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时间:2018-12-08
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1、资深工程师电源设计策略:如何避免传导EMI问题 大部分传导EMI问题都是由共模噪声引起的。而且,大部分共模噪声问题都是由电源中的寄生电容导致的。 我们着重讨论当寄生电容直接耦合到电源输入电线时会发生的情况 1.只需几fF的杂散电容就会导致EMI扫描失败。从本质上讲,开关电源具有提供高dV/dt的节点。寄生电容与高dV/dt的混合会产生EMI问题。在寄生电容的另一端连接至电源输入端时,会有少量电流直接泵送至电源线。 2.查看电源中的寄生电容。我们都记得物理课上讲过,两个导体之间的电容与导体表面积成正比,与二者之间的距离成反比。查看电路中的每个节点,并特别注意具有高dV/dt的节点。想想电
2、路布局中该节点的表面积是多少,节点距离电路板输入线路有多远。开关MOSFET的漏极和缓冲电路是常见的罪魁祸首。 3.减小表面面积有技巧。试着尽量使用表面贴装封装。采用直立式TO-220封装的FET具有极大的漏极选项卡(draintab)表面面积,可惜的是它通常碰巧是具有最高dV/dt的节点。尝试使用表面贴装DPAK或D2PAKFET取代。在DPAK选项卡下面的低层PCB上安放一个初级接地面板,就可良好遮蔽FET的底部,从而可显著减少寄生电容。 有时候表面面积需要用于散热。如果您必须使用带散热片的TO-220类FET,尝试将散热片连接至初级接地(而不是大地接地)。这样不仅有助于遮蔽FET,而
3、且还有助于减少杂散电容。 4.让开关节点与输入连接之间拉开距离。见图1中的设计实例,其中我忽视了这个简单原则。 图1.让输入布线与具有高dV/dt的节点靠得太近会增加传导EMI。 我通过简单调整电路板(无电路变化),将噪声降低了大约6dB。见图2和图3的测量结果。在有些情况下,接近高dV/dt进行输入线路布线甚至还可击坏共模线圈(CMC)。 图2.从电路板布局进行EMI扫描,其中AC输入与开关电路距离较近 图3.从电路板布局进行EMI扫描,其中AC输入与开关电路之间距离较大 您是否有过在显著加强输入滤波器后EMI改善效果很小甚至没有改善的这种遭遇?这很有可能是因为有一些
4、来自某个高dV/dt节点的杂散电容直接耦合到输入线路,有效绕过了您的CMC。为了检测这种情况,可临时短路PCB上CMC的绕组,并将一个二级CMC与电路板的输入电线串联。如果有明显改善,您需要重新布局电路板,并格外注意输入连接的布局与布线。
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