水浸检测系统平探头与聚焦探头对gh738检测结果的影响分析工艺探讨—论

水浸检测系统平探头与聚焦探头对gh738检测结果的影响分析工艺探讨—论

ID:25368266

大小:2.42 MB

页数:5页

时间:2018-11-19

水浸检测系统平探头与聚焦探头对gh738检测结果的影响分析工艺探讨—论_第1页
水浸检测系统平探头与聚焦探头对gh738检测结果的影响分析工艺探讨—论_第2页
水浸检测系统平探头与聚焦探头对gh738检测结果的影响分析工艺探讨—论_第3页
水浸检测系统平探头与聚焦探头对gh738检测结果的影响分析工艺探讨—论_第4页
水浸检测系统平探头与聚焦探头对gh738检测结果的影响分析工艺探讨—论_第5页
资源描述:

《水浸检测系统平探头与聚焦探头对gh738检测结果的影响分析工艺探讨—论》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在工程资料-天天文库

1、水浸检测系统平探头与聚焦探头对GH738检测结果的影响分析刘路1范兴义罗顺明(1.中航检测安大分中心安顺561000)摘要:GH738材料因具有各方面的优异性能,已然成为军民用燃气涡轮发动机热端部件不可替代的关键材料。而进行超声波检测时往往会发现有单显和底波损失严重等问题。笔者现采用5MHz平探头与5MHz聚焦探头来对GH738材料进行底波检测和缺陷评定,通过分析数据,从而可以对材料作出正确的拒收/接收的结论。关键词:GH738材料、超声波检测、平探头与聚焦探头Analysisoftheeffectof

2、flatprobeandfocusedprobeonGH738detectioninwaterimmersiontestsystemLiuLu(1.AVICAndaTestingCentre,Co,LtdAnShun561000)Abstract:Becauseoftheexcellentperformance,GH738materialshasbecomethekeymaterialofgasturbineengine.Buttheultrasonictestingoftenwillfindasing

3、ledisplayandthelossofthewaveisserious.Nowtheauthoradoptsthe5MHzflatprobeand5MHzfocusedprobetotestGH738material,throughtheanalysisofthedata,wecangetacorrectrejection/receivedconclusiononthematerial.Keywords:GH738materialUltrasonictestingFlatprobeandfocuse

4、dprobe0前言随着科技的发展、质量检测要求的提高以及水浸超声检测的普及,分析水浸检测系统换能器对检测结果的影响非常必要。水浸法检测是将探头和试件全部或部分浸于水中,以水作为耦合剂,声波通过水进入试件进行检测的技术。图1为水浸法直射声束纵波检测的示意图。图1水浸法直射声束纵波检测的示意图水浸检测法通过运用聚焦声束的模式实现高灵敏度、高分辨率的检测要求,并且拥有比接触法更小的检测盲区以及更可靠的检测结果,避免了人为因素的检测影响,完成了自动化的检测。当下鉴于GH738材料经常出现的底波损失严重,检测频率

5、必须为5MHz。现采用5MHz平探头与5MHz聚焦探头来对GH738材料进行底波检测和缺陷评定,并进行数据分析,从而可以有针对性的对GH738检测反映出来的问题进行相应的探头选择提供可靠性参考。1检测原理水浸平探头相当于可在水中使用的纵波直探头,用于水浸法检测。在水浸平探头前加上声透镜则可产生聚焦声束,成为聚焦探头(如图2)。聚焦使声束在某一深度范围内直径变窄,声强增高,可提高局部区域的检测灵敏度与信噪比和横向分辨力,在C扫描检测中可以提高图像分辨率。图2聚焦探头与平探头声场示意图如图2所示,其中D为晶

6、片直径,R为聚焦透镜半径,F为焦距,L为焦程长度。在普通非聚焦探头的声场中,声束宽度约为换能器直径,且随着距离的增大逐渐加宽。由于声束穿过的多晶结构基体材料体积较大,声波遇到的散射体数量较多,相应引起散射噪声也较大,对于反射幅度较低的小缺陷,就会造成信噪比不足。而带有聚焦透镜的探头,由于透镜的聚焦作用,使焦点附近能量高度集中,因此,在焦区内可使小缺陷检测灵敏度提高,同时,由于声束变窄也使声场内组织散射信号减少,从而提高了检测信噪比。但是,聚焦探头高灵敏度范围有限,在聚焦区之外灵敏度和信噪比仍会变得很低。

7、聚焦探头能量较集中的聚焦声场主要由焦柱长度L和焦点直径∮两个参数决定,分别如式(1)和(2)表示:L=4λ(F/D)2…………………………………(1)∮=λF/D…………………………………(2)式中:λ为超声波波长,F为焦距,D为晶片尺寸。由上述两式可以看出,若要增大焦柱长度,则需增大焦距,减小晶片直径,但同时声束直径会增大。根据理论研究结果,聚焦探头焦点能量集中的效果在N/F值较大时为好。增加焦距减少晶片直径,就会使N/F减小,聚焦探头提高信噪比的能力减弱。通常由于聚焦探头焦柱直径远小于压电晶片直径,

8、利用焦柱区可准确测定缺陷尺寸。在缺陷的尺寸评定中,如果测出的尺寸不大于焦柱截面积,则测出的是焦柱区尺寸;如果测出的尺寸远大于焦柱尺寸,则测出的是缺陷尺寸。因此焦点尺寸越小缺陷的尺寸测量越准,但焦点尺寸越小检测效率越低,因此需要结合检测要求确定检测用探头参数。2试验过程和检测结果2.1不同形式探头的参数测量选取I7-0512-S平探头与I7-0512-G聚焦探头,由公式(1)和(2)可推算出聚焦探头的焦柱长度L=76.8mm和焦点直径∮=2.

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文

此文档下载收益归作者所有

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文
温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,天天文库负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。