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时间:2019-02-28
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1、CPK:ComplexProcessCapabilityindex的缩写,是现代企业用于表示制程能力的指标。制程能力是过程性能的允许最大变化范围与过程的正常偏差的比值。制程能力研究在於确认这些特性符合规格的程度,以保证制程成品不符规格的不良率在要求的水准之上,作为制程持续改善的依据。当我们的产品通过了GageR&R的测试之后,我们即可开始Cpk值的测试。CPK值越大表示品质越佳。CPK=min((X-LSL/3s),(USL-X/3s))Cpk——过程能力指数CPK=Min[(USL-Mu)/3s,(Mu-LSL)/3s]Cpk应用讲议1.Cpk的中文定义为:制程能力指数,是某
2、个工程或制程水准的量化反应,也是工程评估的一类指标。2.同Cpk息息相关的两个参数:Ca,Cp.Ca:制程准确度。Cp:制程精密度。3.Cpk,Ca,Cp三者的关系:Cpk=Cp*(1-|Ca|),Cpk是Ca及Cp两者的中和反应,Ca反应的是位置关系(集中趋势),Cp反应的是散布关系(离散趋势)4.当选择制程站别Cpk来作管控时,应以成本做考量的首要因素,还有是其品质特性对后制程的影响度。5.计算取样数据至少应有20~25组数据,方具有一定代表性。6.计算Cpk除收集取样数据外,还应知晓该品质特性的规格上下限(USL,LSL),才可顺利计算其值。USL=平均值+3倍标准差LS
3、L=平均值-3倍标准差7.首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ),再计算出规格公差(T),及规格中心值(u).规格公差=规格上限-规格下限;规格中心值=(规格上限+规格下限)/2;X=所取样数据的平均值8.依据公式:Ca=(X-U)/(T/2),计算出制程准确度:Ca值9.依据公式:Cp=T/6,计算出制程精密度:Cp值10.依据公式:Cpk=Cp(1-
4、Ca
5、),计算出制程能力指数:Cpk值11.Cpk的评级标准:(可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策)A++级Cpk≥2.0特优可考虑成本的降低A+级2.0>Cpk≥1.67优应当保持之A
6、级1.67>Cpk≥1.33良能力良好,状态稳定,但应尽力提升为A+级B级1.33>Cpk≥1.0一般状态一般,制程因素稍有变异即有产生不良的危险,应利用各种资源及方法将其提升为A级C级1.0>Cpk≥0.67差制程不良较多,必须提升其能力D级0.67>Cpk不可接受其能力太差,应考虑重新整改设计制程。SPCChart控制图的使用和选择连续的分组数据:XBar-R控制图和XBar-S控制图。连续的单值数据:I-MR控制图。离散的符合二项分布的不合格品数:(分组样品容量相等用nP控制图,不等用P控制图)离散的符合泊松分布的缺陷数::(分组样品容量相等用C控制图,不等用U控制图)X
7、Bar-R控制图XBar(平均值控制图)反映变量X随时间的集中趋势及分组样本之间的变动性。注意控制图中的每个点是每个分组的平均值,而控制图的中心线是分组的平均值的平均值。R(极差控制图)极差控制图监测的是分组样本内部随时间的变动。该图的中心线代表长期的分组样本之极差的平均值,或称为R。对于R控制图只适合于样本容量较小的场合。Bar-S控制图XBar(平均值控制图)反映变量X随时间的集中趋势及分组样本之间的变动性。这个同XBar-R控制图。对于S控制图是值标准差,标准差控制图监测的是分组样本内部随时间的变动。该图的中心线代表长期的分组样本之标准偏差的平均值,标准差图可适用于分组样
8、本容量(即n)大于2的任何场合。(为验证过程是否稳定,每天采样10个数据值,一共采样10天。)I-MR(IndividualsandMovingRange)控制图主要是反映连续的单值数据随时间的发化。使用范围在过程的特性值较少,每次都只能够得到一个数据。I-MR图由于使用个体数值,与Xbar-R图比较更易受干扰。比如我们要记录车辆来回AB两点的时间是否受控,可以记录一系列连续的数据值进行I-MR控制图分析。P图和nP图(离散数据的不合格数)P图是一种计数型控制图,它绘制的是每个样本的不合格品率。每个分组样本可以有相同的样本量或者不相同的样本量。此图通用性最强,在计数型控制图中用
9、途最广。P图一般需要较大的样本容量。质量越好,那么要检测出过程失控就需要越大的分组样本。(记录每天的焊点数和焊点的不良个数,焊点数为分组样品每天是可以不同的。)nP图:是一种计数型控制图,它绘制的是每个分组样本中的不合格品数。每个分组样本必须有相同的样本量或者各个样本量足够相似可以看作相等。C图和U图(离散数据的缺陷数)C图是一种计数型控制图,它绘制的是每个样本中的缺陷数(不符合性)。当所有样本具有相同的样本量时,C图便是一种很实用的选择。U图:是一种计数型控制图,它绘制的是每个样本中的单位
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