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时间:2018-12-11
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1、材料与化学化工学院开放仪器设备委托测试须知仪器名称管理人/电话技术参数送样要求测试周期接样时间X射线衍射仪邓苗15884501719χ射线发生器:标定功率:4kW,管电压:10—60kV,稳定度:≤0.01%.X射线防护散射线计量:≤1μSv/h(X射线防护罩外), 测角仪:样品水平θ—θ,衍射圆半径:185mm,角度测量范围:3—80˚扫描速度:0.0012°—70°/min连续设定扫描方式:连续或步进扫描方式,θs—θd联动或θs、θd单动方式θs、θd角最快转动速度:1500˚/min最小步进角度:1/10000˚探
2、测器:正比(PC)或闪烁(SC)最大线性记数率:5×105CPS(带有漏计数补偿功能)能量分辨率:≤25%(PC)、≤50%(SC)计数方式:微分或是积分方式、自动PHA、死时间校正①粉末样品一般要求粒度在50微米左右;②固体样品要求待测面平整,长宽1*1cm左右。7天每周1,3激光共聚焦与原子力显微镜冯珊186028987891、激光共聚焦显微镜部分(LSM)包括光学显微镜和激光显微镜两部分。光学显微镜从样品上方照射可见光(波长约400nm到800nm)利用反射光成像,放大倍数可达十倍到一千倍左右。激光显微镜采用405nm
3、的短波长半导体激光、高数值孔径的专用物镜、以及独特的共焦光学系统,可以达到0.12μm的平面分辨率,还可实现高达4096×4096像素的高精度XY扫描。2、原子力显微镜部分(SPM)通过机械式地用探针在样品表面移动,检测出探针与样品之间产生的力、电的相互作用,同时进行扫描,获取图像。探针尖端曲率半径为10nm左右。SPM拥有多种观察模式,观察、测量样品表面形貌的同时,还可进行物性分析。OLS4500配有以下模式:接触模式、动态模式、相位模式、电流模式、表面电位模式和磁力模式。①尽可能告知样品种类、性质;②样品表面尽可能平整。
4、3天每周2,4X射线荧光仪孔芹158283415734KW薄窗,Rh靶,端窗型分析元素:B-U最大功率:60KV,140MA7天每周1,3上午扫描角度范围SC:0°-118°(2θ)FPC:7°-148°(2θ)连续扫描:0.1°-300°/m样品最大尺寸:∅50mm*H30mm不含挥发性、腐蚀性组分;粉末样品(干燥);块状样品直接测量也需干燥且不能超过样品最大尺寸,测定面需抛光。PEAA-800原子吸收光谱仪张玥/13550046019波长范围:185-900nm;氘灯背景校正:校正周期≤2ms,最大校正≥2.5Abs;火
5、焰法:5mg/L铜溶液,吸光度≥0.9A,RSD﹤0.5%;石墨炉温控:40-3000℃,最大升温速度≥2000℃/s;石墨炉检出限:Pb,0.2ug/L;火焰系统:铜元素≤0.01mg/L①固体样品:一般为粉碎过120目的样品,送样量一般为5-10克;特殊元素如Au需过200目,送样量一般为20克。②液体样品:需为清亮的溶液,测定火焰的酸度需≤2%,测定石墨炉的酸度需≤2‰固体样品两周后出结果,液体样品一周后出结果周一,三上午NETZSCHSTA409PC同步热分析仪张湘辉/15902801716炉体:SiC(室温-150
6、0℃);加热速率:0-50K/min;传感器:TG-DSC;TG-DTA;样品重量范围:0-5000mg;TG解析度:0.2μg;外置质量流量计,包含2路吹扫气和1路保护气。在不破坏晶体结构的前提下,样品最好研磨至200目,过筛;样品中吸附水较多的情况时,120度烘干处理(如果样品中结晶水的脱出与吸附水脱出叠加时,可以不处理);高分子材料可以是薄皮状。一周内周一、三、四、五下午NetzschDIL402PC热膨胀仪张湘辉/15902801716温度范围:RT-1300℃;升降温速率:0-50K/min;样品支架:石英支架(<
7、1100℃),氧化铝支架(<1600℃);测量范围:500/5000μm;样品长度:最大50mm;样品直径:最大12mm;ΔL分辨率:8nm。样品要求加工成圆柱型或长方体,长度:25mm;直径或宽度:6mm;两个断面光滑。一周内周一、三、四、五下午AFS-2202氢化物发生原子荧光光度计王艳艳/13408633734①检出能力(DL)As、Se、Te、Bi、Hg、Sb等元素≤0.09ng/mL冷原子方法测量Hg≤0.005ng/mL①上机的样品必须是溶液状态。②一周内周一、三上午Cd(需用特殊试剂)≤0.008ng/mLZn
8、(需用特殊试剂)≤9.0ng/mL②测量精度(RSD)50倍检出限浓度水平溶液测定RSD:优于2%③线性范围三个数量级。告知样品来源、种类、属性(如矿石、合金、硅酸盐、特种固熔体、高聚物等)。③送样时,对有毒性、腐蚀性、刺激性、挥发性的样品溶液,用户必须用密封容器装好,标签要有明显注释,并
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