半导体制冷片特性参数的测试方法及系统研究

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时间:2019-03-17

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1、幸i钟t乂净CILIAN打IRAJGUNIVERSITY硕壬学位论文MASTERDISSERTATION半导体制冷片特性参数的测试方法及系统研究AMeasuringMethod&SystemStudyingonCharacteristicParametersofThermoelectricModule作者宋平.:-V护导师陈红岩教授学科检测技术与自动化装置中国计量大学:??.-;.呜:攀數:‘‘二〇—六年四月-:—.言.^單"一'

2、::t.一一f審m藝:她早,-—货V?扣啼A—,如!、’,t八;r清,古矿。j:請:扇dllSifVAMeasuringMethod&SystemStudyingonCharacteristicParametersofThermoelectricModuleBySongPingADissertationSubmittedtoChinaJiliangUniversityInpartialfulfillmentoftherequirementForthedegreeofMasterofEngineeringCh

3、inaJiliangUniversityApril,2016独创性声明本人声明所呈交的学位论文是本人在导师指导下进行的研究工作和取得的研究成果,除了文中特别加W标注和致谢之处外,论文中不包含其他人己经发表或撰写过的研究成果,也不甸含为获得中国计貴大学或其他教育机构的一学位或证书而使用过的材料。与我同工作的同志对本研巧所做的任何贡献均已在论文中作了明确的说明并表示了谢意。''奇学位论文作者签名:月:签字日期年j7^学位论文版权使用授权书本学位论文作者完全了解中国汁貴大学有关保留、使用学位论文的规定IU将学仿论女的

4、含部或部分巧容编入有关敬。据暢权中国计音大学可、、据库进行检索,并采用影印缩印或扫描等复制手段保存汇编供查阅和借阅。同意学校向国家有关部口或机构送交论文的复印件和磁盘。(保密的学位论文在解密后适用本授权说明)学位论文作者签名:章:导师签名:乏产签字曰期::月)巧签字曰期年t月W中图分类号TP274学校代码10356UDC623.1密级公开硕士学位论文MASTERDISSERTATION半导体制冷片特性参数的测试方法及系统研究AMeasuringMethod&SystemStudyingonCharacteristicPa

5、rametersofThermoelectricModule作者宋平导师陈红岩教授申请学位工学硕士培养单位中国计量大学学科专业检测技术与自动化装置研究方向半导体制冷片检测二〇一六年四月致谢岁月犹如白驹过隙,短暂的研究生生涯即将结束,依稀记得第一次见到导师陈红岩老师的场景。感谢陈老师在这三年的研究生学习生涯中,给予我的谆谆教导。他认真治学的态度深深地影响着我,时刻提醒着我该如他那般勤恳努力,认真对待每一件事。同时,我非常感谢陈老师在这三年中为我提供充足的科研条件,指导我进行科研及论文写作,最终在他的辛勤指导下,完成了我的毕业课题。感谢我的师兄沈红源

6、、应亚宏和张一龙,由于他们的引导,才能使本设计顺利开展。感谢同门曲健、李志彬、张兵、郭晶晶和刘文贞,鲍立提供的帮助与支持。感谢室友徐海东、马德飞悉心的照顾。感谢我的同学冯逸骅,陈炎俊,李建勇,两年多来一直陪伴着我在球场挥洒汗水。感谢杭州奥凌制冷有限公司的工程师王军海先生,他为本测试系统提供了大量的标准样品数据以及技术支持。感谢杭州双量科技有限公司等公司为本测试系统提供了宝贵的建议。感谢阿莫电子论坛和21ic论坛的诸位网友提供的建议与指导。感谢我的母校—中国计量大学,是您培育了我。最后我最想感谢的是抚养我长大的父母及家人,他们是我精神上的支柱,陪我

7、走过人生的每一段旅程。此刻论文即将完成,我的心情无法平静,研究生生涯也即将结束,最后致谢那些给了我无言的帮助得人们。宋平2016年4月半导体制冷片特性参数的测试方法及系统研究摘要:随着人类环保意识的提高以及半导体制冷技术难关的攻克,半导体制冷片的应用范围越来越广,我国在中低端半导体制冷领域已经形成规模化产业。目前国内的半导体制冷片测试仪器大都被国外的仪器公司垄断,国内的半导体制冷片生产厂家无力购买这些昂贵的进口仪器,测试仪器的缺失给制冷片的出厂检验带来了极大的不便。因此研发一种能够快速地测试半导体制冷片特性参数且方法简便﹑结果可靠﹑精度满足国内工

8、业生产要求﹑价格适中的测试系统具有重要的意义与实际应用价值。本文首先分析了传统的测试方法在测试半导体制冷片特性参数时的不足,对传统的测试

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