1550nmIL≤0.25dB4回波损耗IEC61300-3-6方法1波长:1310nm&1550nmRL≥45dB5机械振动IEC61300-2-1/GR-326频率：10~55Hz,振幅:0.75mm,分别在3个方向振动90min.试验前后插损变化值≤0.2dB;回损≥45dB6插拔耐久性IEC61300-2-2/GR-326500次每25次清洁1次；插损变化值≤0.2dB7光缆直拉IEC61

6、300-2-4离连接器末端0.5m处，用90N负载,5N/s直拉速度，保持时间120s.试验前后插损变化值≤0.2dB;回损≥45dB8耦合机构抗拉强度IEC61300-2-6离连接器末端0.2m处，40N负荷,5N/s加载，保持时间15s.试验前后插损变化值≤0.2dB;回损≥45dB9机械冲击IEC61300-2-121.5m处冲击5次试验前后插损变化值≤0.2dB;回损≥45dB10扭转IEC61300-2-5离连接器末端0.2m处，15N负荷,扭转角度:0°,-180°,0°,+180°.25次.试验前后插损变化值≤0.2dB;回损≥45dB11

7、侧向静负载能力IEC61300-2-42离连接器末端0.5m处，负荷1/0.5N保持1小时.试验前后插损变化值≤0.2dB;回损≥45dB12光器件应力缓释抗弯性能IEC61300-2-44离连接器末端0.2m处，2N负荷，±90°转动，循环100次试验前后插损变化值≤0.2dB;回损≥45dB13温度循环IEC61300-2-22+70℃~-25℃,每分钟温度变化1℃,12次循环.试验前后插损变化值≤0.2dB;回损≥45dB14综合高温高湿IEC61300-2-21+65℃~-10℃,最高温度时湿度95%RH，极限温度时恒温1小时,循环10次试验前后

8、插损变化值≤0.2dB;回损≥45dB2.1端面检测Page32of35LC/P