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时间:2018-10-29
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1、扫描电镜在材料表面形貌观察及成分分析中的应用一、实验目的1)了解扫描电镜的基本结构和工作原理,掌握扫描电镜的功能和用途;2)了解能谱仪的基本结构、原理和用途;3)了解扫描电镜对样品的要求以及如何制备样品。二、实验原理(一)扫描电镜的工作原理和结构1.扫描电镜的工作原理扫描电镜是对样品表面形态进行测试的一种大型仪器。当具有一定能量的入射电子束轰击样品表面时,电子与元素的原子核及外层电子发生单次或多次弹性与非弹性碰撞,一些电子被反射出样品表面,而其余的电子则渗入样品中,逐渐失去其动能,最后停止运动,并被样品吸收。在此过程中有
2、99%以上的入射电子能量转变成样品热能,而其余约1%的入射电子能量从样品中激发出各种信号。如图1所示,这些信号主要包括二次电子、背散射电子、吸收电子、透射电子、俄歇电子、电子电动势、阴极发光、X射线等。扫描电镜设备就是通过这些信号得到讯息,从而对样品进行分析的。 图1 入射电子束轰击样品产生的信息示意图从结构上看,扫描电镜主要由七大系统组成,即电子光学系统、探测、信号处理、显示系统、图像记录系统、样品室、真空系统、冷却循环水系统、电源供给系统。由图2我们可以看出,从灯丝发射出来的热电子,受2-30KV电压加速,经两个聚
3、光镜和一个物镜聚焦后,形成一个具有一定能量,强度和斑点直径的入射电子束,在扫描线圈产生的磁场作用下,入射电子束按一定时间、空间顺序做光栅式扫描。由于入射电子与样品之间的相互作用,从样品中激发出的二次电子通过收集极的收集,可将向各个方向发射的二次电子收集起来。这些二次电子经加速并射到闪烁体上,使二次电子信息转变成光信号,经过光导管进入光电倍增管,使光信号再转变成电信号。这个电信号又经视频放大器放大,并将其输入到显像管的栅极中,调制荧光屏的亮度,在荧光屏上就会出现与试样上一一对应的相同图像。入射电子束在样品表面上扫描时,因二
4、次电子发射量随样品表面起伏程度(形貌)变化而变化。 故视频放大器放大的二次电子信号是一个交流信号,用这个交流信号调制显像管栅极电,其结果在显像管荧光屏上呈现的是一幅亮暗程度不同的,并反映样品表面起伏程度(形貌)的二次电子像。应该特别指出的是:入射电子束在样品表面上扫描和在荧光屏上的扫描必须是“同步”,即必须用同一个扫描发生器来控制,这样就能保证样品上任一“物点”样品A点,在显像管荧光屏上的电子束恰好在A’点即“物点”A与“像点” A’在时间上和空间上一一对应。通常称“像点”A’ 为图像单元。显然,一幅图像是由很多图像单元
5、构成的。 扫描电镜除能检测二次电子图像以外,还能检测背散射电子、透射电子、特征x射线、阴极发光等信号图像。其成像原理与二次电子像相同。 在进行扫描电镜观察前,要对样品作相应的处理。扫描电镜样品制备的主要要求是:尽可能使样品的表面结构保存好,没有变形和污染,样品干燥并且有良好导电性能。三、能谱仪结构及工作原理特征X射线,X射线探测器X射线能量色散谱分析方法是电子显微技术最基本和一直使用的、具有成分分析功能的方法,通常称为X射线能谱分析法,简称EDS或EDX方法。它是分析电子显微方法中最基本、最可靠、最重要的分析方法,所以一
6、直被广泛使用。1.特征X射线的产生特征X射线的产生是入射电子使内层电子激发而发生的现象。即内壳层电子被轰击后跳到比费米能高的能级上,电子轨道内出现的空位被外壳层轨道的电子填入时,作为多余的能量放出的就是特征X 射线。高能级的电子落入空位时,要遵从所谓的选择规则(selection rule),只允许满足轨道量子数l 的变化Δl=±1 的特定跃迁。特征X 射线具有元素固有的能量,所以,将它们展开成能谱后,根据它的能量值就可以确定元素的种类,而且根据谱的强度分析就可以确定其含量。另外,从空位在内壳层形成的激发状态变到基态的过
7、程中,除产生X射线外,还放出俄歇电子。一般来说,随着原子序数增加,X射线产生的几率(荧光产额)增大,但是,与它相伴的俄歇电子的产生几率却减小。因此,在分析试样中的微量杂质元素时可以说,EDS 对重元素的分析特别有效。2. X射线探测器的种类和原理对于试样产生的特征X 射线,有两种展成谱的方法:X 射线能量色散谱方法(EDS:energy dispersive X-ray spectroscopy)和X射线波长色散谱方法(WDS:wavelength dispersive X-ray spectroscopy)。在分析电子
8、显微镜中均采用探测率高的EDS。从试样产生的X 射线通过测角台进入到探测器中。图示为EDS 探测器系统的框图。对于EDS 中使用的X 射线探测器,一般都是用高纯单晶硅中掺杂有微量锂的半导体固体探测器(SSD:solid state detector)。SSD是一种固体电离室,当X 射线入射时,室中就产生与这个X 射线
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