《GBT15174-1994-可靠性增长大纲》.pdf

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1、中华人民共和国国家标准GB/T15174一94可靠性增长大纲Programmesforreliabilitygrowth本标准等效采用国际标准IEC10140989)《可靠性增长大纲》。1主题内容和适用范围本标准规定了编制可靠性增长大纲的要求和导则为使可靠性增长，需暴露和排除在硬件和软件中的薄弱环节。当规范要求设备‘电子、机电、机械硬件及软件)有一个可靠性大纲，或者已知设计不成熟，若不进行改进便不能满足验证试验的要求时，使用本标准是合适的。在阐述基本概念之后.接着叙述r所要求的管理、计划、试验(实验室和现场试

2、验)、失效分析和改进技术。为了估计增长后达到的可靠性水平，还简要概述了数学模型本标准适用于通过试验进行可靠性改进的场合，其一般原则也同样可适用于其他活动。改进工作可以在以下各项结果的基础上进行:—理论研究(例如故障模式及影响分析);—现场试验;—使用者的经验;—主要目的不是致力于可靠性改进的项目。2引用标准GB3187可靠性、维修性术语GB5080.1设备可靠性试验总要求GB5080,2设备可靠性试验试验周期设计导则GB5080.4设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布)GB6992可靠

3、性和维修性管理GB7288.2设备可靠性试验推荐的试验条件固定使用在有气候防护场所设备精模拟3术语本标准所用的基本可靠性术语符合GB3187要求在本标准中专门定义或说明的术语叙述如下除非另有说明，这些术语既适用于只有硬件构成的产品，也适用于含有软件或以软件为主的产品区分开GB3187中的“失效强度”(Failureintensity)(对可修复的产品)和“失效率"(failurerate)(对不修复或一次性产品)两个术语是非常重要的。东可靠性改进reliabilityimprovement通过排除系统性失效的

4、原因和(或)减少其他失效发生的概率来实现改进可靠性特征量的一种过程注①本标准所描述的方法是进行纠正性更改，以达到减少系统性薄弱环节的目的②对任何产品而言，由于可行性、经济性等原因，能获得的增长都是有限度的.国家技术监督局1994一08一20批准1995一04一01实施GB/T15174一943.2可靠性增长reliabilitygrowth表示产品可靠性特征量随时间逐渐改进的一种过程。3.3薄弱环节失效weaknes、「ailure当施加的应力在产品规定能力之内时，由于产品本身的薄弱环节而引起的失效。注:①薄

5、弱环节可以是固有的，也可以是诱发的②薄弱环节是产品中任一种已知或未知的缺陷，它可以引起一个或多个薄弱环节失效③在统计意义上假设每种类型的薄弱环节是相互独立的.3.4系统性薄弱环节systematicweakness只有通过更改设计、制造工艺、操作方法、文件或其他有关因素，或者通过排除劣质的元器件批，才能排除的或减少其影响的薄弱环节注:①没有改进措施，只作修理和更换(在软件情形作重复运行)很可能导致同类失效再现②软件薄弱环节都是系统性的。3.5残余性薄弱环节residualweakness非系统性薄弱环节注①这

6、种情况下，在预期的试验时间内，同类失效再现的风险可以忽略不计②软件的薄弱环节不可能是残余性的3.6关联失效relevantfailure在解释试验或运行结果时，或在计算可靠性特征量值时应包括的失效。注:①应列出关联失效的判据.②关联失效的判据见7.2条37非关联失效non一relevantfailure在解释试验或运行结果时，或在计算可靠性特征量值时不应包括的失效。注①应列出非关联失效的判据②非关联失效的判据见7.1条。3.8系统性失效systematicfailure与某种原因直接有关的失效，而这些失效只能

7、采取更改设计、制造工艺、操作方法、文件或其他相关因素的方法才能排除注:①没有更改的修复性维修通常不能排除失效原因②采用模拟失效原因的方法能诱发系统性失效③在本标准中，系统性失效被认为是由系统性薄弱环节引起的失效3.9残余性失效residualfailure由残余性薄弱环节引起的失效。3.10A类失效failurecategoryA由于费用、时间、技术上的限制或其他原因，由管理者决定不作纠正性更改的那类系统性失效3.11B类失效failurecategoryB由管理者决定需作纠正性更改的那类系统性失效3.12瞬

8、时可靠性量度instantaneou、reliab，1，tymeasUre在可靠性增长程序中的某一给定时刻(过去或现在)对产品进行的可靠性量度注:①常用的可靠性量度为(瞬时)失效强度或平均失效间隔时间(」叼了了弓F)以及瞬时失效率或平均失效前时间(入子了7’F)②用可靠性增长模型估计得到这些量度值3.13外推可靠性量度extrapolatedreliabilitymea“ure在可靠性增长的全过程巾