毕业设计（论文）-基于ATmega8单片机的电子元件测试仪

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1、绥化学院本科毕业设计基于ATmega8单片机的电子元件测试仪学生姓名：学号：200851383专业：电子信息工程年级：2008级2班指导教师：SuihuaUniversityGraduationPaperTheATmega8microcontroller-basedelectroniccomponentstesterStudentnameWangGushuangStudentnumber200851383MajorElectronicInformationEngineeringSupervisingteacherLiMeiliSuihua

2、University摘要随着电子科技的发展，电子元器件的广泛应用，电子元器件的测量显得愈来愈重要。因此，设计可靠、安全、便捷的电子元件测试仪具有极大的现实必要性。在系统的硬件设计中，以ATmega8单片机为核心的电子元件测试仪，使用对应的震荡电流对被测元件进行充放电计算实现各个参数的测量。该系统通过测试电路进行信号输入，取平均等技术获得较理想的测试结果。目前能够完成对电阻器电容器这些基本电子元件测试，还能对大部分半导体器件参数的测试。论文详细说明该系统的基本原理、硬件框架、主要电路以及软件框架。对该课题的研究有助于了解电子元件的各个参数与

3、电子元件的优劣。在应用设计实践中，电子元件的测量是一个重要的发展方向。关键词：ATmega8单片机；测试仪；LCD1602IIAbstractWiththedevelopmentofelectronictechnology,electroniccomponentswidelyusedinthemeasurementoftheelectroniccomponentsareincreasinglyimportant.Therefore,thedesignisreliable,safe,andconvenientelectroniccompon

4、entstesterhasagreatpracticalnecessity.InthehardwaredesignofthesystemtoATmega8microcontrollerasthecoreoftheelectroniccomponenttester,theshockcurrentchargeanddischargethemeasurementofvariousparametersonthemeasuredcomponents.Thesystempassedthetestcircuit,thesignalinput,taket

5、heaverageandothertechnologytogetbettertestresults.Abletocompletethesebasicelectroniccomponentsresistorcapacitortest,butalsomostofthesemiconductordeviceparametersofthetest.Thepaperdetailedthebasicprinciplesofthesystem,thehardwareframework,themaincircuitandsoftwareframework

6、.Onthesubjectofresearchhelpstounderstandtheperformanceofthevariousparametersoftheelectroniccomponentsandelectroniccomponents.Inthelarge-scaleequipmentdesignpractice,themeasurementofelectroniccomponentsisanimportantdirectionofdevelopment.Keywords:ATmega8MCU;Tester;LCD1602I

7、I目录摘要IABSTRACTII目录I第1章电子元件测试系统的背景、意义及技术路线1第1节电子元件测试系统的背景1第2节电子元件测试系统的意义1第3节技术路线1第2章系统硬件电路设计与软件设计4第1节电子元件测试系统功能说明与组成4第2节系统硬件配置及说明4第3节电子元件的测量原理8第4节主程序软件流程图8第3章测试结果10第1节参数测试结果10第2节误差分析11结论12参考文献13附录14致谢20绥化学院2012届本科生毕业设计第1章电子元件测试系统的背景、意义及技术路线第1节电子元件测试系统的背景电子元件测试仪是电子设计中应用广泛的测

8、试仪器之一。目前市场上存在多种电子元件测试仪，普遍用于观察及测量电子元件各种输入输出特性，其性能较好、精度较高。但是这些仪器一般采用模拟电路制作，制作复杂，而且价格昂贵。一些小型的电子元件测试