实验四典型环节和系统频率特性地测量

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1、实用标准文案一、实验目的1、了解典型环节系和统的频率特性曲线的测量方法2、根据实验求得的频率特性曲线求取传递函数二实验设备1、THBDC-1型控制理论·计算机控制技术实验平台2、PC机一台（含“THBDC-1”软件）、USB数据采集卡、37针通信线1根、16芯数据排线、USB接口线三实验内容（1）惯性环节的频率特性测试R1=R2=100KC=1uFR0=200K闭环传递函数为=实验记录Bode图精彩文档实用标准文案理论计算数据（2）二阶系统OP1，惯性环节，；OP2，积分环节，；OP3，反相，（-1）；精彩文档实用标准文案可以得到：ωn=2.23

2、6ζ=1.118ωn=7.071ζ=0.3536实验记录波特图Rx=100K实验记录波特图Rx=10K精彩文档实用标准文案仿真结果：仿真波特图Rx=100K仿真波特图Rx=10K精彩文档实用标准文案校正前观察响应曲线为精彩文档实用标准文案精彩文档实用标准文案校正后串联一个惯性装置波特图校正前后对比精彩文档实用标准文案精彩文档实用标准文案思考题：1、根据上位机测得的Bode图的幅频特性，就能确定系统（或环节）的相频特性，试问这在什么系统时才能实现？必须在开环二阶系统中，而且只能确定最小相位系统。2、实验时所获得的性能指标为何与设计时确定的性能指标有

3、偏差？ 因为在设计时，很多计算采用的近似计算，同时实验时用的电阻元件参数与设计不完全一致。3.什么是超前校正装置和滞后校正装置，他们各利用矫正装置的什么特性对系统进行校正？ 答：超前校正装置用于改善系统的动态性能，实现在系统静态性能不受损的前提下，提高系统的动态性能。通过加入超前校正环节，利用其相位超前特性来增大系统的相位裕度，改变系统的开环频率特性。一般使校正环节的最大相位超前角出现在系统新的穿越频率点。而滞后校正装置则通过加入滞后校正环节，使系统的开环增益有较大幅度增加，同时又使校正后的系统动态指标保持原系统的良好状态。它利用滞后校正环节的低

4、通滤波特性，在不影响校正后系统低频特性的情况下，使校正后系统中高频段增益降低，从而使其穿越频率前移，达到增加系统相位裕度的目的。 精彩文档