新型结构finfet及其在sram电路的应用

新型结构finfet及其在sram电路的应用

ID:28068261

大小:977.24 KB

页数:17页

时间:2018-12-07

新型结构finfet及其在sram电路的应用_第1页
新型结构finfet及其在sram电路的应用_第2页
新型结构finfet及其在sram电路的应用_第3页
新型结构finfet及其在sram电路的应用_第4页
新型结构finfet及其在sram电路的应用_第5页
资源描述:

《新型结构finfet及其在sram电路的应用》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在学术论文-天天文库

1、新型结构finFET及其在SRAM电路的应用摘要:随着半导体工艺不断发展,CMOS电路尺寸不断缩小,传统的体硅工艺已经很难再满足器件和电路的性能和功耗要求。近年来,一种新型器件结构Fin-typefield-effecttransistors(finFETs)越来越受到人们的关注,Intel的22nm工艺便采用了这种结构。现在流行的finFET又分力两种结构:independent-gatefinFET(TG~finERT)(又名shorted-gate(SG)finFETs)和tied-gatef

2、inFET(TG-finFET)。其中IG-finFET因其多变的工作方式在静态随机存储器(SRAM)电路屮受到青睐。RAM电路的数裾存储稳定性己经成为一个引人关注的问题。而利用IG-finFET多变的工作方式,基于IG-finFET的SRAM六管单元,能够减少静态和动态功耗,降低延迟,同时提高数据存储稳定性和集成度。关键字:IG-finfETTG-finfETSRAM功耗读取稳定性1新型器件结构的必要性和工艺实现CMOS工艺的发展主要体现在器件尺寸的不断减小上,而在此过程屮,不断增加的亚阈伉电流和

3、栅介质泄露电流成为了阻碍CMOS工艺进一步发展的主要因素。与传统的体硅MOSFET相比,finPET器件在抑制亚阈值电流和栅漏电流方面有着绝对的优势。finPET的双栅或半环栅和薄的体硅会抑制短沟效应,从而减小亚阈值漏电流。短沟效应的抑制和栅控能力的增强,使得finFET器件可以使用比传统更厚的栅氧化物。这样,finFET器件的栅漏电流也会减小。而且,HnFET器件的体硅一般是轻掺杂其至不掺杂的,因此,同传统的单栅器件相比,载流子迁移率将会得到提高。finFET器件取代传统体硅器件将是必然。finF

4、ETsforNanoscaleCMOSDigitalIntegratedCircuits一文对finFET器件的工艺流程进行了简单的介绍,如下所示:FinFETFabricationProcessFlowBOX•SOIsubstrate•Gate-dielectricformation•Gatedeposition+lithography•Active-areapatterning•Gateetch•Sidewall-spacerformation•HardmaskremovalSZDimplant

5、+annealSilicidation图1finFET器件的简单工艺流程可以看出,这种finFET工艺是在SOI的基础上进行的。其大概流程是这样的:首先是源漏及沟道的阁形定义;然后长栅氧和栅;再进行源漏注入和电极生长。可以看出,HnFET工艺流程与体硅器件相比也并不是很复杂。2finFET器件结构和电学特性这部分将对finEET器件的物理和电学特性做一个介绍。本文中的finEET均为对称结构,如图2所示。这是Independent-GateandTied-GateEinERTSRAMCircuits

6、:DesignGuidelinesforReducedAreaandEnhancedStability一文中提到的两种结构。GateBackGateDrainSourceI■■■了BackGate25.6nmL=32nm(c)tsi=8nm□Gate□Oxide■HeavilydopedSiELightlydopedSi图2:finFET结构(a)TG-finFET的3D模型。(b)IG-finFET的3D模型。(c)IG-finEET的俯视图(沟道长度32nm)。图2中(a)为TG-finFET,

7、它的栅是连为一体的,所以名叫tied-gatefinfET。(b)为IG-finFET,它的栅中间有绝缘体隔离,它的前栅(frontgate)和后栅(backgate)是独立的,互不干扰,所以叫independent-gatefinFEToFinEETCircuitDesign—文中也提到了类似的两种finfET。draingatesource图3:finFET结构(a)SG-HnFET的3D模型。(b)IG_finFET的3D模型。这篇文献把IG-finFET叫做shorted-gateFinFE

8、T,而且其IG-finFET也与前而提到的略有不同一一它的前后栅不是通过绝缘体隔离,而是直接去掉了顶部的栅,从而起到了隔离作川,但基本结构和原理是一致的。finFET的宽度W有垂直栅结构决定(见图2)。对于一•个只有一个fin的TG-finFET晶体管,它的最小宽度Wmin是Wmin=2XHfin+tsi这里,Hfin是finFET的fin的高度,tsi是体硅的厚度,如上图所示。Hfin是Wmin的主要决定因素,因为tsi总是很小。当晶体管不止拥育一个fin时,它的总

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文

此文档下载收益归作者所有

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文
温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,天天文库负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。