智能微芯片封装测试库存控制方法的研究

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1、智能微芯片封装测试库存控制方法的研究THESTUDYOFTHEINVENTORYCONTROLINICMODULEENCAPSULATION&TESTFACTORY学校:上海交通大学学院:安泰经济与管理学院专业:工商管理(MBA)作者:张立导师:隽志才学号:1101209453班级:M101209A答辩日期:2012年12月23日智能微芯片封装测试库存控制方法的研究摘要半导体制造是一个资金高度密集、流程高度复杂的加工过程。随着市场的迅速发展,IC封装技术和工艺也不断更新换代。集成电路制造系统是目前公认的最为复杂的制造系统,而IC封装生产系统又是其中相对

2、复杂的部分,因为相比较圆片制造过程而言,其还存在生产批量的分解、合并等等问题。目前智能微芯片封装技术正朝着低功耗、小尺寸、高速度、高集成度方向发展,新型的封装设计、封装工艺、封装设备不断涌现,未来几年,智能微芯片封装测试企业面临的外部环境的竞争也将愈演愈烈。这对生产线的产能平衡和生产计划与控制等提出了更高的要求,而且,集成电路的生产制造需要巨大的资金投入,主要包括设备和原材料,再加上设备的生产能力对于混合产品的生产比较敏感。因此,在集成电路制造企业中,如何安排最改善的生产计划以提高设备的利用率、降低库存和制造周期,就成为了一个非常困难的过程,但同时也成

3、为企业保证其竞争优势的极具挑战性的工作任务。本文试图通过目前集成电路制造的先进方向,结合精益生产的理论与方法,对智能微芯片封装企业的生产计划及精益生产进行研究并提出切实可行的改进方法。本文以拉动式生产为改善库存控制的基础,结合通知系统设计以及团队解决模式,在智能微芯片封装测试企业中使用集成电路设计中的体系及管理方法,并在企业中进行了实际应用。最后对实际应用结果,以企业关键指标变化作为依据进行分析,确定了库存指标及客户满意度指标的改进方法。关键词:智能微芯片,封装测试,库存控制,精益生产THESTUDYOFTHEINVENTORYCONTROLINICM

4、ODULEENCAPSULATION&TESTFACTORYABSTRACTSemiconductormanufacturingisahighlycapital-intensive,highlycomplexflowprocess.Withtherapiddevelopmentofthemarket,ICpackagingtechnologiesandprocessesareconstantlyupgrading.Theintegratedcircuitmanufacturingsystemsiswidelyrecognizedasthemostcom

5、plexmanufacturingsystems,andICpackagingproductionsystemisrelativelycomplex,ascomparedtothewafermanufacturingprocess,theexistenceofthedecompositionoftheproductionbatch,merge.Intelligentmicrochipencapsulationtechnologydevelopmenttowardlowpowerconsumption,smallsize,high-speed,high-

6、integrationdirection,anewpackagedesign,packagingtechnology,packagingequipmentcontinuetoemerge,smartmicro-chippackagingandtestingcompaniesfaceinthenextfewyears,competitionintheexternalenvironmentwillalsobeintensified.Thisbalanceandproductionplanningandcontrol,suchasthecapacityoft

7、heproductionlinecanputforwardhigherrequirementsandthemanufacturingofintegratedcircuitsrequiresahugecapitalinvestment,includingequipmentandrawmaterials,coupledwiththeproductioncapacityoftheequipmentfortheproductionofhybridproductsmoresensitive.Therefore,theinICmanufacturingenterp

8、rise,howtoarrangetheproductionplanoptimizationi

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