基于单片机测温系统的设计 毕业论文

基于单片机测温系统的设计 毕业论文

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时间:2017-07-23

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1、摘要基于单片机测温系统的设计摘要温度是一个系统常需要测量,控制和保持的量。随着科学技术的发展,古老的测量仪器和控制仪器显然已经满足不了科学的精度和时间的要求,而单片机的应用已经渗透到了各个行业,但温度只是一个模拟量,不能直接与单片机交换信息。利用MCS-51单片机上多余的I/O口P1实现对温度的测量和采集,和对温度的显示报警等功能。关键词:温度测量控制单片机23ABSTRACTABSTRACTThetemperatureneedtobesurveyed,controledandmaintainedbyasystemfrequently.Withthed

2、evelopmentofscienceandtechnology,ancientmeasuringinstrumentsandcontrolinstrumentshaveclearlynotforscientificaccuracyandtimerequired,andsingle-chipmicrocomputerapplicationhasinfiltratedallsectors,buttemperatureisaanalog,notdirectlyexchangeinformationwithsingle-chip.MCS-51excessI/

3、OportP1onthesingle-chipmicrocomputerrealizationfortemperaturemeasurementandcollection,temperaturedisplayandalarmfunction.23目录目录1绪论12方案设计52.1方案的提出52.2方案的设计52,3方案的论证63系统设计63.1单片机的选择63.2温度传感器的工作原理与单片机的连接63,3单片机与报警电路3,4电源电路3.5显示电路3.5.11620型液晶接口信号说明3,5,2液晶主要技术参数3.5.3基本操作时序4软件系统的设计74.

4、1软件设计74.2程序75元器件的调试85.1测试环境及工具85.2温度检测部分测试85.3电路主板测试6结论和展望96.1结论96.2展望9致谢11参考文献12附录15在校期间取得的研究成果16即可):EquationChapter1Section1235元器件的调试1绪论温度与人们生活是密切相关不可分开的,同时也是生产和科研中需要测量和控制的物理量。在科技飞速发展的21世纪,在各个领域中,尤其是在冶金、化工、机械和食品生产中都需要对温度进行严格的控制,尤其是在炼钢过程中,炼钢更是一个十分重要的参数,它直接关系到钢铁练成的成功率及钢铁内部质量的好坏。

5、正是因为如此,一种好的测量法和测温工具才被迫切的需求。温度作为一个重要的参数之一,随着工业的发展,随着工业的不断发展,人们对温度的测量的要求越来越高,而且测量的范围也越来越广,对温度检测技术和控制技术的要求也越来越高,因此,温度的测量和控制技术是一个重要的研究课题。本文主要讲述如何利用MCS-51单片机为控制核心,结合其他元器件对温度进行测量和控制,以及高温报警等系统的设计。EquationChapter(Next)Section1235元器件的调试1方案设计2.1方案的提出温度的检测有多种方法,考虑到实际应用的时候,需要把温度信号转变成电信号。本方案

6、采用AT89C51单片机和DS18B20传感器,以及1602液晶显示模块。2.2方案的设计该方案使用了AT89C51单片机作为控制核心,以智能温度传感器DS18B20为温度测量元件,对各点温度进行检测,设置温度上下限,超过其温度值就报警。显示电路采用1602液晶模块显示,使用二极管,电阻和蜂鸣器组成的报警电路。2.3方案的论证235元器件的调试基于DS18B20的温度测量系统是一种分布式的温度测量系统,它可以远程对温度实现测量和监控,广泛应用于电力工业、煤矿、森林、火灾、高层建筑等场合,按照DS18B20的通信协议,由主机向DS18B20发送命令,读取

7、DS18B20转换的温度,从而实现对环境的温度的测量,当温度超过一定的值时,报警器开始报警。采用智能温度传感器DS18B20,它直接输出数字量,精度高,电路简单,只需要模拟DS18B20的读写时序,根据DS18B20的协议读取转换的温度。此方案硬件电路非常简单,但程序设计复杂一些,但是在课外对DS18B20、字符型液晶显示有所了解,而且曾经在网上看到过此类程序程序设计,并且我已经使用过开发工具KEIL用C语言对系统进行了程序设计,用单片机开发板对系统进行了测试,达到了预期的结果。由此可见,该方案完成具有可行性,体现了技术的先进性,经济上也没有任何问题。

8、EquationChapter(Next)Section1235元器件的调试1系统设计3.1单

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