基于dsp的多频带混合信号测试系统

基于dsp的多频带混合信号测试系统

ID:33860323

大小:174.98 KB

页数:3页

时间:2019-02-28

基于dsp的多频带混合信号测试系统_第1页
基于dsp的多频带混合信号测试系统_第2页
基于dsp的多频带混合信号测试系统_第3页
资源描述:

《基于dsp的多频带混合信号测试系统》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在教育资源-天天文库

1、嵌入式技术蒋常斌等:基于DSP的多频带混合信号测试系统基于DSP的多频带混合信号测试系统蒋常斌,冯建科,郭仕瑞,高剑(北京自动测试技术研究所北京100088)摘要:根据现代芯片制造和测试技术的趋势,论述当今混合信号测试的特点和要求,阐明国内外混合信号测试现状,探讨混合信号传统测试方法的不足。针对国内测试设备制造业的现实情况,提出一种新的混合信号测试方案,该方案基于高速数字信号处理技术,成本低廉、遵循标准化和模块化的设计思路,解决了多种频带的混合信号测试问题,是业内现实情况下测试设备制造业的一个探索。关键词:混合信号;A/D;D/A;DSP;测试技术中图分类号:TP20,TN30文献标识码:B

2、文章编号:1004373X(2008)1403803AMultibandwidthMixedsignalTestSystemBasedonDSPJIANGChangbin,FENGJianke,GUOShirui,GAOJian(BeijingAutotestTechnologyInstitute,Beijing,100088,China)Abstract:AccordingtothedevelopmenttrendoftechnologyinmanufactureandtestofICs,thenewfeatureandrequire2mentofmodernmixedsignaltest

3、isilluminated,theglobalsituationofmixedsignaltestisclarifiedindetail,andthetradi2tionalmethodformixedsignaltestisdiscussedaswell.InallusiontodomesticconditionsofmanufactureofATE,anewlowcostsolutionformixedsignaltestwhichisbasedonhighspeedDSPtechnologyandcompliedwithstandardizationandmodularizationi

4、sbroughtforthtoresolvethetestingproblemsofmixedsignalICswithmultibandwidth,itisanewexplo2rationoftestequipmentmanufacturinginourcountry.Keywords:mixedsignal;A/D;D/A;DSP;test;technology采集ADC的输出信号并进行运算以获得测试结果;对1混合信号测试的特点和测试要求于DAC通路,测试系统需要通过数字通道产生适当的随着数字化浪潮的深入,具有混合信号功能的芯片激励信号,同时,通过自身的波形采样器采集DAC的越来越多地出

5、现在人们的生活中。通讯领域的MO2输出信号并进行运算获得测试结果。但无论对于ADCDEM(如ADSL),CODEC和飞速发展的手机芯片,视还是DAC测试,都要求系统的模拟模块,即波形发生频处理器领域的MPEG,DVD芯片,都是具有混合信器和波形采样器,与系统的数字通道同步,才能确保测号功能的芯片,其特点是处理速度高、覆盖的频率范围试的准确性。此外,系统还需提供丰富的内置函数,迅宽,芯片的升级换代周期日益缩短。这就要求测试系统速完成对采集信号的运算,才能实现对ADC/DAC的具有更高的性能和更宽的频带范围,而且需要灵活的架静态和动态特性的测试。因此,在对混合信号芯片的测构来应对不断升级的芯片测

6、试需求,以便有效降低新器试过程中,一般需要数字通道、波形发生器、波形分析件的测试成本。此外,混合信号芯片种类繁多,各种具器、直流电源、时隙分析器、系统时钟等模块,其中波形有混合信号的芯片已经广泛运用到生产和生活的各个发生器和波形分析器是决定系统速度和精度的关键环领域,而不同的应用领域,其工作的频率和所要求的精节,本文分别在这两个方面做较详尽的论述。度也各不相同,这就要求在对混合信号进行测试时,抓2传统测试方法面临的挑战住其共性来提出测试方案。所有混合信号芯片的一个最基本的共性就是其内部均具有AD/DA,一些混合信传统的基于纯软件的测试方法已经难于应对新型混号芯片还包括PLL模块。本文所论述的

7、混合信号测试合信号器件的测试需求,对于混合信号器件,通常要通过仅涉及到ADC和DAC通路。测试其互调失真(IMD)、多音频功率比率(MTPR)等参一般,对于ADC通路,测试系统需要通过波形发数,以获得器件的非线性特性,测试这些参数,需要采集生器产生适当的激励信号,同时,通过自身的数字通道大量的数据,并进行大量的运算,传统的测试仪器通常采用基于软件的方法在主机中实现,其缺点在于,一方面限收稿日期:2007112

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文

此文档下载收益归作者所有

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文
温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,天天文库负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。