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《SJT10257-1991电子元器件详细半导体集成电路CD3220-CP型带ALC双前置放大器.pdf》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、SJ中华人民共和国电子工业行业标准sJ/T1025710261-91sJ/T10263.10265-91电子元器件详细规范半导体集成电路音响电路(一)1991一们一12发布1992-01-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布中华人民共和国电子工业行业标准电子元器件详细规范半导体集成电路CD3220CP型带ALC双前置放大器Sd/T10257-91DetailspecificationforelectroniccomponentSemiconductorintegratedcircuit-typeCD3220CPdualpreamplifierwithALC本规范规
2、定了半导体集成电路音响电路CD3220CP型带ALC双前置放大器质量评定的全部内容。本规范符合GB4559.1《半导体器件分立器件和集成电路总规范》及GB/T12750《半导体集成电路分规范(不包括混合电路)》的要求。中华人民共和国机械电子工业部1991-11-12批准1992;01-01实施一1一SJ/T10257-91中华人民共和国机械电子工业部评定器件质量的依据:GB4589.1《半导体器件分立器件和集成SJ/T10257-91电路总规范》及GB/T12750《半导体架成电路分规范(不包括混合电路)》CD3220CP型带ALC双前置放大器详细规范订货资料:见本规
3、范第7章。1机械说明2简要说明外形依据:GB7092《半导体集成电路外双极型音响集成电路形尺寸》。半导体材料:硅外形图:按GB7092第5.5.1条封装:非空封P14S3.应用:主要在音响设备中作录音及放音引出端排列:放大用。品种:(:ND门下人厂干，、一20--75'C[OUT上_2131120UT(C)ICOMPLJ312一〕2COMP霍21'I:I(.}$IIN_匕411门21N_塑料双列五IAiCD3220CPIIN,乞_510121N.(P)IOUT.-“，.人川cLweoU万20UT.-IN-匕一78』Dc3质量评定类别I类引出端符号名称:见本规范第11章
4、。参考数据标志:按GB4589.1第2.5条及本规范录音时推荐工作条件第6章。V.,:5^13V,R,.>680f1,一2一SJ/T10257-914极限值(绝对最大额定值)若无其它规定，Iamb=25C数值条款号参数符号单位最小最大4.1电源电压V=14V功耗4.2P=600mW(T.mb蕊40℃)4.3工作环境温度了、mb一2075℃4.4贮存温度I"ia一40125℃ALC晶体管允4.5JALC3.5.A许电流5电特性电特性的检验要求见本规范第8章。若无其它规定，T.-二25'C,V二二SV,f=1kHz,R,.=10kO(放音),R,_二680f1(录音)。规
5、范值条款号特性和条件符号单位试验最小典型最大5.1静态电流1-4.510mAA3最大输出电压(放音)5.2Vom0.91.2VA4TND=1全谐波失真度(放音)5.3了IID0.1%1.0纬A4Vo=0.5V通道隔离度(放音〕5.4CSR4050d匕A4R}=2.2kS2,Vo=775mV—一下{输人噪声电压(放音)5.5R,=2.2k0，V.=1.0ZOyVA4通带20Hz^20kHzALC控制范围(录音)5.6R,=c3545dBA4V,=O.775mVALC平衡度(录音)5.7R,.c02Od吕人4V,=77.5.VALC失真度(录音)5.8T!(DA,X0.5
6、%2.0纬A4V,=77.5mV3一SJ/T10257-91标志器件上的标志示例:型号CD3220CP引出端识别标志△质量评定类别制造厂商标检验批识别代码订货资料a.产品型号;b.详细规范编号;c质量评定类别;d.其它.试验条件及检验要求抽样要求:根据质量评定类别，按GB/T12750第9章的规定。A组检验的抽样要求人Ql.分组n类检查水平(11.)AQI.A1u0.65人3皿0.15人4S41.0B组、G组和D组检验的抽样要求LTYU分组皿类B115C120C315B4C410一4一s,J/'r10257-91续表LTYD分组压类BSCS10C715BSCSD810
7、C915C1120A组—逐批所有试验均为非破坏性的(见GB4589.1第3.6.6条)条件检验要求检验或试验引用标准若无其它规定，T.mb=25'C规范值(见GB4589.1第4.1条)Al分组GB4589.1标志清晰，无表而损伤和气外部目检第4.2.1.1条孔A3分组25℃下的静态特性GB7500《半导体集按本规范第511条及10.1按本规范第5.1条成音响电路音频前条登放大器测试方法’的基本原理》A4分组25℃下的动态特性GB7500按本规范第5.2条至第5.9按本规范第512至第5,8条及10.1条条B组—逐批标有(D)的试验为破坏性的(见GB
