摄影测量在变形测量中的应用及精度分析

《摄影测量在变形测量中的应用及精度分析》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在学术论文-天天文库。

1、摄影测量在变形测量中的应用及精度分析蒋燕飞田辉四川省建筑设计研究院四川成都610000摘要：摄影测量可快速获取信息、具有非接触性，高精度、可靠性等众多优点，被广泛用于工业、建筑学、边坡变形监测的众多基础研宄和应用研宄的各个方面。文章主要分析了摄影测量在变形测量中的应用及精度控制措施，以供参考。关键词：摄影测量在变形测量中的应用及精度0引言数字近景摄影测量是数字摄影测量与近景摄影测量的结合。数字近景摄影测量通过摄像设备以非接触测量的手段获取数字影像，对被测物进行识别、坐标量测，数据处理后得到其空间坐标。

2、数字近景摄影测量方法能在瞬间记录被摄物的空间位置及状态，能及时对边坡动态的变形进行科学分析，并将其动态变形的整个过程用电子数据及数字三维模型的形式作为档案长期保存下来，便于后期对工程进行分析、模拟等相关研究。1摄影测量技术概述数字近景摄影测量是基于近景摄影测量与数字摄影测量的基木原理，利用计算机技术，结合数字图像处理方法，模式识别、影像匹配等多学科的理论，用数学方式将研究IX域内点的信息提取出来的学科。数字近景摄影测量是摄影测量与遥感学科的一个分支。通过摄影手段以确定（地形以外）目标的外形和运动状态的

3、学科分支称为近景摄影测量。利用近景摄影测量方法，可以实现影像信息获取、影像处理、影像加工及其表达。近景摄影测量学在航空航天技术、影像传感器技术、计算机技术发展的基础上得到不断发展。通过摄影手段以确定目标外形的测量方法称为近景摄影测量。相机的姿态定位及数字照片的定位是近景摄影的关键技术，其定位方式直接关系到相机的成像精度。目前市场上技术成熟的非量测摄影系统有AICON公司的德通社-pro系统、德国GOM公司的TRITOP系统等。使用非量测摄影系统进行三维定位点构建时，经常使用形如图2所示的非编码点和编码

4、点的人工标识，方便于软件在定位解算时识别，是因为非量测摄影系统不具备专业量测摄影系统的定位桐标，无法进行相片的内方位元素和外方位元素的定位，二维图像重建广场空间是近景摄影测量的主要任务，这是图像形成的反过程。近景摄影测量中常用的坐标系统冇三种，对物体进行三维测量可以利用坐标变换和内、外方位定位及共线方程，能够解算出物方点坐标。由于对摄影精度要求较为苛刻，为了确保摄影精度，在近景摄影测量中，常常使用多重交向摄影技术对被测物体进行测量。通过一点多角度多次摄影，就能达到较高测量精度。多摄站式交向摄影。超过两

5、次对同一点的摄影，奋利于被测物体精度的提高和软件解算的稳定性。但是一般两次不同角度的重复摄影即可完成物方点的定位。对于TRITOP摄影系统按德国VDI/VDE2634标准方法检测精度可达0.0125mm/m。2摄影测量在变形测量中的应用近景摄影测量在实际成用时，通常将近景摄影仪放置在两个固定测点上，然后对边坡周围的目标点进行摄像，最后对拍摄好的影像做进一步的三维坐标处理。以下就近景摄影在边坡测量中的应用进行详细说明。2.1控制点在应用近景摄影技术对变形进行测量时，首要的准备工作是控制点的选择。对于控制

6、点选取，是有标准的，通常要求清晰度高，在测量时易于辨认。在实际测量时，应根据项0所在地的具体情况，在摄影深度之内，选取多个控制点，分别给予测量，然后对测量值进行对比，以确定最佳测距。由于控制点的材料会直接影响到控制点测量精度，所以，在测量时，应选取不冋材质的物体作为控制点。如在控制点选取时，将摄影深度距离最远设置为24m,最近设置为14m,在这个距离内选取两种材质的物体如瓷砖及纸质作为控制点，然后对它们进行测量，将测量结果作测距对比。测距对比之后，将测量误差小的材料选为控制点0标物。当控制点材料选好之

7、后，为了在测量吋便于确认，应做一定处理，如用红白漆涂抹。另外，不同的摄影深度，控制点大小也是不相同的，当摄影深度为20m吋，控制点大小应在10cm左右，才能满足测量效果。此外，在选取控制点吋，应将之前选好的物体均匀放置在测量范围内，不能摆放成平面或者斜面，更不能是一条直线，才能保证矩阵的最大秩大于参数个数。2.2外业摄影为了保证测量质量，测量方式应选为交向摄影方式，冋吋将石片和左片固定，才能保证每次测量吋外界条件一致，也提高了拍摄精度。所以，在测量时，拍摄位置应尽量简单、变化幅度小等特点。这样做，才能

8、保证拍摄的相片对称性好、旋转角小，并iL拍摄比例尺基本一致。根据周围实际情况尽量多架设几个摄站，摄站间距大致为摄距的1/12;还要尽量减少树木的遮挡，提高匹配效率。2.3拍摄结果处理首先，内业处理。当近景摄影测量完成之后，利用VirtuoZo软件对测量数据进行处理，可以得到不同基高比坐标中误差图形，也能计算出在同一基高下，不同摄像的精度对比，以及不同基高下的摄像对比结果等。其次，精度分析。分析指标主要有基高比、重叠度、自动定向个数及方向误差等。3摄影测量