小角x射线散射(2014.3.21) 2

小角x射线散射(2014.3.21) 2

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1、小角X射线散射——一般介绍、基本原理、谱图分析、样品要求东华大学分析测试中心朱育平一.一般介绍1.1根据研究试样的角度范围分为以下几类:(1)广角X射线衍射(WideAngleX-rayDiffraction,简称WAXD),测试范围(2):5~100°以上;(2)小角X射线衍射(SmallAngleX-rayDiffraction,简称SAXD),测试范围(2):1~10°;以上统称X射线衍射(X-rayDiffraction,简称XRD)(3)小角X射线散射(SmallAngleX-rayScattering,

2、简称SAXS),测试范围(2):0.08~5°。上海光源(同步辐射)测试范围(2):0.04~4.70。1.2X射线光束X射线光束具有一定的大小和分布,其大小受狭缝的限制。X射线光束不能直接对准探测器!换言之,不能从0°开始测试样品,应避开光束。1.3小角X射线散射仪介绍﹡仪器外观型号:SAXSessmc2产商:奥地利AntonPaar公司1.4光路系统(Kratky光学系统)﹡角度范围(2):0.08~40°;﹡附件:升温装置:室温~300℃;﹡线光束、点光束;﹡软件系统:(1)二维图像转换为一维曲线;(2)

3、消模糊、扣除背景等;(也称作狭缝修正或准直修正)图1光束的分布图2点光束和线性光束的散射图像1.5Smearing(模糊)和Desmearing(消模糊)模糊(Smearing)效应的现象模糊效应的现象:(1)峰不高,谷不低,即平滑了真实的散射强度分布;(2)峰形变宽且不对称;(3)峰位向小角一侧偏移,引起散射角的误差。图2.1计算结晶度的分峰图(XRD)二.基本原理图2.2半结晶聚合物的形态结构模型聚丙烯的实测图示意图图2.3半结晶聚合物的SAXS和XRD图原理(1):电子对X射线的散射;原理(2):散射强度I(2

4、θ)与两相体系的电子密度差的平方成正比。理想两相体系准理想两相体系A相分散在B相中,两相互不相溶,具有微观的相分离,无过渡层。两相模型芯-壳模型无规分布两相体系★研究对象(1)聚合物(嵌段、支化、共混、掺合、复合物等),如:塑料、橡胶、纤维、薄膜,高分子溶液、液晶等;(2)悬浮液、乳液、胶体、聚电解质,如:油漆、墨水、防晒霜、涂料、金属分散体、血液、食品、药物传输体系等;(3)表面活性剂,如:清洁剂、食品添加剂、营养品素、药品和个人护理用品等;(4)其它:介孔材料、纳米材料等、合金、催化剂等;(5)生物大分子:如:蛋白

5、质、核酸、病毒、多肽等。小角X射线散射是研究亚微观结构和形态特征的一种有效方法。可以得到以下信息和参数:(1)粒子(分散相:微晶、片晶、填充物、孔洞、胶束和硬段微区等)的尺寸、形状及其分布;(2)粒子的分散状态(稳定性、颗粒聚集成核现象、聚集状态、取向性和取向分布);(3)粒子的体积分数和比表面积;(4)粒子与介质之间的界面结构和相分离程度;(5)分子量、分子链的形态;(6)液晶相类型、聚集的有序度;(7)分形维数;.(8)生物大分子的分子参数(如旋转半径、分子量、粒子体积、水和度以及比表面等)和形状参数(如截面形状半

6、径、截面积、长度或厚度等),在溶液状态时大分子的构象和结构等。可测试分散相随时间、温度、热、电、力、光、化学条件下的动态变化等。小结X射线衍射(XRD)研究晶体结构,即原子尺寸上的排列,对象是固体。小角X射线散射(SAXS)研究亚微观结构和形态特征(远远大于原子尺寸的结构),对象是固体和液体。三.谱图分析h或q(nm-1)图3.1实测SAXS谱图(PP)散射矢量长周期(L)如何计算?(1)Lorentz校正:h2I(h)对h作图(2)谱图分析例子1——嵌段共聚物图3.2苯乙烯(PS)和异戊二烯(PI)二嵌段共聚物的电镜

7、照片当PI的含量小于22wt%时,PI呈球状微区分布在PS基体中;当PI的含量为22~39wt%时,PI呈圆柱状微区分散在PS基体;当PI和PB的含量为39~60wt%时,两者呈层状交替微区。球状、圆柱状和层状微区在空间中有规则地排列,具有长程有序。图3.3苯乙烯(PS)和异戊二烯(PI)二嵌段共聚物的散射曲线球状微区试样(SI-1~6)的图中显示多个散射峰,表明球状微区的大小和间距都较为均一和规整。图中前几个峰或肩(用实心箭头表注)是由粒子之间的干涉引起的,第一个峰相当于球状微区之间最邻近距离,即长周期。以SI-4试

8、样为例:四个峰相对位置(用实心箭头表注)的关系是:由此表明:PI球状微区在空间中以简单立方晶格或立方密堆砌规则地排列。用空心箭头表注的峰是孤立球粒子内的散射干涉。根据各散射峰位由下式计算球粒的半径R:i=1,2,3,…平均半径R=12.7nm。根据散射曲线尾部的强度分布由Porod公式计算界面厚度参数:以Inh4I(h)对h2作

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