gpsrtk技术在地籍与房地产测量中应用

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1、GPSRTK技术在地籍与房地产测量中应用摘要：随着我国科学技术水平的不断提高，我国地籍和房地产测量技术也得到了不断的提高，特别是GPSRTK技术在地籍和房地产测量中的应用，使得高精度、快速测定控制点的目标的以实现，本文针对GPSRTK技术在地籍和房地产测量中的应用进行一系列的探讨和分析，其观点仅供参考。关键词：GPSRTK技术地籍房地产测量应用我国地大物博，地质条件复杂，因此在进行地籍和房地产测量时面临着诸多的挑战，为了满足城市化发展需求，以及为其提供各种不同比例尺的地形测量技术，方便城市以及地方各部门进行土地规划所用。传统的侧图方法一般需要先布设首级控制网点，

2、然后再进行加密图根控制点，再对地物点和地形点在图上的位置按照一定的规律和符号绘制成地形图。显然这种传统技术已不能适应现在房地产和地籍发展的需求。1GPSRTK技术的概述1.1GPSRTK测量技术GPSRTK测量技术是建立在载波相位观测值基础上的实时动态定位系统，其配置包括基准站接收机、移动站接收机以及数据链三部分。基准站接收机只能安置在已知坐标的参考点上，其能够进行连续接收卫星信息，并将测站的坐标、观测值、卫星跟踪状态及接收机工作状态通过数据链传送出去，提供所需要的结果。1.2GPSRTK技术的特点首先，其应用范围广，RTK可以涵盖各种控制测量（公路控制测量、电

3、子线路控制测量、水利工程控制测量、大地测量），地形测图，施工放样，监理，GIS前端数据采集等诸多方面；其次，测量数据精度高，GPS不仅能够达到1：500图根控制测量的点位和高程精度要求，而且误差分布均匀，不存在误差积累问题.完全可以满足大比例尺测图的需要；第三，作业效率高，测量速度快，RTK控制测量操作简便，机动性强，可以大幅度提高测量速度。从首级控制到最终成图，实行一体化作业，减少了传统测量作业所需控制点数量和测量仪器的搬站次数，能够有效减轻作业人员的劳动强度；第四，处理能力强，数据采集时无需画草图，碎部点的记录特定格式存储有点名、编码，能被数字测图软件所识别

4、,在进行图形编辑时就能很好地处理。可以边走边获取测量成果或进行坐标放样；第五，操作上手快。RTK技术不要求两点间通视，只要满足"电磁波通视”，受通视条件、能见度、气候、季节等因素的影响和限制较小。而且只要在基准站和流动站设站时进行简单的设置，就可以边走边获取测量成果或进行坐标放样。如下图（1）为RTK实施相对定位示意图:图（1）为RTK实施相对定位示意图1.3GPS-RTK测量方法GPS-RTK测量方法分为无投影/无转换法和键入参数法,无投影/无转换法可以直接用接收机在基准站和流动站接收WGS-84坐标，其后利用观测的已知点的WGS-84坐标和相应的地方坐标根据

5、一定的数学模型进行转换；键入参数法可以用静态观测求得的WGS-84坐标和地方坐标键入到手簿中，进行转换，也可以置入静态观测平差时求取的转换参数。2GPSRTK技术在地籍和房地产测量中的应用1.1GPSRTK技术在地籍和房地产测量中应用过程在进行地籍和房地产测量时，首先进行基准站的选址，选择合理的场地是非常重要的；其次就是进行外业施测，这就要求有准确的立点，并且稳住中杆，画出草图；其作业时,要选择好坐标系、设置好投影参数、设置七参数和转换参数状态、设置基准站、进入“求转换参数”、重测P1或P2点坐标；最后，做好内业处理，用'‘测点成果输出”功能可以把RAT文件转换

6、为用户所需要的格式。1.2RTK用于一级导线测量一般常规控制测量有三角测量、导线测量，这些测量要求点间通视，这样就导致浪费时间，并且精度不均匀。而GPS静态、快速静态相对定位测量不需要点间通视就可以进行高精度地各种控制测量，但却需要一定的时间进行数据处理，但是经过内业处理之后，会发现精度不准确，需要进行反复测量。而RTK测量技术具有高精度的测量，其保证可以把20km内点位平面标称精度控制到±3cm,根据控制测量规范要求I级导线点的点位误差为±5cm,从理论上讲RTK测量完全可以满足I级以下导线点的技术规范要求。1.2RTK用于图根控制测量在进行地籍和房地产测量时

7、，要对图根点进行测量，确定RTK的定位精度达到固定解后方可进行测量。测量时按照一定的顺序进行一次测量，然后再按照相同顺序进行一次测量，两次的测量结果运用双观测法进行精度检核。1.3RTK用于界址点测量界址测量是地籍测量与房的测量精度完全满足对界址点测量的精度地产测量中关键环节，其可以确保地块的地理位置，也是量算宗地面积的基本数据。RTK,而且在使用RTK测量界址点时不仅可以免去测角测距的工作，而且还可以隔站观测，免受距离长短的限制。1.5GPSRTK技术在地籍和房地产测量GPSRTK技术在进行地籍和房地产测量时，与其他测量控制网基本相似，如测图控制点需要布置的很

8、密，但是精度却比一般测图