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时间:2019-02-28
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1、摘要由于铅及含铅化合物对人体和坏境的危害和立法的需要,钎料无铅化己成为电子封装连接材料的发展趋势。目前开发的无铅钎料成分大多数以Sn为基,另外添加一些无毒元素如A吕Zn,Cu,Bi,In等作为合金化的元素。而在无铅钎料的应用过程中出现了许多的问题,其中一个典型的问题就是由于Sn基无铅钎料含sn量高(含Sn90%以上),钎料中的sn与Cu基板快速反应生成过厚的界面Cu-Sn金属间化合物(IMC)。而过厚的Cu-Sn界面1MC会降低钎焊后电子产品钎焊接头的力学和热疲劳性能,降低产品的使用寿命。因此研究[MC的
2、生长规律和如何降低界面IMC的生长速度就显得非常必要。研究表明,在钎焊过程中,在很短的时间内,钎料/Cu界面处就形成一薄层金属间化合物。随着钎焊时间的延长,这层IMC厚度不断增加。在最初的约90s内,其生长受晶界扩散的控制,生长速度较快。随着IMC厚度的增加,其生长逐渐转变为受体扩散控制,生长速度变慢。分别对接头在125"C、150"C、175℃下进行了400h时效试验,IMC在固相下的生长也主要是扩散机制控制。在较高温度(150℃和175"C)时效下发现了IMC层靠近Cu一侧出现了Cu3Sn层,而在12
3、5℃时效条件下未出现Cu3Sn层。经过拟合,得到固相下IMC扩散激活能为8lkJ/mol。在温度循环试验中,发现低强度温度循环(-25~125℃)下IMC的生长慢于高强度温度循环(-40~125℃)。这主要是由于温度冲击对界面IMC的微观形貌影响造成的。而与时效试验结果对比发现温度循环下界面IMC的生长较缓慢。关键词无铅钎料;Sn-Ag-Cu:金属间化合物;界面反应;时效;热循环AbstractBecauseoftheleadandleadcontainedcompounds’toxicitytohuma
4、nbodyandtheenvironmentandtherestrictionoflegislation,solderswithoutleadhavebecomethetendencyoftheelectronicpackagingmaterials.Atpresent,mostoflead-fleesoldersareSn·basedbinaryorternaryalloyswithaddingnon-toxicandnon-volatileelements,suchasAg,Zn,Cu,Bi,Inan
5、dSOon.Butintheapplicationprocessoflead-freesolderstherearemanyproblems,onetypicalquestionisthethickCu—Snintermetalliccompounds(IMCs)formedduetotherapidreactbetweenSnfromtheSn-basedlead-freesolders(Snconcentrationabove90%1andthetraditionalCusubstrate.Andth
6、ickCu-SnIMCsmayreducethemechanicalandthethermalfatigueperformancesofelectronicproducts,andcorrespondinglyreducetheservicelifeoftheproducts.SoitisveryimportanttoresearchtheruleofIMCgrowthandhowtoreducethespeedofIMCgrowth.Theresearchindicatedthatinaveryshor
7、ttimeofsoldering,athinlayerofIMCformedattheinterface.Andthethicknessincreasedwitllthesolderingtime.Ininitial90s,theIMCgrowthWascontrolledbygrainboundarydiffusionmechanism,andthegrowthspeedWasrelativequick.WiththeincreaseofIMCthickness,thegrowthmechanismWa
8、sgraduallycontrolledbyvolumediffusion,andthegrowthspeedsloweddown.Thebutt-jointswereagcdat125"C,150。C,175。Cfor400h,wheretheIMCgrowthWasalsocontrolledbydiffusioninsolid·state.TheCu3Snappearedwhileagedat150*Cand175"C.
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