GB-T8014.3-2005 铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法 第3部分：分光束显微镜法

《GB-T8014.3-2005 铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法 第3部分：分光束显微镜法》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在行业资料-天天文库。

1、ICS25.220.40U25荡黯中华人民共和国国家标准GB/T8014.3-2005代替GB/T8015.2-1987铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法第3部分:分光束显微镜法Anodizingofaluminiumanditsalloys-Themeasuringmethodofthicknessofanodicoxidecoatings-Part3:Split-beammicroscopemethod(ISO2128-1976(E),Anodizingofaluminiumanditsalloys-Determination

2、ofthicknessofanodicoxidecoatings-Non-destructivemeasurementbysplit-beammicroscope,MOD)2005-07-04发布2005-12-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布中国国家标准化管理委员会GB/T8014.3-2005前言GB/T8014(铝及铝合金阳极氧化膜厚度的测量方法》分为如下3个部分:—GB/T8014.1-2005铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法第1部分:测量原则—GB/T8014.2-2005铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度

3、的测量方法第2部分:质量损失法—GB/T8014.3-2005铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法第3部分:分光束显微镜法本部分为GB/T8014的第3部分。本部分修改采用ISO2128:1976《铝及铝合金阳极氧化一氧化膜厚度测定一分光束显微镜无损测定法)}(英文版)，并根据ISO2128:1976重新起草。本部分与ISO2128:1976的差异体现在编写格式方面。为方便比较，在资料性附录A中列出了本部分章条和对应的国际标准章条的对照一览表。本部分代替GB/T8015.2-1987(铝及铝合金阳极氧化膜厚度的试验方法分光束显微法》

4、，本部分与GB/T8015.2-1987的差异体现在编写格式方面。本部分系无损检测方法。本部分的附录A为资料性附录。本部分由中国有色金属工业协会提出。本部分由全国有色金属标准化技术委员会归口。本部分负责起草单位:北京有色金属研究总院。本部分参加起草单位:深圳华加日铝业有限公司、广东坚美铝型材厂有限公司。本部分主要起草人:朱祖芳、李永丰、熊进平、戴悦星、谭群燕、章吉林。本部分由全国有色金属标准化技术委员会负责解释。本部分所代替历次版本标准发布情况为:—GB/T8015.2-19870GB/T8014.3-2005铝及铝合金阳极氧化氧化膜

5、厚度的测量方法第3部分:分光束显微镜法范围本部分规定了用分光束显微镜测定铝及铝合金阳极氧化膜厚度的无损测定方法。本部分适用于膜厚大于10Km的一般工业用氧化膜，或膜厚不小于5pm的表面平滑的氧化膜。本部分不适用于深色氧化膜或表面粗糙的氧化膜。方法原理在分光束显微镜中，一束狭长平行光线(L)倾斜地人射全氧化膜表面，通常入射角取45'(如图1所示)。光束的一部分R,在氧化膜的外表面反射出来，另一部分光束R:穿过氧化膜并在金属与氧化膜的界面上反射出来。R:经历了两次折射。这样，在视区可得到两条平行亮线，两平行线间距离正比于氧化膜的厚度及仪器

6、的放大倍数。两条平行线的间距也与氧化膜的折射率及仪器的几何形状有关。氧化膜金属当人射角及测量仪器的物镜光轴与试样表面夹角均为45。时，氧化膜厚度可以按公式(1)计算:。=e了2矛一1=2.04,'········，·····················⋯⋯(1)式中:e氧化膜真实的厚度单一测量值，单位为微米(Km);『—仪器测得的厚度，单位为微米(V-);n-氧化膜的折射率(一般为1.59-1.62)0术语、定义GB/T8014.1确立的以及下列术语、定义适用于本部分。阳极权化膜的局部厚度Iocalthicknessofanodi

7、coxidecoating在考察面积内，至少取10点对膜厚进行单一测量，测得结果的算术平均值称为阳极氧化膜的局部厚度。仪器专用分光束显微镜，通常用于测量透明膜厚及表面粗糙度。该仪器用阳极氧化膜的标样进行校准，该标样的膜厚事先已用横截面显微法加以确定。1GB/T8014.3-20055测f5.1按仪器生产厂家提供的说明书进行测量。5.2测量不同点的膜厚时，转动螺旋测微鼓，使十字格架从一条线移动至另一条线。有些仪器还可调节放大倍数，使鼓轮上的读数与真实的厚度单一测量值相对应。5.3在考察面积内，至少取10点对膜厚进行单一测量。6计算6.1

8、计算所得单一测量值的算术平均值。6.2每个单一测量值相对于算术平均值的允许偏差为士10%.6.3异常值个数不得超过总测量点数的300o，并且异常值在计算平均值时必须舍去，同时应另测两次，并将该两个测量结果(无论是否出现异