基于嵌入式系统的电子测量仪器软件平台技术研究

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时间:2019-02-02

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1、摘要嵌入式系统是一种具有特定功能的计算机系统,它与通信技术和刚络技术的结合,极大的增强了设备的网络和通信的灵活性和智能性。随着信息技术的不断发展和用户需求的不断增长,嵌入式系统逐渐走进国民生产的方方面面,其应用也日益广泛。在此基础上,将嵌入式系统融入到电子测量仪器设备的丌发无疑将增强电子测量仪器的通信、交互、数据处理等能力,并扩展其使用范围。本课题的目的是设计一个基于嵌入式系统的电子测量仪器软件平台。围绕通用电子测量仪器的基本功能与特点,研究嵌入式系统的逻辑结构设计方法。在归纳总结基于ARM的嵌入式系统的特点和当

2、前最新发展动态和比较多种操作系统优缺点的基础上,选择uc/0S.II操作系统作为仪器平台的操作系统,并将uc/Os—II操作系统内核和其图形用户组件pc/Gul移植到以s3c2410为核心的嵌入式系统硬件开发平台上。建立由ARMDeveloperSuitev1.2和Multi.ICE在线仿真机组成的集成开发调试环境,并针对数字存储示波器、频率计、数字电压表、频谱分析仪等通用电子测量仪器的特点和常用功能,按照人机对话的方式,通过面板按键操作和菜单的选择实现波形数据的采集、波形参数自动测试、波形显示及存储、波形频谱分

3、析等多种功能,用以验证本平台设计的可行性。最后是本文的结论。关键词:ARM920T¨C/Os—ll嵌入式系统嵌入式操作系统电子测量仪器AbstractIlITheEmbededSystemisakindofcomputersystemwithspecial凡nctions.Whenitisintegratedwithcommunicationandnetworktcclm0109y,itwiUenhancetheabilitya11dintelIigentofinstmmentsa11ddevices’netwo

4、rk锄dcommunication.Withtheconstantlydevelopingoftheinfomationtecllll0109ya11dincreasingoftherequirementofusers,theEmbeddedSystemisenteringimoallkindsoffieldsofnationalproductgraduallyandusedextensiVely.Thedevelopmentoftheelectronicmeasurementinstr啪entanddevice

5、basedontheembeddedsystemwillenforcetheabilityofcommunication,intercommunion,dataprocessionandsoon,ats锄etimeitcanextentthe印plication.Thepaperaimstostudyadesignoftheuniversalelectronicmeasurementinstmmentsoftwareplatfo肌basedonembeddedsystem.Thedesignoflogicarch

6、itectureforembeddedsystemisstudiedbasedonthebasicmnctionandfeatureofuniversalelectronicmeasurementinstmments.ThefbatureanddeVelopmentofembeddedsystembasedonARMprocessorisstudied.uC/OS—IIembeddedoperatingsystemischosefortheuniversalelectronicmeasurementinstrum

7、emsoRwareplatformaRerbeingcomparedamOngdi伺奄rentembeddedoperatingsystems.uC/OS-IIembeddedoperatingsystemandt}1egraphicuserinterface—pC/GUIaretransplantedtotheembeddedhafdwareplatf0衄basedonARMS3C2410.IntegrateddeVelopmentanddebugenviromentcontainARMDeveloperSui

8、teV1.2andMulti.ICE.SomebasemnctionsofDigitalStorageOscilIoscope,Cymometer,SpectralAnalyzer’DigitalVbltagemeteraredevelopedonmesoRwarcplatfomincludingwavedadacollection,parametermeasuremen

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