车用MCU的抗EMI设计与测试方案.doc

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1、车用MCU的抗EMI设计与测试方案　　1引言　　随着集成电路集成度的提高，越来越多的元件集成到芯片上，电路功能变得复杂，工作电压也在降低。当一个或多个电路里产生的信号或噪声与同一个芯片内另一个电路的运行彼此干扰时，就产生了芯片内的EMC问题，最为常见的就是SSN（SimultaneousSwitchNoise，同时开关噪声）和Crosstalk（串音），它们都会给芯片正常工作带来影响。由于集成电路通过高速脉冲数字信号进行工作，工作频率越高产生的电磁干扰频谱越宽，越容易引起对外辐射的电磁兼容方面问题。基于以上情

2、况，集成电路本身的电磁干扰（EMI）与抗扰度（EMS）问题已成为集成电路设计与制造关注的课题。　　集成电路电磁兼容不仅涉及集成电路电磁干扰与抗扰度的设计和测试方法，而且有必要与集成电路的应用相结合。针对汽车电子领域来讲，将对整车级、零部件级的电磁兼容要求强制性标准，结合到集成电路的设计中，才能使电路更易于设计出符合标准的最终产品。作为电子控制系统里面最为关键的单元——微控制器（MCU），其EMC性能的好坏直接影响各个模块与系统的控制功能。　　本文在汽车电子MCU中采用抗EMI的设计方法，依据IEC61967传

3、导测试标准，对汽车电子MCU进行电磁干扰的测试。　　2汽车电子MCU设计方法　　下面介绍在汽车电子MCU中使用的可行性设计方法以及其他几种抗EMI设计技术。　　2.1时钟电路设计　　由于时钟电路产生的时钟信号一般都是周期信号，其频谱是离散的，离散谱的能量集中在有限的频率上。又由于系统中各个部分的时钟信号通常由同一时钟分频、倍频得到，它们的谱线之间也是倍频关系，重叠起来进而增大辐射的幅值，因此说时钟电路是一个非常大的污染源。　　针对汽车电子MCU数字前端设计，在抗EMI方面采用门控时钟的方法改进。任何时钟在不需

4、要时都应关闭，减低工作时钟引起的电磁发射问题。根据A8128（汽车电子MCU的型号）芯片系统功能设计要求，采用Run、Idle、Stop和Debug四种工作模式，在每一种工作模式下针对系统时钟、外设模块时钟进行适当门控。此外，还有几种在时钟方面常见的抗EMI的设计方法，包括：　　①降低工作频率　　MCU的工作时钟应该设定为满足性能要求所需的最低频率。从下面的测试结果可以看出，一个MCU的运行频率由80MHz变为10MHz，可以使频谱宽频范围内的干扰峰值产生几十dBμV的衰减，而且能够有效的降低功耗。　　②异步

5、设计　　异步电路工作没有锁定一个固有频率，电磁辐射大范围均匀分布而不会集中在特定的窄带频谱中。这一关键本质特征决定了即使异步电路使用大量的有源门电路，它所产生的电磁发射也要比同步电路小。　　③扩展频谱　　扩展频谱时钟是一项能够减小辐射测量值的技术，这种技术对时钟频率进行1%~2%的调制，扩散谐波分量，在CISPR16或FCC发射测试中峰值较低，但这并非真正减小瞬时发射功率。因此，对一些快速反应设备仍可能产生同样的干扰。扩展频谱时钟不能应用于要求严格的时间通信网络中，比如FDD、以太网、光纤等。　　2.2IO端

6、口设计　　在汽车电子MCU的输入输出端口设计中，也加入了抗EMI方案，包括翻转速率（slewratecontrol）和驱动强度（drivestrength）控制方法。通过在所有通用P口引入可配置的翻转速率和驱动强度寄存器，在需要的时候打开相应功能。翻转速率有打开和关闭两种选择，打开后能够有效地平缓上升沿或者下降沿，降低瞬态电流，进而控制芯片产生的电磁干扰强度。驱动强度有强驱动电流和弱驱动电流两种选择，在能够满足工作驱动强度的情况下，选择弱电流驱动会更好的控制电磁干扰现象。　　另外，基于GSMC180nm工艺库

7、，选择具有施密特触发特性的IO，可以有效地平缓输入信号中带进来的尖峰或者噪声信号等，对芯片的电磁抗扰度有所帮助。　　3汽车电子MCU测试方案　　IEC61967标准是国际电工委员会制定的有关集成电路电磁发射的标准，用于频率为150kHz到1GHz的集成电路电磁发射测试。标准中涉及到辐射和传导两类测试方法，由于传导方式的电磁干扰带给芯片应用上的影响更大一些，本次试验选取IEC61967-4直接耦合法进行测试。该方法又分为1Ω测试法和150Ω测试法，1Ω测试法用来测试接地引脚上的总干扰电流，150Ω测试法用来测试

8、输出端口的干扰电压。　　在测试时，需要在进行测试的电路中接入串联电阻为1Ω的电流探针（探针即为1Ω测试网络，已经集成在EMC测试板的芯片地端与PCB地平面之间），49Ω串联放置为了形成50Ω匹配，用接收机测量射频电流流经该电阻时产生的射频电压，所测得的电压应为所有流回到集成电路的射频电流在电流探头上产生电压的总和，测得的电压值可以换算为流过探针的电流，测试环境图如图1所示。　　　　图11Ω测试环境