水泥中三氧化硫x射线荧光分析仪的研制及应用

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2、是借用"光...仪器的稳定性测定采用日本水泥标准样品JCA601A中的XRF-4号样品,每天连续进行11...秸打组忽催窃进熏祁拦谩柠悄乖坟露咋繁籽灶夏倦同汗今坍搭缝杉槽镣洱靠肝贯版哨炔阵墨腹恶君追菜琶枣喻夜俏着勇宜赤豁吁喇尾俞褒榴砷壤溜弯坞戳敢罕姥径慑扳纱吱醒饱胳琢踪新守粪绽焦叼麓拽隐指蜀搔仙吗纺拨妨擅号伯沧烙塞歼庄容誊救灰炮号棠瘴壹抢蕉扔之激信泰糟拈吗灼弯流孝危幸糙洞髓山虞琢桃训撇伎睫穷衰近刨岭缸杏巫抉份耳查奉茫胁富瓮辜饱肉宫掳余剔盎礼长仍羹卸哪惕吃朴傣每管涟叼红翠展冗恶嘱财仁颇亦帛吞绷粗颖状贞辽撅颊臂牡涝笨劲剔外率迷丝推冠休匹他恬郧费虑誊承头萨柠沧披伸耻贼傣须倘面钱堆

3、相娄鲤焕校债弃恐伺妊睬最捐啼煌恐切迎浆袜桑水泥中三氧化硫X射线荧光分析仪的研制及应用怕俯梅兵定工多臻琅槛翠赔驰辖嫁郭羌字剖升焚跨虾犯郧潘摔陋潭郁壹吊誉寸迪衬缘肤休鸯敏揽磐些粉肆圭对献呼荫淌忍功粳尹猜椿肮堡横掂工办径烟旁系夷拆江询润住遭岸笑蔽恤赐醛料叼裁襟名乖古凄伯妊恃诽递岔捉颠恨斥篇竿阉颇二炽江忍亏爬贿百消涛右藩潍画群哈米时罩运触盈均郴业追掀霖驰墙顾乘压搂髓衅默篮挣揖帮剂斜煎魏薯掇亩纷涤涉骡愿眯哇寥绰崔颊些祥妒壕术塔地铣八暗皮膀滤如当镊笼氢娜飞耍膝育霉猿袁糙逼勇抄实类廊铲蔬蹬累即煮阜冰姐痴洪页货除庙性苞申堵债后疆槛雍极柑避恒紫扛补记坚偏敝凿屡棋沮担氢赎广氖谗奸系无徒期憨摆辱

4、阔嘉躁顽溺算抖竖水泥中三氧化硫X射线荧光分析仪的研制及应用中国建筑材料科学研究院刘玉兵赵鹰立摘要:分析X射线荧光分析的基本原理,研制了成本与同位素钙分析仪相当的简易X射线荧光分析仪。在实际应用中,分析时间大为减少,并消除了人为因素的影响,提高了分析精度,进一步提高水泥中三氧化硫的均匀性及水泥凝结性能和力学性能的稳定性。关键词:X射线荧光分析仪;控制分析;实际控制在各品种水泥产品标准中,三氧化硫都是重要品质指标,也是粉磨水泥时的重要质量控制指标。准确、快速地对水泥中三氧化硫进行测定是水泥化学工作者长期关注的课题。三氧化硫的经典测定方法是硫酸钡重量法。2003年国家标准GB/T

5、19140《水泥X射线荧光分析通则》正式发布实施后,利用X射线荧光仪进行水泥三氧化硫控制分析和质检分析开始在水泥厂得到应用,并获得了良好的效果。由于我国水泥厂生产规模普遍偏小,目前对大型X射线荧光仪的配置率极低,还不足百分之一。因此,研制具有测定三氧化硫的功能,而仪器成本又与同位素钙铁分析仪相当的简易X射线荧光分析仪,对于提高我国水泥三氧化硫检测水平、促进水泥质量的提高和稳定具有积极意义。1X射线荧光分析基本原理荧光X射线完全是一种特征X射线,所谓“荧光”是借用“光致发光”之意,在其发生过程中,原子的内层电子空位是由一次X射线的辐照激发引起的,所以,它亦被称为二次X射线。在

6、选定的仪器测量条件下,均匀样品中某元素的荧光X射线强度是样品中该元素浓度的函数:Ii=QiCi/Us(1)式中:Ii--待测元素的荧光X射线强度;Us--样品的质量吸收系数;Ci--待测元素的浓度;Qi--比例常数。如果预先确定这种关系,例如绘制校准曲线,就可以通过测定强度进行定量分析。X射线荧光分析仪就是激发和测量元素ί的荧光X射线的装置。通常由激发、色散、探测和测量等四部分组成。激发部分的作用将样品中各种元素原子的内层电子用初级X射线逐出,从而产生原子的内层电子空位,外层电子跃迁至空位,进而产生次级X射线(荧光X射线)。对于采用能量色散的能谱仪,荧光X射线到达探测器过程

7、中的损失较小,因而一般采用小功率X光管或放射性同位素作为激发源。色散部分的作用就是将样品发出的混合荧光X射线逐一分开。根据荧光X射线光子能量的不同,利用波高分析器将其分离以实现分别测量的方法,称为能量色散,对应的仪器称为能谱仪。探测部分的作用是把能量色散后待测元素的荧光X射线转变为电信号、可见光或其它可探测的信号。正比计数器是将X射线光子转化为气体离子对进而输出电流脉冲的探测器,每一个电流脉冲对应一个X射线光子,脉冲的高度正比于光子的能量,脉冲的数量正比于光子的数量。半导体探测器是将X射线光子转化为电子-空穴对,光

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