数字实验一ttl门电路的逻辑功能测试实验报告

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1、学生实验报告院别电子信息学院课程名称电子技术实验班级无线技术12实验名称实验一TTL门电路的逻辑功能测试姓名欧迪实验时间2014年4月24日学号33指导教师文毅报告内容一、实验目的和任务1.测试TTL集成芯片中的与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。2.了解测试的方法与测试的原理。二、实验原理介绍实验中用到的基本门电路的符号为：在测试芯片逻辑功能时输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元显示输出的逻辑功能。三、实验内容和数据记录1.依次选用芯片74LS08、74LS32、74LS04、74LS00、74LS02、74LS8

2、6。ABL000011101111ABL00001010011174LS0874LS32AB0110ABL00101110111074LS0474LS00ABL00101010011074LS02ABL00001110111074LS86四、实验结论与心得只要认真一点，识别元件管脚分布，就能完成实验。成绩教师签名批改时间年月日