常用材料分析仪器

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1、为了适应公司新战略的发展,保障停车场安保新项目的正常、顺利开展,特制定安保从业人员的业务技能及个人素质的培训计划常用材料分析仪器  材料分析的方法及原理  一般材料的分析技術可以概分為結構分析(物性)與成份分析(化性)兩大類。其分析方法多利用一入射粒子束如電子束、離子束、光束及微探針等,與試片作用產生各種二次粒子後,偵測其作用後產生的訊號,來分析材料各項材料特性。一般常見的材料分析技術,不外乎想要得知試片的  表面或材料內部的顯微結構影像,此類的代表儀器包括掃描式電子顯微鏡、穿透式電子顯微鏡及原子力顯微鏡

2、等;  材料成份分析,此類的代表儀器包括X光能量散佈分析儀、表面化學分析儀、歐傑電子顯微鏡及二次離子質譜儀等;  材料結晶結構鑑定與分析,此類的代表儀器包括X光繞射分析儀及穿透式電子顯微鏡等。目的-通过该培训员工可对保安行业有初步了解,并感受到安保行业的发展的巨大潜力,可提升其的专业水平,并确保其在这个行业的安全感。为了适应公司新战略的发展,保障停车场安保新项目的正常、顺利开展,特制定安保从业人员的业务技能及个人素质的培训计划  常見的儀器有(1)光學顯微鏡(OpticalMicroscope,OM);(

3、2)掃描式電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope,SEM);(3)X光能譜分析儀(X-raySpectrometry);(4)穿透式電子顯微鏡(TransmissionElectronMicroscope,TEM);(5)聚焦式離子束顯微鏡(FocusedIonbeam,FIB);(6)X光繞射分析儀(X-rayDiffractometer,XRD);(7)掃描式歐傑電子顯微鏡(ScanningAugerMicroscope,SAM);(8)二次離子質譜儀(Secondaryio

4、nMassSpectrometry,SIMS);(9)拉塞福背向散射質譜儀(RutherfordBackscatteringSpectrometry,RBS);(10)全反射式X-光螢光分析儀  (TotalReflectionX-rayFluorescence,TXRF);(11)掃描穿隧顯微鏡(ScanningTunnelingMicroscope,STM);  (12)原子力顯微鏡(AtomicForceMicroscope,AFM)等。  各種分析儀器的基本原理  一般顯微鏡的系統,大多利用光學鏡

5、片或電磁透靜來偏折或聚焦帶能量的粒子束。再藉著粒子束與試片物質的作用,激發出各類二次粒子,偵測其二次粒子的能譜、質譜、光譜、或成像,即可分析材料的結構和各種特性。  X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射,主要有连续X射线和特征X射线两种。晶体可被用作X光的光栅,这些很大数目  的原子或离子/分子所产生的相干散射将会发生光的干涉作用,从而影响散射的X射线的强度增强或减弱。由于大量原子散射波的叠加,互相干涉而产生最大强度的光束称为X射线的衍射线。目的-通过该培训员工可对保安行业有初步了

6、解,并感受到安保行业的发展的巨大潜力,可提升其的专业水平,并确保其在这个行业的安全感。为了适应公司新战略的发展,保障停车场安保新项目的正常、顺利开展,特制定安保从业人员的业务技能及个人素质的培训计划  满足衍射条件,可应用布拉格公式:2dsinθ=λ应用已知波长的X射线来测量θ角,从而计算出晶面间距d,这是用于X射线结构分析;另一个是应用已知d的晶体来测量θ角,从而计算出特征X射线的波长,进而可在已有资料查出试样中所含的元素。  光學顯微鏡(OM)原理:利用可見光照射在試片表面造成局部散射或反射來形成不同

7、的對比,因為可見光的波長高達4000-7000埃,在解析度(或謂鑑別率、解像能,係指兩點能被分辨的最近距離)的考量上,自然是最差的。  STM原理:  TEM原理:  材料分析仪器发展方向  材料分析仪器在国民经济中发挥着重要的作用,可以促进科技创新、工业进步,支撑材料检测服务业发展。然而,目前我国材料分析仪器行业还表现出重复建设严重,市场恶性竞争加剧,科研成果产品转化率低;缺乏优秀人才,专业人员配套不够,质量和工艺设计较差,产业配套能力差等特点。  材料分析仪器在国民经济中发挥着重要的作用,可以促进科技

8、创新、工业进步,支撑材料检测服务业发展。XX年4月19日,在中国仪器仪表行业协会、中国仪器仪表学会分析仪器分会、仪器信息网联合主办的XX中国科学仪器发展年会(ACCSIXX)上,中航工业北京航空材料研究院检测中心党委书记宋晓辉就材料检测对科学仪器的最新需求和发展趋势作了介绍。目的-通过该培训员工可对保安行业有初步了解,并感受到安保行业的发展的巨大潜力,可提升其的专业水平,并确保其在这个行业的安全感。为了适应公司新战略的发展,保

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