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时间:2019-03-17
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1、I爲麥毛丢觀峡等图硕±学位论文I禱画基于SHC3206的苍片自动化测试平台设计与实现作者姓名朱武挙学校导师姓名、职赖李小明副教按企业导师姓名、职赖张趨窩工申请学位类别工程硕壬学校代码10701学号1311122897分类号XI公巧级公开西安电子科技大学硕击学位论文基于SHC3206的苍片自动化测试平台设计与实现作者姓名:宋武举领域:软件工程学位类别:工程硕±学校导师姓名、职称:李小明副教授企业导师娃名、职称:张贺高工
2、学院:微电子学院提交日期:2016年3月DesignandImplementationforChipAutomationTestPlatformBasedonSCH3206AthesissubmittedtoXIDIANUNIVERSITYinpartialfulfillmentoftherequirementsforthedegreeofMasterinSoftwareEngineeringBySongWujuSupervisor:LiXiaomingAssociateProfessorZhangHeS
3、eniorEngineerMarch2016西安电子科技大学学位论文独创性(或创新性)声明秉承学校严谨的学风和优良的科学道德,本人声明所呈交的论文是我个人在导师指导下进行的研究工作及取得的研究成果。尽我所知,除了文中特别加标注和致谢中所罗列的内容外,论文中不包含其他人已经发表或撰写过的研究成果;也不包含为获得西安电子科技大学或其它教育机构的学位或证书而使用过的材料一。与我同工作的同事对本研究所做的任何贡献均已在论文中作了明确的说明并表示了谢意。学位论文若有不实么处一,本人承担切法律责任。
4、:日期本人签名;loli义^聋亦幸西安电子科技大学关于论文使用授权的说明本人完全了解西安电子科技大学有关保留和使用学位论文的规定,即:研究生在校攻读学位期间论文工作的知识产权属于西安电子科技大学。学校有权保留送交论文的复印件,允许查阅、借阅论文:学校可公布论文的全部或部分内容,允许采用影印、缩印或其它复制手段保存论文。同时本人保证,结合学位论文研究成果完成的论文、发明专利等成果,署名单位为西安电子科技大学。保密的学位论文在年解密后适用本授权书。本人签名:豕茄导师签名:
5、寺日期:魂J’技日期:抑心摘要摘要随着集成电路产业的高速发展,作为该产业重要一环的功能测试也被寄予越来越高的要求。如何高效率、低成本地完成芯片功能测试已经成为很多集成电路设计公司必须面对的问题。由于芯片封装各异,且功能繁杂,一套具备通用性的自动化芯片功能测试平台可以获得良好的经济效益和社会效益。因实习公司项目需要,本文设计并实现了一套自动化芯片功能测试平台,该平台包含以下三部分:(1)一套具有较高通用性的芯片自动测试平台控制系统。(2)基于windows的测试平台的上位机软件。(3)一款基于SHC
6、3206芯片的测试电路板。该平台不仅降低了公司在芯片功能测试方面的人工成本,而且大幅缩短了测试时间。围绕该芯片测试平台,本文所做的工作主要有以下几个方面:1.设计并实现了芯片自动测试平台控制系统。本文根据机械设备生产厂家提供的电机参数及机械图纸尺寸,自行设计了一套测试平台控制系统。该系统由控制电路板和控制程序两部分组成,具有系统自检、自动复位校准、容错处理以及安全碰撞检测等功能,具备较高的通用性和灵活性。通过反复联调测试结果显示,该系统能够长期安全稳定运行。2.设计并实现了基于windows的测试系统上位机软件。为
7、了保证测试系统的通用性,本文设计并实现了一套能够和测试平台控制系统进行实时通信的上位机软件。利用测试平台控系统中预留的串口,上位机不仅能够实时获取测试数据和显示测试结果,而且可以对测试系统的基本位移参数进行修改,从而满足不同封装芯片的测试需要。3.基于公司一款SHC3206芯片,开发了功能测试板。该测试板可对芯片的各项功能指标进行自动测试验证,其步骤为:首先自动测试平台将芯片放入测试板进行测试;然后测试板在完成该芯片所有功能测试后将测试结果反馈给测试平台控制系统;最后根据测试结果合格与否,测试平台控制系统将芯片放入
8、不同芯片放置区域。如此循环即可完成芯片的批量自动化测试。联调测试结果显示,单颗芯片的平均测试时间为2.5秒,这远远低于人工测试时间且没有人为差错。因此,该系统可以大大提高芯片的测试效率和测试质量。关键词:芯片功能测试,自动测试,SHC3206测试板,上位机软件论文类型:工程设计类IABSTRACTABSTRACTWiththerapiddevelopment
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