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《空间光通信apt技术中ccd多次采样的分析与研究_张文涛new》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在教育资源-天天文库。
1、yygx205901@sina.com应用光学J.AppliedOpticsNov.2004,25(6):9-11·9·文章编号:1002-2082(2004)06-0009-03空间光通信APT技术中CCD多次采样的分析与研究12张文涛,朱保华(1.桂林电子工业学院电子工程系,广西桂林541004;2.桂林电子工业学院信息材料科学与工程系,广西桂林541004)摘要:利用CCD器件进行光学检测,普遍采用二值化的脉冲计数法,即每个脉冲都代表了一个像元间距,所以CCD的检测分辨率只能达到像元间距的大小。
2、虽然在光学系统中可以采用增加系统放大倍数的方法来提高CCD的检测分辨率,但是由于成像系统的像差、球差以及衍射效应的存在,光学系统最多只能放大几十倍,因此CCD的检测分辨率只能达到微米量级。为进一步提高CCD的检测分辨率,本文提出了一种全新的方法,即多次采样处理,以此将CCD的分辨率提高到亚像元的精度。经过分析论证以及软件的仿真模拟,证实了该方法的可行性。关键词:空间光通信;APT;多次采样中图分类号:TN386.5-34文献标识码:BTheAnalysisandStudyofMultiple-samp
3、lingofCCDintheAPTTechnologyofOpticalCommunication12ZHANGWen-tao,ZHUBao-hua(1.Deptofelectronicengineering,GLIET,Guilin541004,China;2.Deptofinformationmaterialscienceandengineering,GLIET,Guilin541004,China)Abstract:Itisthemethodofpulsecountthatcanbeusedto
4、carryouttheopticaldetectionwithCCD,anditissaidthateachpulsedenotesapixel,sothedetectiveresolutiononlyhaveonepixel.Althoughthedetectingresolutioncanbeenhancedbyincreasingtheamplificationratio,thedetectiveresolutiononlyachievemicronlevel,sincetheexistence
5、oftheaberration,sphericalaberrationanddiffractioneffect.InordertoimproveCCD'sdetectiveresolutionulteriorly,anewmethodofmultiple-samplingisbroughtforwardinthispaper.Withthemethod,thedetectiveresolutioncanberaisedtothelevelofsub-pixel.Keywords:spaceoptica
6、lcommunication;APT;multiple-sampling1CCD多次采样理论分析精度。在探测器面积一定的情况下,要想提高CCD的位置分辨率,只能依靠增加像元的个数s,减小在光通信APT子系统中,利用CCD对目标进每个像元的线度p,但是这样做在技术上实现起来行捕获和跟踪的过程中,经过一段固定的观察时间是非常困难的。因此,我们采用在技术上可以实现t之后,光电传感器件CCD将其接收到的光信号转变成电信号。将CCD的每一个探测像元的输出的CCD多次采样处理来提高目标光束的分辨率。下面以一维CC
7、D为例进行研究和分析。收集起来并进行记数比较,具有最大记数的那个探设CCD上每个探测像元的线度均为p,以探测测像元即被认为是光信号的中心位置。单凭CCD的一次采样处理来判定目标在探测器上的成像位器的中心为原点建立坐标系,每次采样的时间间隔置,其位置分辨率是很低的,只能达到一个像元的为t。经过一次采样后,将输出信号进行记数并比收稿日期:2003-08-09;修回日期:2004-06-24作者简介:张文涛(1976-),男,山东济南人,讲师,现从事蓝绿激光对潜通信系统的研究工作。·10·应用光学2004,
8、25(6)张文涛,等:空间光通信APT技术中CCD多次采样的分析与研究较,就可以确定目标成像在哪个像元上,如图1目标成像位置确定在某一个像元之上,如图1(b2)(a2)所示。经过一次采样处理后,由控制系统驱使所示。将这2次采样结果叠加在一起,则可以将目探测器整体向某一个方向移动半个像元的线度,即标的成像位置确定在某半个像元内,从而将一个像p1移动距离为;然后,再次对上述目标在探测器上元的精度提高到像元的精度,如图1(c)所示。22的成像进行采样,经过这次
