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时间:2019-04-15
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1、--IBC工艺流程准备——N型FZSi,电阻率约为2.5Ωcm。制作前进行了双面抛光,并在0.55%的HF酸溶液中浸泡,去除金属颗粒等杂质B掺杂——背面(BS)外延B掺杂,形成P+,制作发射极掩模1——PECVD沉积氮化硅,厚度约200nm,作为后道工艺的掩模酸洗1——利用去除未经曝光的光刻胶,漏出需要做BSF的区域,并且用BHF(bufferedhydro?uoric)去除需要做BSF区域的氮化硅刻蚀1——利用HF和HNO3去除BSF区域的Emitter。利用Si的各向异性和氮化硅的各项同性差异可以在相同时间内做到Si和氮化硅
2、的差异性刻氮化硅悬臂,有助于蚀,Si被腐蚀的速度大于氮化硅,从而做出氮化硅悬臂0.5μmBSF和emitter的隔离P掺杂——制作BSF,形成N+。然后利用BHF溶液去除旧的氮化硅层(P掺杂时被污染),在重新PECVD沉积氮化硅层---IBC工艺流程前表面(FS)制绒(Texture)——在TMAH(四甲基氢氧化铵)和IPA(异丙胺)水溶液中利用110面的特性刻蚀出金字塔结构。FSF和退火——再此去除背面氮化硅层,并在FS进行P扩散,制作FSF。然后在850℃和氧气氛围中进行退火,以激活FS和BS注入的离子。此时,在FS和BS形
3、成了10-35nm厚的SiO2层,作为ARC的第一层。第二层ARC——根据SiO2的厚度,在FS沉积70-45nm厚的氮化硅层,形成双层ARC,并且起到FS的钝化作用(中和悬挂氢键)。同时在BS沉积100nm厚氮化硅层,以增强背面内反射,同时达到背钝化的目的。背接触电极——在整个BS热蒸发工艺沉积约2μm厚Al。·分离制作电极——利用特定工艺去除除BSF接触区和Emitter区的Al层,---形成交叉指状正负电极。---IBC工艺流程-
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