硬件产品测试报告(样本)

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时间:2018-10-29

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1、CXXXX测试报告(功能测试)1.测试设备名称型号版本号控制板CPXXX1.0产品形状规格2.测试目的序号内界1验证XXX网络是否满足要求2验证板级硬件设计功能能否实现3验证XXXXX架构XX与XX之间双U1XX通讯机制XX给XX以实现XX上电白举4验证XX外围设备能否实现5验证XX外闹设备能否实现6验证XXX外围设备能否实现3.测试用品:1.1仪器序号仪器名称厂牌型号1人于XX的XX电源2大于XX的XXX电源3XXX转换器(简称转换器)XXXX4XX仿真器(简称仿真器)XX5XX烧写器(简称烧写器)XXX6XXX器XXX1.2上微机软件名称版本号厂家XXX12.

2、0XXXXXXXXXX5.2XXXXXX><父><调试工具XXXXXXXXX浏览器1.3线路板烧写文件名称文件名对应芯片XXX烧写文件exXXTMXXXXXX烧写文件XXXEP4XXXXXX引导文件XXXXXX烧写文件XXXF28XXX1.电源测试4.1测试方法:1)将XXX电源连接到XXXXXX电源连接到XXX,以上步骤简称‘上电2)用XXX器在各电源对应测试点上测M其XXX。4.2测试条件:1)常温;2)芯片正常运行。4.3测试结果:项目测试点测量位精度结果波形XXXVC231和XXXXXXXXXVXXXV测试者:日期:2.采样电路测试4.1测试方法:1)XX

3、X板上电;2)在板载接口对应位a接入倍号源;3)川XXX器测量板上对应测试点XXX;4.2测试结果:信号名信号接入点测试点输入XXX有效值(XXX)测试点XXX有效位(XXX)误差XXX形ADX4:AIO和XXX0110-1-10ADINX4:C6All和XXX0110-1-10110-1-100.512.53测试者:日期:1.xxx上电自举6.1测试方法:1)XXX板上电;2)在XXX环境卜,选择XXX,出现下载界而;3)选择XXX打丌XXX,选择XXX,烧写完成沿,重新给XXX板上电;以上步骤XXX为‘烧写XXX4)观察指示灯XXX是否闪烁6.2测试结果:项H

4、预计结果实际结果结果XXX自举XXX闪烁XXX闪烁0K2.xxx测试7.1测试方法:1)XXX板上电;2)在程序中设定XXX为输入,输入波形作为XXX输!II,输入为XXX方波,烧写XXX;3)用XXX器测量板上对成测试点波形;4)比较测试波形是否与设定一致;7.2测试结果:信号测试点(参考地为GND)设定波形测试点波形参数波形结果XXXX3:C20100K,50%98K,50%OKXXXX3:A20100K,50%98K,50%OKXXXX3:C19100K,50%98K,50%OK3.双口xxx测试8.1测试方法:1)XXX板上电;2)在XXX中设定XXX读写

5、时序,向双口XXX全地址空间写入数椐,写入完成活读取双口XXX中的数据,判断足否与写入数据一致;3)在XXX中设定XXX读写吋序,向双口XXX全地址空间写入数据,写入完成后读取双L1XXXM中的数裾,判断是否与写入数据一致;8.2测试结果:项目写入数据读取数裾足否一致结果XXXB读写双口RAM100〜199100~199是0KXXX读写双口XXX100〜199100〜199是0K4.C6xxx9.1测试方法:1)XXX板上电;1)烧写XXX;2)将F28XXX烧写到FXXX中;3)将C6XXX写入F28XXX内部FLXXX4)程序运行,如果BOOTXXX,则指示灯

6、LEXXX闪烁9.2测试结果:项H预计结果实际结果结果C6QOOBOOTXXXLXXX4闪烁LXXX闪烁OK1.外部AD测试10.1测试方法:1)线路板上电;2)在CCXXX环境下,通过仿真器向C67XXX写入AXXX读写程序;3)在外部AXXX输入接口加入电平信号,运行程序,在CCXX>Op读取采样值。10.2测试结果:信号信号接入点接入信号幅值(V)AD采样值结果ADINC0X4:A610OxlFFF-100x2000ADINC1X4:C610OxlFFF-100x2000ADINC2X4:A810OxlFFF-100x200011.XXX输出测试11.1测试

7、方法:1)XXX板上电;2)在C6XXX调试程序屮设定DA输出值,用示波器在对极测试点处测景输出XXX是否与设定一致;VOUT=2.XXX+1.875*2.5((NA-5XXX)/10XXX4)+(2XXX/XXX6)KNB-12XXX)/2XXX61AOUT=2VOUT-2.511.2测试结果:信号测试点设定输出值NA:NB测试点实测值结果AOUTOX4:C280:128-4.66OKAOUT1X4:A280:128-4.66OK12.Cxxx10测试12.1测试方法:1)※※※板匕电;2)IXXX输出测试:在C67XXX调试程序中设定10输出电平,用示波器在对

8、应测试点处

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