实验一ttl集成逻辑门功能与参数测试

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1、实验一TTL集成逻辑门功能与参数测试.doc实验一TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2、掌握TTL器件的使用规则3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法二、实验原理本实验采用双四输入与非门74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。其逻辑框图、符号及引脚排列如图1(a)、(b)、(c)所示。（a）(c)图174LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列1、与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为

2、高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有“0”得“1”，全“1”得“0”。）其逻辑表达式为Y＝2、TTL与非门的主要参数(1)输出低电平VOL：输出低电平是指与非门的所有输入端都接高电平时的输出电平值。测试电路如图2（a）所示。第5页共6页实验一TTL集成逻辑门功能与参数测试.doc（2）输出高电平VOH：输出高电平是指与非门有一个以上输入端接低电平时的输出电平值。测试电路如图2（b）所示。﹠+5VVOH﹠V+5VOL（a）（b）图2VOH、VOL测试电路图图5传输特性测试电路第5页共6页实验一TTL集成逻辑门功能与参数测试.do

3、c三、实验设备与器件1、+5V直流电源2、逻辑电平开关3、逻辑电平显示器4、直流数字电压表5、直流毫安表6、直流微安表7、74LS20×2、1K、10K电位器，200Ω电阻器(0.5W)四、实验内容在合适的位置选取一个14P插座，按定位标记插好74LS20集成块。第2页共5页1、74LS20主要参数的测试(1)分别按图2、3、4、6(b)接线并进行测试，将测试结果记入表2中。表2VOH(V)VOL(V)4.390.12(2)接图5接线，调节电位器RW，使vi从OV向高电平变化，逐点测量vi和vO的对应值，记入表3中。表3Vi(V)00.20.40.

4、60.81.01.52.02.53.03.54.0…VO(V)4.394.394.394.374.112.080.120.120.120.120.120.122．验证TTL集成与非门74LS20的逻辑功能（1）通过测试与非门输出电压进行验证。按图7接线，与非门的四个输入端接逻辑开关输出插口，以提供“0”与“1”电平信号，开关向上，输出逻辑“1”，向下为逻辑“0”。用万用表测量与非门的输出端电压。按表4第5页共6页实验一TTL集成逻辑门功能与参数测试.doc的五种情况逐个验证集成块中两个与非门的逻辑功能。将所测电压填入表4右端。74LS20有4个输入

5、端，有16个最小项，在实际测试时，只要通过对输入1111、0111、1011、1101、1110五项进行检测就可判断其逻辑功能是否正常。表4输入输出AnBnCnDnY1（V）11110.1201114.3910114.3611014.3911104.39﹠接逻辑开关+5V图7测电压验证与非门逻辑功能逻辑图(2)通过观察与非门输入输出电压波形进行验证。+5V+5V&ViVo&ViVo(a)（b)第5页共6页实验一TTL集成逻辑门功能与参数测试.doc图8测波形验证与非门逻辑功能图分别按图8(a)、(b)接线，将其中一个输入端接信号发生器TTL方波（频

6、率为1kHz），用示波器观察两种电路的输入输出波形，记录于图9(a)、(b)。(a)第4页共5页第5页共6页实验一TTL集成逻辑门功能与参数测试.doc6(0.000000,4.400000)4Vo/v20-1012345678910t/ms(b)图9波形图第5页共6页