测控技术与仪器 毕业论文范文——基于MSP430单片机的测压系统设计

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1、基于MSP430单片机的测压系统设计摘要实现动态参数存储测试的技术关键在于研制能够在被测环境内正常工作的,对被测对象工作无影响或影响在允许范围内的数据采集与存储测试系统单片机比其它用于存储测试的芯片具有程序烧写容易、参数容易改变的特点。本课题主要研究用MSP430系列单片机实现一个小体积、低功耗的存储测试装置，详细的介绍了由于无需外加ADC以及外部的数据存储器，可使本测试系统中的数字部分达到很小的体积，最终使该装置能适用于压力的测试。关键字：MSP430F1612,存储测试,测压系统第51页共50页BasedonMSP430thePressureSystemDesig

2、nAbstract：Dynamicparametersoftheteststoragetechnologyisthekeytothedevelopmentmeasuredinthenormalworkenvironment,theworkhadnoeffectonthetestedobjectoreffectofallowingthetestdataacquisitionandstoragesystemsforstoragethanotherSCMtestChipproceduralprogrammingeasy,easytochangetheparametersof

3、thecharacteristics.ThemaintopicsonMSP430MCUwiththerealizationofasmallsize,low-powerteststoragedevices,asdetailedontheADCandwithoutadditionalexternaldatastorage,willenablethetestsysteminparttoaverysmallnumberofVolume,sothatthedeviceeventuallycouldapplytothepressuretest.Keyword:MSP430F161

4、2,Storagesystem,pressuretest1绪论1.1存储测试技术概述存储测试是指在对被测对象无影响或影响在允许范围的条件下，在被测体内置入微型存储测试仪，现场实时完成信息快速采集与存储，事后回收记录仪，由计算机处理和再现被测信息的一种动态测试技术。存储测试的主要技术特点是，现场实时快速采集记忆，事后回收处理再现。实现动态参数存储测试的技术关键在于研制能够在被测环境内正常工作的，对被测对象工作无影响或影响在允许范围内的数据采集与存储测试系统[1]。存储测试系统是为完成存储测试目的而设计的物理系统，它工作在高温，高压，强冲击振动，高过载等恶劣环境和紧凑设计

5、条件下，自动完成被测信息的实时采集与存储记忆。作为一个系统，存储测试系统具有整体性，目的性，层次结构等一般系统的基本特征[2]。它包括下列基本要素：(1)转换被测参数，并最小限度影响被测对象的传感器或信号接口模块;(2)快速数据采集与存储记忆器；第51页共50页(3)长时间信息保持单元；(4)与计算机交换信息的接口电路；(5)保持电路系统正常工作的环境保护器；(6)方便回收的位置指示器。存储测试系统的主要特点是：独立自动地完成动态数据采集与存储记忆，特别是能在多种恶劣环境和紧凑设计条件下完成动态参数测试，在军用民用两大领域具有广阔的应用前景。目前存储测试技术已经在许多

6、重大武器型号的研究，研制，生产，验收和使用中得到成功的应用，取得了一系列重要科研成果。此外，存储测试技术还在航空，航天，机械，电子等多个领域中得到应用[3-4]，解决了许多过去无法解决的重大测试难题，显示出突出的优越性。存储测试系统原理框图如下页图1.1所示：RSTRST移位寄存器③RSTRSTTRIGINTTRIGEXTTRI传感器,适配电路,滤波器及多路转换器①比较器及触发电路⑧延迟计数器⑨存储器WE④OE时基及控制电路高位地址发生器⑥SH及ADC②WR多重地址锁存器⑦低位地址发生器⑤接口电路图1.1存储测试系统原理框图随着大规模集成电路的发展，可以将CPU，RA

7、M，ROM，定时器/计数器以及输入/输出(I/O)接口电路等主要计算机部件集成在一块集成芯片上，即单片机。第51页共50页故其中存储测试系统的主体部分(图1.1中②③④⑤⑥⑦⑧⑨)可由单片机实现。1.2存储测试技术国内外研究情况及发展趋势存储测试技术是与现代科学技术密切联系的现代测试技术，存储测试的思想来源于电子计算机的信息存储，现代微电子学迅速发展，出现了中在规模CMOS存储器，使存储测试得以实现。随着集成水平的提高，存储测试系统的性能不断完善，应用的范围越来越宽，发挥的作用也越来越大。现代控制理论与技术的发展以及人工智能的研究成果，为存储测试技术