bit技术的发展现状与应用分析

《bit技术的发展现状与应用分析》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在工程资料-天天文库。

1、兵工自动化摘要英译集2008年第04期2008-04题录英译集**********************************************************************************特别约稿我国弹药生产技术和装备发展现状及发展对策初探张方宇（中国兵器工业第五八研究所，四川绵阳621000）摘要：探讨我国弹药生产技术存在的问题，指出我国弹药生产技术与国外先进水平之间的差距，并针对性地提出推动我国弹药生产技术发展的对策和建议，包括发展支持行业发展的研发体系；运用自动化技术，推动弹药生产能力进步，提升弹药生产的安全性；强化技术创新，

2、推进生产工艺变革；开放思想，推进先进制造技术成果在弹药生产行业的应用。关键词：弹药生产；技术及装备；现状；发展对策ReseachonNationalAmmunitionTechnologyandEquipmentCurrentSituationandDevelopmentStrategyZHANGFang-yu(No.58ResearchinstituteofChinaOrdnanceIndustry,Mianyang621000,China)Abstract:Discusstheproblemsofammunitionmanufacturing,pointoutthe

3、gapbetweennationaltechnologyandforeignadvancedtechnolgyandputforwardthedevelopmentstrategy.Thestrategyincludesdevelopingthetechnologyresearchsystem;adoptingammunitionmanufacturingsafety;improvingtechnologyinnovationandmanufacturingtechnologytransforming;openningmindandpushingtheapplicati

4、onofadvancedmanufacturingtechnologyinammunitionmanufacturing.Keywords:Ammunitionmanufacturing;Technologyandequipment;Currentsituation;Developmentstrategy**********************************************************************************武器装备自动化BIT技术的发展现状与应用分析同江1，蔡远文2，伯伟1，任江涛1（1.装备指挥技术学院研究生

5、院，北京101416；2.装备指挥技术学院航天装备系，北京101416）摘要：BIT技术的性能主要从故障探测、故障定位（针对单一的外场可更换单元）、虚假警报、以及错误诊断等方面加以说明。对于正确隔离故障来说，BIT所制定的目标会随着BIT等级的不同而有所变化。BIT等级越低，正确隔离故障的总体能力就越低；BIT等级越高，正确隔离故障的总体能力就越高。关键词：机内测试（Built-InTest）；虚警；故障诊断；人工智能AnalysisofDevelopmentandApplicationofBITTechnologyTONGJiang1,CAIYuan-wen2,BOW

6、ei1,RENJiang-tao1(1.BrigadeofGraduate,InstituteofCommandandTechnologyofEquipment,Beijing101416,China;2.Dept.ofAerospaceEquipment,InstituteofCommandandTechnologyofEquipment,Beijing101416,China)Abstract:BITtechnologycapabilityisexplainedinareasoffaultdetecting,faultorientation(aimatoutfiel

7、dreplaceableunit),faultalarm,anderrordiagnosis.Accordingtotheisolationfault,BITtargetisdifferentbasedonBITgrade.IftheBITgradeislower,thegeneralisolationfaultabilityislower;iftheBITgradeishigher,thegeneralisolationfaultabilityishigher.Keywords:Built-intest(BIT);Faultalarm;