自动检测技术实验指导书

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1、自动检测技术实验指导书何宁电信学院自动化系2008年7月目录实验一箔式应变片性能――单臂电桥@实验二箔式应变片三种桥路性能比较@实验三半导体应变片直流半桥测试系统@实验四差动变压器性能@实验五差动螺管式电感传感器位移测量实验六光纤位移传感器――位移测量@实验七霍尔式传感器的直流激励特性@实验八霍尔式传感器的交流激励特性实验九电涡流式传感器的静态标定@实验十被测材料对电涡流传感器特性的影响实验十一电容式传感器特性@实验十二电机测速实验电涡流传感器——转速测量光纤传感器－转速测量光电传感器的应用――光电转速测试实验一箔式应变片性能―

2、―单臂电桥一、实验目地：观察了解箔式应变片的结构及粘贴方式。测试应变梁变形的应变输出。比较各桥路间的输出关系。二、实验原理：本实验说明箔式应变片及单臂直流电桥的原理和工作情况。应变片是最常用的测力传感元件。当用应变片测试时，应变片要牢固地粘贴在测试体表面，当测件受力发生形变，应变片的敏感栅随同变形，其电阻值也随之发生相应的变化。通过测量电路，转换成电信号输出显示。电桥电路是最常用的非电量电测电路中的一种，当电桥平衡时，桥路对臂电阻乘积相等，电桥输出为零，在桥臂四个电阻R1、R2、R3、R4中，电阻的相对变化率分别为△R1／R1、

3、△R2／R2、△R3／R3、△R4／R4，当使用一个应变片时，；当二个应变片组成差动状态工作，则有；用四个应变片组成二个差动对工作，且R1＝R2＝R3＝R4＝R，。由此可知，单臂，半桥，全桥电路的灵敏度依次增大。三、实验所需部件：直流稳压电源（±4V档）、电桥、差动放大器、箔式应变片、测微头、（或双孔悬臂梁、称重砝码）、电压表。四、实验步骤：1．调零。开启仪器电源，差动放大器增益置100倍（顺时针方向旋到底），“＋、－”输入端用实验线对地短路。输出端接数字电压表，用“调零”电位器调整差动放大器输出电压为零，然后拔掉实验线。调零后

4、电位器位置不要变化。如需使用毫伏表，则将毫伏表输入端对地短路，调整“调零”电位器，使指针居“零”位。拔掉短路线，指针有偏转是有源指针式电压表输入端悬空时的正常情况。调零后关闭仪器电源。2．按图（1）将实验部件用实验线连接成测试桥路。桥路中R1、R2、R3、和WD为电桥中的固定电阻和直流调平衡电位器，R为应变片（可任选上、下梁中的一片工作片）。直流激励电源为±4V。＋4VRR2－4VR3R1WD＋－V图（1）测微头装于悬臂梁前端的永久磁钢上，并调节使应变梁处于基本水平状态。3．确认接线无误后开启仪器电源，并预热数分钟。调整电桥WD

5、电位器，使测试系统输出为零。4．旋动测微头，带动悬臂梁分别作向上和向下的运动，以水平状态下输出电压为零，向上和向下移动各5mm，测微头每移动0.5mm记录一个差动放大器输出电压值，并列表。（或在双孔悬臂梁称重平台上依次放上砝码，进行上述实验）。位移mm电压V根据表中所测数据计算灵敏度S，S＝△X／△V，并在坐标图上做出V－X关系曲线。五、注意事项：1．实验前应检查实验接插线是否完好，连接电路时应尽量使用较短的接插线，以避免引入干扰。2．接插线插入插孔时轻轻地做一小角度的转动，以保证接触良好，拔出时也轻轻地转动一下拔出，切忌用力拉

6、扯接插线尾部，以免造成线内导线断裂。3．稳压电源不要对地短路。实验二箔式应变片三种桥路性能比较一、实验原理：说明实际使用的应变电桥的性能和原理。已知单臂、半桥和全桥电路的∑R分别为△R/R、2△R／R、4△R／R。根据戴维南定理可以得出测试电桥的输出电压近似等于1/4·E·∑R，电桥灵敏度Ku＝V／△R／R，于是对应于单臂、半桥和全桥的电压灵敏度度分别为1/4E、1/2E和E.。由此可知，当E和电阻相对变化一定时，电桥及电压灵敏度与各桥臂阻值的大小无关。二、实验所需部件直流稳压电源（±4V档）、电桥、差动放大器、箔式应变片、测微

7、头、（或双孔悬臂梁、称重砝码）、电压表。三、实验步骤：1．在完成实验一的基础上，不变动差动放大器增益和调零电位器，依次将图（1）中电桥固定电阻R1、R2、R3换成箔式应变片，分别接成半桥和全桥测试系统。2．重复实验一中3－4步骤，测出半桥和全桥输出电压并列表，计算灵敏度。3．在同一坐标上描出V－X曲线，比较三种桥路的灵敏度，并做出定性的结论。四、注意事项：1．应变片接入电桥时注意其受力方向，一定要接成差动形式。2．直流激励电压不能过大，以免造成应变片自热损坏。3．由于进行位移测量时测微头要从零－→正的最大值，又回复到零，再－→负

8、的最大值，因此容易造成零点偏移，因此计算灵敏度时可将正△X的灵敏度与负的△X的灵敏度分开计算。再求平均值，以后实验中凡需过零的实验均可采用此种方法。实验三半导体应变计直流半桥测试系统一、实验目的：通过实际运用半导体单臂电路与半导体半桥电路进行性能比较。二、实验所