晶硅进料检验规范

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1、晶硅进料检验规范质量管理部晶硅进料检验规范（初稿）编制：审核：批准：发布日期：实施日期：19（共12页）晶硅进料检验规范质量管理部19（共12页）晶硅进料检验规范质量管理部1目的1.1为规范所有生产原材料进厂检验的标准，验证进厂原辅材料是否满足规定要求，正确地开展检验工作，确保未经检验或不合格的原辅材料不入库、不投入生产。2适用范围2.1与本公司产品有关的原辅材料、外调品等均适用。3术语3.1严重缺点：（CRITICALDEFECT）影响人身安全、产品安全的缺陷，违反相关法律法规要求。3.2主要缺点：(MAJORDEFECT)使

2、用后丧失其功能，或不能达到设计者所期望的目的、显著降低其实用性的缺陷。3.3次要缺点：(MINORDEFECT)不影响产品的使用性能，在使用和操作效果上无影响的缺陷。4职责4.1质量管理部：进料检验员负责原辅材料的检验及判定。4.2采购物流部：负责与供应商处理来料检验不合格事项及追踪不良改善效果。4.3调度中心：负责对质量管理部检验合格的产品清点数量后入库管理。5工作内容5.1抽样检验时取样原则依《抽样计划》规定要求执行。5.1.1外观检验依据《GB/T2828.1-2003/ISO2859-1:1999正常检验单次抽样计划表》

3、正常单次抽样。严重缺点：CR=0；主要缺点：MA(AQL)=0.40；次要缺点MI(AQL)=0.65进行检验。检验项目包装外观尺寸抽检比例AQL=0.65AQL=0.405样本/批缺陷类别次要缺点（MI）主要缺点（MA）主要缺点（MA）判定结果依AQL执行依AQL执行Ac=0,Re=119（共12页）晶硅进料检验规范质量管理部5.2外观检测条件:检验光源：一般日光灯光源之正下方30cm左右。距离：眼睛离被测物约20~50cm。角度：上下左右45度观察。检测位置：产品六个面均需检验。6技术规格及相关内容6.1产品外型检验要求及质

4、量等级分类。6.2正面印刷质量与反面印刷质量的检测与分类。6.3性能测试。19（共12页）晶硅进料检验规范质量管理部6.1：外型尺寸要求序号项目几何形状尺寸规格等级尺寸公差等级检验方式1长×宽正方形A级B级A级B级抽检156mm×156mm156mm×156mm边长±0.5mm；垂直度±0.3º边长±0.5mm垂直度±0.3º2倒角无1.0～1.5mm;45±10º1.0～1.5mm;45±10º无无抽检19（共12页）晶硅进料检验规范质量管理部3弯曲度无≤1.87mm（由于工艺的特点，对应电池片储存后弯曲度为1.5mm）1.8

5、7mm＜弯曲度≤2.5mm无无全检6.1.2：外观要求序号缺陷种类质量要求检验方式A级B级1缺角不允许有缺角，但保证正面四个角印刷框线完整全检2裂纹不允许不允许全检3V缺口不允许不允许全检19（共12页）晶硅进料检验规范质量管理部4非V缺口不允许尺寸≤0.5mm×1.0mm，总数≤5个全检5穿孔不允许不允许全检6正面崩边崩边深度≤0.5mm，长度≤1.0mm，总数不超过3个崩边深度≤0.5mm，长度≤1.0mm，3＜总数≤5个全检7颜色电池为深蓝、蓝色、浅蓝或浅浅蓝，目视均匀，色差面积≤1㎝2，不允许明显发黄电池为深蓝、蓝色、浅

6、蓝或浅浅蓝，1cm2＜色差面积≤2cm2，目视均匀全检8沾污无明显沾污不允许全检9划伤刮伤宽度≤1㎜，总长度≤10㎜，不允许破坏减反射层不允许全检10吸嘴小白圈无明显印迹不允许全检19（共12页）晶硅进料检验规范质量管理部11水纹无明显水纹不允许全检12斑点面积≤1.0mm2时，总数≤1个；面积≤0.2mm2时，总数≤5个；其余微型斑点，在正常检验情况下不明显即可1.0mm2＜面积≤2.0㎡全检19（共12页）晶硅进料检验规范质量管理部6.2：正面印刷质量序号检验项目质量要求检验方式1印刷偏移（左右偏移，角偏移）非MWTMWTA

7、级B级A级B级两边距离差≤0.5mm，栅线不能印刷到电池片边缘0.5mm＜两边距离差≤0.8mm，栅线不能印刷到电池片边缘两边距离差≤0.4mm，栅线不能印刷到电池片边缘，主栅交点与孔间距≤0.2mm0.4mm＜两边距离差≤0.6mm，栅线不能印刷到电池片边缘，0.2mm≤主栅交点与孔间距≤0.3mm全检19（共12页）晶硅进料检验规范质量管理部2正面主栅线缺损面积＜0.5mm×3mm，缺损处≤1个缺损面积＜0.5mm×3mm，个＜缺损处≤2个缺损面积＜0.4mm×0.4mm，缺损处≤1；边缘主栅与主栅第一个交点以外部分主栅不能

8、有断栅0.4mm×0.4mm＜缺损面积≤0.5mm×0.5mm，缺损处≤1，边缘主栅与主栅第一个交点以外部分主栅允许有1处断栅全检3次栅线断栅（MWT包括主栅）A级B级全检断栅长度≤0.5mm，断栅数≤3个，且不能在同一条栅线上,不能在平行且相邻三条栅线的同一个