基于AMC2C6670的TD-LTE物理层调度及接口实现.pdf

《基于AMC2C6670的TD-LTE物理层调度及接口实现.pdf》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在学术论文-天天文库。

1、电子科技大学UNIVERSITYOFELECTRONICSCIENCEANDTECHNOLOGYOFCHINA硕士学位论文MASTERTHESIS论文题目基于AMC2C6670的TD-LTE物理层调度及接口实现学科专业通信与信息系统学号201221260119作者姓名陈晓指导教师雷霞教授分类号密级注1UDC学位论文基于AMC2C6670的TD-LTE物理层调度及接口实现（题名和副题名）陈晓（作者姓名）指导教师雷霞教授电子科技大学成都（姓名、职称、单位名称）申请位级别学硕士专业学位类别通信与信息系统提交论

2、文日期2015.4论文答辩日期2015.5学位授予单位和日期电子科技大学2015年6月答辩委员会主席评阅人注1：注明《国际十进分类法UDC》的类号。THEIMPLEMENTATIONOFPHYSICALLAYERSCHEDULINGANDINTERCONNECTINGINTD-LTESYSTEMONTHEBOARDAMC2C6670AMasterThesisSubmittedtoUniversityofElectronicScienceandTechnologyofChinaMajor:Communic

3、ationandInformationSystemAuthor:ChenXiaoAdvisor:Pro.LeiXiaSchool:SchoolofNationalKeyLaboratoryofScienceandTechnologyonCommunication独创性声明本人声明所呈交的学位论文是本人在导师指导下进行的研究工作及取得的研究成果。据我所知，除了文中特别加以标注和致谢的地方外，论文中不包含其他人已经发表或撰写过的研究成果，也不包含为获得电子科技大学或其它教育机构的学位或证书而使用过的材料。与

4、我一同工作的同志对本研究所做的任何贡献均已在论文中作了明确的说明并表示谢意。作者签名：日期：年月日论文使用授权本学位论文作者完全了解电子科技大学有关保留、使用学位论文的规定，有权保留并向国家有关部门或机构送交论文的复印件和磁盘，允许论文被查阅和借阅。本人授权电子科技大学可以将学位论文的全部或部分内容编入有关数据库进行检索，可以采用影印、缩印或扫描等复制手段保存、汇编学位论文。（保密的学位论文在解密后应遵守此规定）作者签名：导师签名：日期：年月日摘要摘要LTE是继第三代移动通信之后的新一代主流移动宽带通信

5、标准，其包含TDD和FDD两种制式。LTE系统以正交频分复用和多输入多输出技术为基础，数据采取分组传输，在20MHz带宽内理论可以实现100Mbit/s的下行峰值速率和50Mbit/s的上行峰值速率。与3G通信系统相比，LTE通信系统在算法复杂度和传输性能上有一个数量级的增加，仅依靠单个处理器通常无法满足高速实时处理大数据量的应用需求，多处理器的分布式并行处理成为提高系统性能的有效解决途径，如何为系统中诸多的处理单元、控制单元提供一种高效率、高带宽、高灵活性的互连架构，成为LTE通信系统设计中颇具挑战性

6、的难题。TDD-LTE测试系统系统主要包含主控板、基带板AMC2C6670、射频板，其中，基带物理层处理在基带板AMC2C6670上完成，TDD-LTE系统工作时，每1ms都需要在基带板DSP与主控板间、基带板DSP与基带板FPGA间传输大量数据。本文基于TDD-LTE测试系统的基带物理层处理要求，设计了以TI公司的TMS320C6670为核心的串行RapidIO互连方案，来解决处理器互连遇到的瓶颈问题。测试结果验证了该互连方案的可行性和可靠性，当采用4×、5Gbps配置时，以发送256KB数据量为例，

7、即使选取DDR3作为收、发端的存储器地址，也能实现10Gbps以上的传输速度，因此，串行RapidIO互连方案适用TDD-LTE等新型的无线基站系统。论文分三部分展开，首先介绍了串行RapidIO的基础理论，研究分析了TDD-LTE测试系统的数据接口需求，抽象出系统初期简化的SRIO测试原理图并给出SRIO电路模块的软件设计框图；随后针对TMDXEVM6670L评估板平台进行SRIO模式选型测试，从外围电路、数据量、存储介质等方面研究分析RapidIO链路性能，最终确定将NWrite或SWrite作为T

8、DD-LTE测试系统的传输模式；最后基于基带板AMC2C6670完成SRIO链路设计、实现及性能验证测试，测试包括：DSP与主控板间的连通性、DSP与FPGA间的连通性、NWrite传输差错率、NWrite传输速率等，论文从连通性和可靠性两方面去探究接口链路，表明串行RapidIO能够满足TDD-LTE测试系统的接口要求。关键词：串行RapidIO，TMS320C6670，基带板AMC2C6670，TDD-LTE测试系统IABSTRACTA