与非门电路的测试

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1、实验一：与非门电路的测试软01涂李傲2010013234实验日期：2012/3/27一．实验名称：与非门电路的测试二．实验目的：1、正确使用数字IC。2、加深对与非门基本特性和主要参数的理解，掌握主要参数的测试方法。三．实验原理（见书本4.1节）四：实验任务：1.测试CMOS与非门CD4011的平均延迟时间、电压传输特性、动态功耗。2.测试TTL与非门74LS00的电压传输特性，平均延迟时间、输入负载特性和输出负载特性。3.测试CD40106施密特反相器的平均延迟时间、电压传输特性。五．实验内容及数据处理：（1）测量CMOS与非门CD4011的平均延迟时间和电压传输特

2、性。○1测量CMOS与非门CD4011的平均延迟时间。其中输出电压v1是低电平为0V，高电平为5V，频率为1MHz的方波（信号取自信号发生器的“TTL“输出端口，探头用“x10”档）。测量电路：仿真电路：测试波形：V0:V1:实际图形：数据记录：tpHLtpLHtpd=(tpHL+tpLH)/278.0ns122ns100.0ns○2测量CMOS与非门CD4011的电压传输特性。其中输入电压v1选择低电平为0V，高电平为5V，频率为100Hz的三角波信号（vI取自信号发生器的“50Ω”输出端口,100Hz，0-5V的三角波；先用示波器监测输入信号，通过调节信号发生器的

3、APM和OFFSET旋钮，保证输入没有负电压；三角波信号调好后，再接入电路）。测量电路：仿真电路：测试波形：V1:V0/V1:实际图形：数据记录：VoL=14.0mVVoh=4.81VVth=2.62V以下实验未做：（2）观察与非门CD4011的动态功耗。测量电路如图2所示。图2示波器显示（反映脉冲电流）：（3）测量TTL与非门74LS00的输入、输出负载特性。○1测量TTL与非门74LS00的输入负载特性。测量电路如图3.1所示。图3.1R1ViVo输入负载特性曲线：○2测量TTL与非门74LS00的输出负载特性。测量电路如图3.1、3.2所示（通过在回路串入电阻，

4、通过测量电阻上电压计算回路电流）。图3.2电阻R电压V回路电流I（4）测量TTL与非门74LS00的平均延迟时间和电压传输特性，及测试施密特反相器CD40106的电压传输特性。○1测量TTL与非门74LS00平均延迟时间tpd。测量电路如图4.1所示，输入信号时信号发生器的TTL输出端产生的频率为2MHz的方波信号。图4.1Tpd1Tpd2tpd=(tpd1+tpd2)/8○2测量TTL与非门74LS00的电压传输特性。测量电路如图4.2所示，其中输入电压v1可选择低电平为0V，高电平为5V，频率为100Hz的三角波信号。图4.2示波器显示（电压传输特性）：○3测试施

5、密特反相器CD40106的电压传输特性。示波器显示（电压传输特性）：六．实验分析与总结：1：在实验中所遇到的故障和问题以及解决方法：由于第一次使用面包板，接线时比较生疏，并犯了很多错误。比如：在做测量与非门的平均延迟时间是导线之间靠得太近导致出来的信号噪音非常大。以后要更加细心。2：实验心得：（1）通过实验，我熟悉了面包板的接线方法。（2）了解了CD4011和74LS00的延迟特性和电压传输特性，并懂得了它们的测量方法。通过实验过程，熟悉了CD4011的管脚分布和使用方法。（3）体会到了实验前做好充分预习工作以及实验结束后仔细总结思考的重要性。七．思考题：4、应如何处

6、理TTL不非门和CMOS不非门的多余输入端？答：CMOS集成电路的输入端不允许悬空，必须接低电平或高电平。对于TTL电路，输入端悬空在逻辑上相当于是高电平，但为了电路工作稳定可靠，减少干扰，最好还是按电路要求接高电平或低电平（不能改变电路的逻辑关系）。