(信息与通信)安捷伦光时域反射仪使用方法及原理介绍

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1、AgilentE6000CMini-OTDR培训教材安捷伦科技通信系统集团（一）OTDR测试基本原理（二）E6000C/C特点（三）E6000C/C操作介绍内容安排光时域反射仪背向散射非反射事件反射事件光纤尾端基本术语基本术语-OTDR.光时域反射仪熔接弯折活动连接器断裂光纤尾端光纤网OTDR测试显示相对光功率激光器耦合器脉冲发生器光监测器数据分析及其显示OTDR是基本的光纤链路安装和维护的测试工具机械固定连接头背向散射OTDR测量显示背向散射是由于光纤的瑞利散射现象而引起的部分光信号返回OTDR的现象M

2、ODIFY/ENTERZOOM10熔接弯折活动连接器机械固定接头断裂光纤尾端非反射事件光纤熔接和弯折可导致光功率衰耗,但是没有反射现象.MODIFY/ENTERZOOM10损耗弯折熔接OTDR测量显示熔接弯折活动连接器机械固定接头断裂光纤尾端反射事件MODIFY/ENTERZOOM10衰耗反射OTDR显示熔接弯折活动连接器机械固定接头断裂光纤尾端机械固定接头，活动连接器和光纤断裂都会引起光的反射和衰耗，OTDR上有相似的显示结果光纤尾端MODIFY/ENTERZOOM10(非反射)反射无规则的光纤尾端

3、粲OTDR测量显示熔接弯折活动连接器机械固定接头断裂光纤尾端动态范围盲区距离精确度OTDR的设计性能参数动态范围噪声电压（峰值)~1.8dB噪声电平（均方根值）背向散射电平初始点动态范围(峰值)动态范围(信噪比＝1)动态范围决定了OTDR能“看”多远的光纤和光纤上的特征点大动态范围的需求全程光路衰耗加上所需的信噪比决定了所需的动态范围（SNR＝1）22dB链路衰耗34dB动态范围(SNR=1)链路衰耗需要的信噪比0.1dB0.05dB0.02dB8.5dB10.0dB12.0dB测量范围~1.8dB测量范围由

4、精确确定一个最大衰减事件的能力决定测量范围与动态范围的一般关系(SNR=1)熔接衰耗(0.5dB熔接点):范围-6.0dB衰减系数：范围-6.0dB非反射光纤尾端:范围-4.0dB反射光纤尾端：范围-2.5dB噪声电平（峰值）噪声电平（均方根值）背向散射电平初始点动态范围(峰值)动态范围(信噪比=1)最大测试距离刻度0km200km0km130km200km50km大动态范围小动态范围OTDR的最大距离精度并不意味它能测多远的光纤2000500200130盲区或2点分辨率衰减盲区最小20米事件盲区最小3米1.5

5、dB0.5dB1.5dB0.5dB盲区通常发生在前面板连接器反射处或链路上的反射事件处什么影响动态范围和盲区动态范围取决于脉宽平均时间OTDR的设计盲区取决于脉宽反射大小OTDR的设计脉宽怎样影响动态范围和盲区？OTDR发短脉冲时能提供更好的盲区性能，但是具有更小的动态范围；OTDR发长脉冲时能提供更好的动态范围，但具有更大的盲区。短脉冲MODIFY/ENTERZOOM10MODIFY/ENTERZOOM10长脉冲平均时间参数影响动态范围因为更长的平均时间减小了OTDR的噪声电平，所以增大了测试的动态范围10秒

6、3分钟OTDR的设计高分辨率OTDR提供小的盲区，但是动态范围也变小，长距离OTDR提供大动态范围，但是盲区也变大。高分辨率OTDR采用宽带接收->快速转移速度->小盲区->高噪声电平->小动态范围长距离OTDR采用窄带接收->慢速转移速度->大盲区->低噪声电平->大动态范围脉宽=1us脉宽=1us距离精度和一点分辨率距离精度取决于时基准确性，抽样距离，折射率设置和光缆因素。XXXXXXXXXXXXXXXXD=VxT,=>D=_NCV=_NCxT折射率误差光纤长度>光缆长度XXXXXXXXXXXXXXXX抽样

7、导致的误差从光纤测量的实际信号显示的曲线时基的准确性T抽样回波损耗/反射系数P入射.P反射F反射系数=-10logP入射.[dB]P反射回波损耗=+10logPinc.[dB]Prefl.回波损耗=散射系数-10log(10-1)[dB](通常由OTDR计算)0.2F因为许多激光器会被发射信号干扰，所以回波损耗的测试是一个重要的参数测试。性能参数－总结动态范围能测多远的光纤f(脉宽,平均时间)盲区2个事件点离得多近(2点分辨率)f(脉宽,反射大小)距离精度测试的位置多精确(1点分辨率)f(抽样距离,时钟精度，

8、折射率误差,成缆因素)Long-rangeOTDRlargedynamicrange,longdeadzoneHi-res.OTDRshortdeadzone,smalldynamicrange光纤类型不匹配你可以使用OTDR去测更大纤芯直径的光纤的位置信息或断裂位置，但不能用来精确测量衰耗MODIFY/ENTERZOOM10OTDR被测光纤位置信息正确衰耗和功率值不正确伪增益现象为