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《针对剖面平面图的mapgis应用与开发》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在教育资源-天天文库。
1、第33卷第5期物探与化探Vol.33,No.52009年10月GEOPHYSICAL&GEOCHEMICALEXPLORATIONOct.,2009针对剖面平面图的MapGIS应用与开发1,222刘华锋,李庆春,景月红(1.中国石油大学CNPC物探重点实验室,北京102249;2.长安大学西部地质资源与地质工程教育部重点实验室,陕西西安710054)摘要:从应用角度出发,结合MapGIS软件的地理信息属性优势,以如何将老资料的纸质图(如剖面平面图或平面等值线图)转换为离散点异常和磁异常数据如何直接在MapGIS软件中绘制剖面平面
2、图为例,重点讨论了剖面平面图在MapGIS软件中的再利用和绘制的方法,并开发了相应的补充辅助模块,说明了MapGIS软件在地球物理勘查中的应用与开发潜力。关键词:MapGIS;地球物理;剖面平面图中图分类号:P631.1;TP302.4文献标识码:A文章编号:1000-8918(2009)05-0587-05随着地理信息系统的迅速发展,GIS在地质调[1]1图元—离散信息互转的基本原理查工作中也得到了广泛的应用。在矿产地质调查中,图元的MapGIS格式表示已成为行业要求,1.1纸质图件信息转换为数字异常信息[2-3]GIS软件除
3、了提供图件绘制和输出等基本功能1.1.1异常剖面平面图转换为离散点异常外,它还具有多元信息对比的优势。我们可以将地某一测线方向的异常平剖曲线(图1a),如果已质、物探、化探等多种地学信息在同一个信息平台知异常曲线上某点的坐标为(xi,yi),与之对应的测[4]MapGIS软件中融合,方便多信息之间的对比、分线上的测点坐标为(Xi,Yi),我们可以根据两点间的析,相互验证数据及认识的正确性和全面性。同时,距离公式,求得这两点之间的距离di。根据di和成在新一轮的地质矿产调查中,也要求各种图件在图比例k,就可以求出(Xi,Yi)点处
4、的异常值ΔTi=MapGIS中绘制,以方便信息、图件的存储、管理和使di×k。这样,我们就间接地获得了测点(Xi,Yi)处用,提高信息的利用率。的数字异常信息(Xi,Yi,ΔTi)。在物探工作中,像观测系统布置图、实际材料图、平面等值线图、成果解释图等的绘制,可以直接利用MapGIS自带的模块来完成。但在物探资料的收集、采集及数据成图过程中,也会遇到一些特殊需求,而MapGIS没有相应的模块,限制了我们的使用。比如,如何将以前的纸质剖面平面图及平面等值线图资料重新变成离散的数字资料,而进一步用于数字处理;如何将采集的磁测资料在M
5、apGIS中a—异常平剖曲线原始状态;b—旋转为水平测线状态的异常平剖绘制剖面平面图等。诸如此类的问题,我们可以借曲线,以方便计算测点坐标和异常值助于MapGIS自身的功能和特点,作进一步的开发,图1纸质剖面平面图转换成离散数字异常值原理以实现上述专门特殊需求。在实际计算过程中,我们容易获得成图比例k,笔者结合上面的两个具体问题,以磁法勘探为但如何从纸质的剖面平面图上获得一一对应的(xi,例,讨论如何借助MapGIS的“地理信息”属性优势,yi)与(Xi,Yi)坐标对,并且在保证其精度的前提下,开发与之配套的模块,让老的物探资料
6、起死回生,将如何获得较高的计算速度,确是制约这种计算方法测量数据在MapGIS中自动成图。的核心问题。收稿日期:2008-10-15;修回日期:2009-01-15·588·物探与化探33卷如果我们已知坐标(xi,yi),结合测线方向,求中包含了等值线数字化过程中的离散点坐标和相应得过点(xi,yi)且垂直于测线的直线方程;再获得测等值线的异常值。最后,根据数据格式设计程序,实线上的两点坐标,求得测线直线方程;根据两直线方现测点位置与异常值的一一对应。程求得交点坐标(Xi,Yi);然后再根据距离公式求1.2离散磁测结果转换为剖面
7、平面图di。这未尝不是一种方法,但每一点都要求解方程将离散的磁测结果转换为剖面平面图的核心问组,其运算量必然变大。题,就是如何将离散的异常值转换成一条与测线相另外一种计算方案,我们按测线方向进行坐标匹配的异常曲线,使得异常曲线和测线可在同一坐系旋转,将图1a所示的某特定方向的测线旋转成为标系下,按给定的比例系数k,一一对应地绘制出水平,如图1b所示,在新坐标系下,与(xi,yi)点对来。这就需要解决两个问题:一个是如何将异常值应的坐标为(x′i,y′i),因为测线水平,如果知道了测换算成对应的长度;另一个是如何使异常曲线和测线的
8、横坐标Y′i,则可以很方便的求得di=y′i-Y′i线相匹配,能在正确的坐标位置绘制这两条曲线。和与之对应的测点坐标(X′i=x′i,Y′i)。然后再进第一个问题可以通过di=ΔTi/k得到。对于第行坐标系反旋转,便得到实际坐标系下的测点坐标二个问题,其中一个计
