手机行业超级全面可靠性测试规范方案

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1、正气进取专业文件名称可靠性测试标准文件编号QZ/LCT-ZC09-2007版本V6.3拟制：综合测试部审核：质量管理部审核：质量策划部审核：第一产品事业部审核：第二产品事业部审核：三旗通信审核：国际业务事业部批准：产品质量总监文件说明发布日期2011-05-05意见同意同意同意同意同意同意同意同意主控部门综合测试部签名/日期李强斌2011.05.03姚凤贤2011.05.03沈平2011.05.03黄承梁2011.05.03常玉柱2011.05.03李志虎2011.05.03朱明里2011.05.03王一昌201

2、1.05.03质量中心-综合测试部可靠性实验室负责实施。版本号修改时间修改人修改原因修改主要内容V1.0V2.0V3.02005.09.05刘利2006.01.17刘利2006.04.04刘利新建更新更新软压由50kg改为40kg；滑盖测试后拆机测试FPC电阻增加高频振动、沙尘、滚筒跌落、酒精摩擦、铅笔硬度、胶塞拉力、和存储卡拆装等测试触摸屏划线次数由100000次（反复一个来回记为一次）改为V4.0V4.1V4.22006.05.30吴小弟更新2006.06.26吴小弟更新2006.08.30吴小弟更新10

3、0000次（反复一个来回记为2次）1.需测RF参数的测试项取消，综测仪设备不要2.中试阶段测试，由工程部提出申请改为由中试部提出申请3.增加包装振动测试和包装跌落测试项目增加触感键寿命测试项目第1页共58页正气、进取、专业质量体系文件V5.0V6.02006.09.10吴小弟更新2007.03.29吴小弟更新1.增加高低温运行中、恒温恒湿，跌落、高频振动、温度冲击、软压、滚筒跌落、重复跌落、扭曲测试前后进行RF参数测试；2.增加扭曲和冲击测试项目，增加5.2.4微动开关的寿命测试；3.5.3.2.6中增加橡胶漆塑胶

4、件和钢片材料的摩擦条件；4.环境测试（与温度及湿度相关的测试）后，手机在常温下统一放置1~2小时后进行外观、结构、功能的检验；5.增加7不良等级分类细则；1．低温储存：5.1.1.2测试条件中的持续时间由48hrs改为24hrs；温度由-30℃改为-40℃；2.高温储存：5.1.5.2测试条件中的持续时间由48hrs改为24hrs；3.冲击：5.1.3.2测试条件：脉冲持续时间6ms改为18ms；5.砂尘试验：5.1.14.2测试条件中的持续时间3hrs改为8hrs；6.充电器插拔：5.2.7.2测试条件：充电器、耳机和

5、数据线插拔各为2000次；7.耳机插拔：5.2.5.2测试条件：5000次改为2000次；8.SIM卡插拔：5.2.9.2测试条件：2500次改为1000次；9.储存卡拆装：5.2.10.2测试条件：3000次改为2000次；第2页共58页正气、进取、专业高低温储存：时间由24h，改为16h质量体系文件V6.12008.11.18陈贯中更新冲击：条件改为加速度25g，脉冲6ms，每个轴的冲击次数改为1000次冲击/恒温恒湿/温度冲击/自由跌落的测试样机数目：改为8pcs自由跌落：高度统一为1.2m，跌落面为混凝土板

6、面盐雾的试验条件变更为：共三个喷雾周期，每次喷雾2h，每次喷雾后有一个为期22h的湿热储存周期。储存条件为(40±2)℃,相对湿度为90％～95％翻盖标准：由5W次更新为8W次滑盖标准：由5W次更新为8W次按键寿命：由10W次改为20W次微动开关（hold键）寿命：由1W次改为2W次充电器插拔测试条件改为：3合一的充电器，充电器插拔2000次，数据线和耳机各1500次，共5000次电池盖拆装：由1000次改为500次存储卡拆装：由2000次改为500次SIM卡拆装：由1000次改为500次触摸屏点击测试：测试速率由2次/

7、S，改为1次/S五向键寿命：由3W次改为5W次重复跌落：跌落高度统一为8cm，跌落次数由20000次改为10000次摩擦测试：棱摩擦标准由150圈改为100圈；橡胶漆测试标准由140圈改为70圈百格：胶带的粘贴次数由2次改为3次铅笔硬度：载荷由1Kg改为0.5Kg滚筒：测试次数由1000次改为500次软压：测试标准由3000次改为2000次扭曲：测试标准由1000次改为500次增加人工汗液测试项第3页共58页正气、进取、专业质量体系文件V6.22010.06.07程雷更新1.增加包装重量和跌落高度的对应关系表2.

8、增加包装跌落测试手法,包括跌落棱/角/面的规定盐雾实验的样机测试后干燥条件改为:用吹风机吹干表面残留液体后放置与通风干燥处干燥48H修正笔误：4.1温度冲击测试（P10）:一处写12cycles，一处写循环4次，前后不一致4.2滑盖寿命测试（P15）：以40～45次/分的速率滑盖5万次＝>应该是8万次4.3五向键寿命