JJG818-1993-电涡流式测厚仪(试行).pdf

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1、中华人民共和国国家计量检定规程JJG818-1993电涡流式测厚仪(试行)EddyCurrentMeasuringInstrumentforCoatingThickness1993一03一16发布1993一11一01实施国家技术监督局发布JJG818-1993电涡流式测厚仪试行夕急..。叭︺..六勺甘.检定规程.心出︺..叭。，..六JJG818-1993。︺.VerificationRegulationofEddy.︷。︺.。oCurrentMeasuringInstrument、.o.0o.0.0.口.0.0.0.0.0.0.

2、o.0沪forCoatingThickness本检定规程经国家技术监督局于1993年03月16日批准，并自1993年11月01日起施行。归口单位:北京市技术监督局起草单位:北京市计量科学研究所本规程技术条文由起草单位负责解释JJG818-1993本规程主要起草人:昊迅(北京市计量科学研究所)苏桂兰(北京市计量科学研究所)JJG818-1993目录一概述·······················································································⋯⋯(1

3、)二检定条件和检定项目·.......................................................................(2三技术要求和检定方法·.......................................................................(3)四检定结果的处理和检定周期·..............................................................(5)JJG818-1993电涡流式测厚仪试

4、行检定规程本规程适用于新制造的、使用中和修理后的电涡流式测厚仪的检定。一概述电涡流式测厚仪主要用于测量非磁性金属材料表面上的非导电覆层(如油漆、珐琅、橡胶、塑料及氧化膜等)的厚度。该仪器按显示方式可分为数字式和指示表式两大类;测量范围一般在0-1250Km;其分辨力:数字式的一般为0.1一1tem，指示表式的为1-y5lim。仪器附有基体和校准用厚度片等。仪器外形见图1和图20电涡流式测厚仪的工作原理:利用高频交变电流在探头线圈中产生一个电磁场，当探头靠近被测金属基体时，使其产生电涡流，并对探头中的线圈产生反馈作用;反馈作用量随探

5、头至被测基体表面距离的减少而增大，经电路处理后，由指示器给出被测覆层厚度。电源开关数字t示器功能按键基休图t数字式电涡流测厚仪探头外护套球面测量头校准用厚度片基休一换挡开关图2指示表式电涡流测厚仪JJG818-1993二检定条件和检定项目1检定条件检定时，室内温度为(2012)℃。仪器预热时间:测厚仪预热不得少于15min.使用交流电源的仪器，电压波动量应不超过其额定电压的11a%.2检定项目检定项目及主要检定用的工具列于表1.检定类别序号检定项目检定用的主要工具新制造使用中修理后1外观+十+2各部分相互作用+++3探头测力0.1

6、N测力仪+++0.1mm卡尺、2级平晶、4基体十+触针式表面粗糙度检查仪5校准用厚度片数显电感式测微仪++6示值变动性标准厚度片+++7示值误差标准厚度片组十++8示值稳定度标准厚度片+注:表中“十”表示该项必须检定;“一”表示该项可不检定。JJG818-1993三技术要求和检定方法3外观3.1要求3.1.1仪器的漆面、镀层不应起泡和脱落，金属工作面不应有划伤、毛刺、锈蚀等外观缺陷。3.1.2仪器面板、铭牌应字迹清晰，标有仪器名称、规格型号、制造厂名(或厂标)及出厂编号，与测量有关的数字标志应注明单位。3.1.3使用中的仪器应无影

7、响仪器准确度的外观缺陷。3.2检定方法:目力观察。4各部分相互作用4.1要求4.1.1显示数字应清晰、完整，排列整齐，键盘按键及拨动开关应工作可靠、有效。4.1.2指示表的指针应摆动平稳，无卡滞、粘针、抖动现象。开关、换挡旋钮(或螺钉)应动作可靠、方便有效，不得有卡滞、空动现象。4.1.3仪器具有的功能应齐全，且工作正常。4.1.4外接导线及插头、插座应安装牢固，连接可靠。4.1.5电池的连接应有效，正负极性应有明显标志。4.1.6使用中的仪器应无影响仪器准确度的功能缺陷。4.2检定方法:目力观察与试验。5探头测力5.1要求:探头

8、测力为0.63--1.6No5.2检定方法:检定时，将探头垂直压向分度值不大于0.1N的测力仪的工作台面上，当探头外护套基面与探头测量面在同一平面时，记下测力仪的读数，取10次读数的平均值为探头测力。6基体6.1要求6.1.1基体厚度应大于该仪器要