实验四二阶闭环系统的频率特性曲线

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1、实验四二阶闭环系统的频率特性曲线3.2二阶闭环系统的频率特性曲线一．实验要求1．了解和掌握二阶闭环系统中的对数幅频特性和相频特性，实频特性和虚频特性的计算2．了解和掌握欠阻尼二阶闭环系统中的自然频率ωn、阻尼比ξ对谐振频率ωr和谐振峰值L(ωr)的影响及ωr和L(ωr)的计算。3．观察和分析欠阻尼二阶开环系统的谐振频率ωr、谐振峰值L(ωr)，并与理论计算值作比对。二．实验内容及步骤本实验用于观察和分析二阶闭环系统的频率特性曲线。本实验以第3.1.2节〈二阶系统瞬态响应和稳定性〉中‘二阶闭环系统模拟电路’为例，令积分时间常数为Ti，惯性时间常数为T，开环增益为K，可得：自然频率：阻

2、尼比：（3-2-1）谐振频率：谐振峰值：（3-2-2）频率特性测试电路如图3-2-2所示，其中惯性环节（A3单元）的R用元件库A7中可变电阻取代。。图3-2-4二阶闭环系统频率特性测试电路积分环节（A2单元）的积分时间常数Ti=R1*C1=1S，惯性环节（A3单元）的惯性时间常数T=R3*C2=0.1S，开环增益K=R3/R。设开环增益K=25（R=4K），各环节参数代入式（3-2-1），得：ωn=15.81ξ=0.316；再代入式（3-2-2），得：谐振频率：ωr=14.14谐振峰值：9/9注1：根据本实验机的现况，要求构成被测二阶闭环系统的阻尼比ξ必须满足，否则模/数转换器（B

3、7元）将产生削顶。注2：实验机在测试频率特性时，实验开始后，实验机将按序自动产生0.5Hz~16Hz等多种频率信号，当被测系统的输出时将停止测试。实验步骤：（1）将数/模转换器（B2）输出OUT2作为被测系统的输入。（2）构造模拟电路：按图3-2-4安置短路套及测孔联线，表如下。（a）安置短路套（b）测孔联线模块号跨接座号1A1S4，S82A2S2，S11，S123A3S8，S95A6S2，S61信号输入B2（OUT2）→A1（H1）2运放级联A1（OUT）→A2（H1）3运放级联A3（OUT）→A6（H1）4负反馈A3（OUT）→A1（H2）6相位测量A6（OUT）→A8（CIN

4、1）7A8（COUT1）→B4（A2）8B4（Q2）→B8（IRQ6）9幅值测量A6（OUT）→B7（IN4）10跨接元件（4K）元件库A11中可变电阻跨接到A2（OUT）和A3（IN）之间（3）运行、观察、记录：①将数/模转换器（B2）输出OUT2作为被测系统的输入，运行LABACT程序，在界面的自动控制菜单下的线性控制系统的频率响应分析-实验项目，选择二阶系统，就会弹出虚拟示波器的界面，点击开始，实验开始后，实验机将自动产生0.5Hz~16Hz等多种频率信号，等待将近十分钟，测试结束后，观察闭环对数幅频、相频曲线和幅相曲线。②测试结束后，可点击界面下方的“频率特性”选择框中的任

5、意一项进行切换，将显示被测系统的闭环对数幅频、相频特性曲线（伯德图）和幅相曲线（奈奎斯特图）。图3-2-4的被测二阶系统的闭环对数幅频所示。③显示该系统用户点取的频率点的ω、L、、Im、Re实验机在测试频率特性结束后，将提示用户用鼠标直接在幅频或相频特性曲线的界面上点击所需增加的频率点（为了教育上的方便，本实验机选取的频率值f，以0.1Hz为分辨率，例如所选择的信号频率f值为4.19Hz，则被认为4.1Hz送入到被测对象的输入端），实验机将会把鼠标点取的频率点的频率信号送入到被测对象的输入端，然后检测该频率的频率特性。检测完成后在界面上方显示该频率点的f、ω、L、、Im、Re相关数

6、据，同时在曲线上打‘十字标记’。如果增添的频率点足够多，则特性曲线将成为近似光滑的曲线。鼠标在界面上移动时，在界面的左下角将会同步显示鼠标位置所选取的角频率ω值及幅值或相位值。在(AedkLabACT两阶频率特性数据表)中将列出所有测试到的频率点的闭环L、、Im、Re等相关数据测量。注：该数据表不能自动更新，只能用‘关闭后再打开’的办法更新。④谐振频率和谐振峰值的测试：9/9在闭环对数幅频曲线中用鼠标在曲线峰值处点击一下，待检测完成后就可以根据‘十字标记’测得该系统的谐振频率ωr，谐振峰值L(ωr)，见图3-2-5；实验结果可与式（3-2-9）的计算值进行比对。注：用户用鼠标

7、只能在幅频或相频特性曲线的界面上点击所需增加的频率点，无法在幅相曲线的界面上点击所需增加的频率点。⑤改变惯性环节开环增益：改变运算模拟单元A3的输入电阻R=10K、4K、2K。Ti=1（C1=2u），T=0.1（C2=1u）（R減小（ξ減小））。改变惯性环节时间常数：改变运算模拟单元A3的反馈电容C2=1u、2u、3u。Ti=1（C1=2u），K=25（R=4K），（C2增加(ξ減小)）。改变积分环节时间常数：改变运算模拟单元A3的反馈电容C1=1u、2u。T=0.1