浅谈pcb飞针测试

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1、浅谈PCB飞针测试

2、第1飞针测试是一个检查PCB电性功能的方法（开短路测试）之一。　　飞测试机是一个在制造环境测试PCB的系统。不是使用在传统的在线测试机上所有的传统针床(bed-of-nails)界面，飞针测试使用四到八个独立控制的探针，移动到测试中的元件。在测单元(UUT,unitundertest)通过皮带或者其它UUT传送系统输送到测试机内。然后固定，测试机的探针接触测试焊盘(testpad)和通路孔(via)从而测试在测单元(UUT)的单个元件。测试探针通过多路传输(multiplexing)系统连接到驱动器(信号发

3、生器、电源供应等)和传感器(数字万用表、频率计数器等)来测试UUT上的元件。当一个元件正在测试的时候，UUT上的其它元件通过探针器在电气上屏蔽以防止读数干扰。　　飞针测试程式的制作的步骤：　　方法一　　第一：导入图层文件，检查，排列，对位等，再把两个外层线路改名字为fronrear.内层改名字为ily02,ily03,ily04neg(若为负片),rear,rearmneg。　　第二：增加三层，分别把两个阻焊层和钻孔层复制到增加的三层,并且改名字为fronmneg,rearmneg,mehole.有盲埋孔的可以命名为met01

4、-02.,met02-05,met05-06等。　　第三：把复制过去的fronmneg,rearmneg两层改变D码为8mil的round。我们把fronmneg叫前层测试点，把rearmneg叫背面测试点。　　第四：删除NPTH孔，对照线路找出via孔，定义不测孔。　　第五：把fron,mehole作为参考层,fronmneg层改为on,进行检查看看测试点是否都在前层线路的开窗处。大于100mil的孔中的测试点要移动到焊环上测试。太密的BGA处的测试点要进行错位。可以适当的删除一些多余的中间测试点。背面层操作一样。　　第六：

5、把整理好的测试点fronmneg拷贝到fron层，把rearmneg拷贝到rear层。　　第七：激活所有的层，移动到10,10mm处。　　第八：输出gerber文件命名为fron,ily02,ily03,ily04neg,ilyo5neg,rear,fronmneg,rearmneg,mehole，met01-02,met02-09,met09-met10层。　　然后用Ediapv软件　　第一：导如所有的gerber文件fron,ily02,ily03,ily04neg,ilyo5neg,rear,fronmneg,rearm

6、neg,mehole，met01-02,met02-09,met09-met10层。　　第二：生成网络。annotationofartaketestprograms按扭，输入不测孔的D码。　　第四：保存，第五：设置一下基准点，就完成了。然后拿到飞针机里测试就可以了。　　　　个人感觉：　　1、用这种方法做测试文件常常做出很多个测试点来，不能自动删除中间点。　　2、对孔的测试把握不好。在ediapv中查看生成的连通性（开路）测试点，单独的孔就没有测试点。又比如：孔的一边有线路，而另一边没有线路，按道理应该在没有线路的那一边对孔进行

7、测试。可是用ediapv转换生成的测试点是随机的，有时候在对有是后错。郁闷啊！　　3针对REAR面防焊没有开窗的可以将REAR层的名字命成其它名字，这样在EDIAPV中就不会莫明其妙的跑出测点来了。　　4如果有MEHOLE两面只有一面开窗，但是跑出来有两面都有测点的话，可以再按一次这个maketestprograms按扭，需要注意的是将光标定在MEHOLE这一层上方可。这样话就可以将防焊没有开窗的孔上的测点删除了。　　5以上的各层的名字千万不要命错了哦，不然的话后面你就有麻烦了。