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《SJT11210-1999石英晶体元件参数的测量第4部分频率达30mHz石英晶体.pdf》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、SJ中华人民共和国电子行业标准习/T11210一1999idtIEC444一4:1998石英晶体元件参数的测量第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算MeasurementofquartzcrystalunitparametersPart4:Methodforthemeasurementoftheloadresonancefrequency几,loadresonanceresistanceRLandthecalculationofotherderivedvaluesofquartz
2、crystalunits,upto30MHz1999一08一26发布1999一12一01实施中华人民共和国信息产业部发布标准分享网www.bzfxw.com免费下载目次前言EEC前言1范围······,,,···································。·,···················,·····················,······⋯⋯(1)z测最电路··,,·,·······。,·········,,·,·············,··,,·····,·········,。·,··········
3、········,,·······一(1)3测量方法·····································..............................................·····⋯⋯(2)附录A(标准的附录)关于负载电容器的使用建议·..............................................(3)标准分享网www.bzfxw.com免费下载前言本标准等同采用EEC444一4:1988《石英晶体元件参数的测盘第4部分:频率达30MHa石英晶休元件负载谐振频率fc
4、和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算。》这样,使我国石英晶体元件参数测量的电子行业标准与】EC石英晶体元件参数的测It标准相一致,以适应此领域中国际技术交流和经济贸易往来迅速发展的需要,便于我国生产的这类产品质量水平达到国际通用要求并在国际市场流通。本标准与下述五项电子行业标准构成石英晶体元件参数测量的完整系列标准。Si/Z9154.1-87用n型网络零相位法侧量石英晶体元件参数第一部分:用二型网络零相位法测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻基本方法。(idtIEC444一1:1986)SJ/Z9154.2-87用二型网络零相位法测
5、量石英晶体元件参数第二部分:测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法(idtIEC444一2:1980)SE/Z9154.3一87用二型网络零相位法测量石英晶体元件参数第三部分:利用有并电容Ca补偿的二型网络相位法测量频率达200wh的石英晶体元件两端网络参数的基本方法(idtEEC4}“一3:1986)SENT11211-1991.,石英晶体元件参数的测量第五部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法(idtIEC444一5一1995)ST/1'11212一1999石英晶体元件参数的测量第六部分:激励电平相关性(DLD)的测量(i
6、dtIEC444一6一1995)本标准的附录A为标准的附录。本标准由电子工业部标准化研究所归口。本标准由国营北京晨星无线电器材厂负贵起草。本标准主要起草人:章怡、宋佩任、邓鹤松、边一林。标准分享网www.bzfxw.com免费下载IEC前言1)IEC(国际电工委员会)是由各国家电工委员会(IEC国家委员会)组成的世界性标准化组织。IEC的目的是促进电工电子领域中标准化问题的国际合作。为此目的,除其他活动外,IEC发布国际标准。国际标准的制定由技术委员会承担,对所涉及内容关切的任何IEC国家委员会均可参加国际标准的制定工作。与IEC有联系的任何
7、国际、政府和非官方组织也可以参加国际标准的制定。IEC与国际标准化组织(ISO)根据两组织间协商确定的条件保持密切的合作关系。2)IEC在技术问题上的正式决议或协议是由对这些问题特别关切的国家委员会参加的技术委员会制定的,对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的一致惫见。3)这些决议或协议以标准、技术报告或导则的形式发布。以推荐的形式供国际上使用,并在此意义上,为各国家委员会认可。4)为了促进国际上的统一。各IEC国家委员会有贵任使其国家和地区标准尽可能采用IEC标准。IEC标准与相应国家或地区标准之间的任何差异均应在国家或地区标准中指明。国际标
8、准IEC444-4是由IEC第49频率控制和选择用压电与介电器件技术委员会制定的。本标准构成石英晶体元件参数的测量系列标准的第4部分。IEC444一1构成第一部分:
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