超声波芯片探伤仪的设计与实现 毕业论文

超声波芯片探伤仪的设计与实现 毕业论文

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1、编号:   专科毕业设计(论文)题目:超声波芯片探伤仪的设计与实现学院:机械工程学院专业:机电一体化技术姓名:学号:班级:指导教师:职称:完成日期:2012年6月[键入文字]摘要超声探伤技术是无损检测领域中的重要的方法,在冶金、勘探、生产控制,质量管理、和安全监测中有着广泛的应用。现在半导体生产工程中,超声波探伤起到了在低成本的基础上快速,准确的检测出缺陷的不可替代的作用。借助单片机体积小、成本低、可靠性高、运用灵活等特点,利用可擦除可编程逻辑器件(EPLD)的实时逻辑处理功能,并通过UO端口和高速处理能力,开发了一个数字化超声波脉冲反射式探伤仪。该仪器实

2、现了检测过程中的信号发射、接收、放大、噪声处理、数据采集、回波图形显示、缺陷判定、以及检测结果存储、回放和输出功能,解决了传统超声检测无记录等问题,减少了人为因素的影响。利用数字信号处理技术,提高了信噪比,提高了检测的可靠性。在超声波脉冲反射探伤仪开发中,采用了模块化的设计方案,提高了系统的易维护性;选用了低噪声、低漂移、高精度、高可靠性的集成电路芯片,提高了系统的可靠性;采用大屏幕的液晶显示器、中文菜单化的操作界面等,实现了良好的人机界面。该仪器具有检测精度高、结构简单、操作方便,成本低廉、体积小、重量轻等特点。关键词:超声波脉冲反射芯片探伤仪无损检测[

3、键入文字]AbstractUltrasonictestingisoneofimportantmethodofNDT(Non-destructiveTesting).Ithasbeenwidelyusedinmetallurgy,reconnoiter,productionqualitycontrolandsafetysupervising.Itisnon·substitutedinthesemiconductorfieldbecauseofhighspeedandhighaccuracy.ByusingMCU(MicrocomputerControlUni

4、ts)andEPLD(ErasableProgrammableLogicDevice),adigitizedultrasonicwavepulsereflectioncracketectionsystemisdeveloped.MCUhassmallvolume,lowprice,highdependability,andEPLDhaseasilyoperatingI/Oports,highspeedoperationability,whichcanrealizemostoffunctionssuchassignalemitting,incepting,m

5、agnifying,datacollectingandprocessing,displayinggraphics,determinantdefects.Thestorageproblemoftraditionalultrasonictestingsystemissolved,andsomeinfectionfactorsofhandlersarereduced.Invirtueoftechnologyofdigitalanalysisandprocessing,theSignal—to—Noiseisprogressed,andtestingreliabi

6、lityisimproved.Averygoodfoundationisestablishedfortheresearchofultrasonicimagetesting.Intheultrasonic-reflection-crack-detectionsystem,modularizationdesigningisusedtoincreasesystemmaintainability.Thesystemuseschipwithlowernoiseandexcursion,higherprecisionanddependabilitytoincrease

7、thestabilityofhardwaresystem.ThesystemalsohaslargeLCD,touchkeyboardandtheChineseoperationinterfacetomakeoperationeasier.Thoughthesystemhassuchstrongfunctions,ittillkeepspropertiesofsmallsize,simplestructureandlowcost.KEYWORDS:Ultrasonicwave,Pulsereflection,Chipdefectdetectioninstr

8、ument,NDT(Non—destructiveTesting)

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